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公開番号2024123279
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-09-11
出願番号2021082817
出願日2021-05-14
発明の名称スイッチ装置およびフロントエンド回路
出願人株式会社村田製作所
代理人
主分類H03K 17/693 20060101AFI20240904BHJP(基本電子回路)
要約【課題】不整合損失を低減しつつ、導通抵抗による信号の損失を低減可能なスイッチ装置を提供する。
【解決手段】スイッチ装置は、共通端子Panと、端子Ps10と端子Ps101との導通を切り替えるスイッチ回路1と、端子Ps20と端子Ps201との導通を切り替えるスイッチ回路2と、端子300のうち少なくとも1つと端子Ps30との導通を切り替えるスイッチ回路3とを備える。端子Ps10と端子Ps101とを結ぶ経路、端子Ps20と端子Ps201とを結ぶ経路、端子Ps30と複数の端子300とを結ぶ複数の経路にそれぞれ配置されたスイッチ素子E100を含む。スイッチ素子E100は、スタックされた1以上の半導体素子から構成されており、スイッチ回路2におけるスイッチ素子E121の半導体素子のスタック数は、スイッチ回路1におけるスイッチ素子E111の半導体素子のスタック数よりも少ない。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
共通端子と、
第1端子と第2端子とを有し、前記第1端子と前記第2端子との導通と非導通とを切り替える第1スイッチ回路と、
第3端子と第4端子とを有し、前記第3端子と前記第4端子との導通と非導通とを切り替える第2スイッチ回路と、
第5端子と複数の第6端子とを有し、前記複数の第6端子のうち少なくとも1つと前記第5端子との導通と非導通とを切り替える第3スイッチ回路と、
を備え、
前記第1端子と前記第3端子とは、前記共通端子に接続され、
前記第5端子は、前記第4端子に接続されており、
前記第1スイッチ回路と、前記第2スイッチ回路と、前記第3スイッチ回路とは、前記第1端子と前記第2端子とを結ぶ第1経路、前記第3端子と前記第4端子とを結ぶ第2経路、前記第5端子と前記複数の第6端子とを結ぶ複数の第3経路にそれぞれ配置された第1スイッチ素子を含み、
前記第1スイッチ素子は、スタックされた1以上の半導体素子を含み、
前記第2スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の前記半導体素子のスタック数は、前記第1スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の前記半導体素子のスタック数よりも少ない、
スイッチ装置。
続きを表示(約 1,200 文字)【請求項2】
前記第1スイッチ回路と、前記第3スイッチ回路とは、前記第1経路とグランドとを結ぶ経路および前記複数の第3経路とグランドとを結ぶ経路にそれぞれ配置された第2スイッチ素子をさらに含み、
前記第1スイッチ回路の前記第2スイッチ素子は、前記第1スイッチ回路の前記第1スイッチ素子と、前記第2端子との間に配置されており、
前記第3スイッチ回路の前記第2スイッチ素子は、前記第3スイッチ回路の前記第1スイッチ素子と、前記第6端子との間に配置されており、
前記第1スイッチ素子と前記第2スイッチ素子とは排他的に動作する、請求項1に記載のスイッチ装置。
【請求項3】
前記第2スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の前記半導体素子のスタック数は、前記第3スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の前記半導体素子のスタック数よりも少ない、請求項1または2に記載のスイッチ装置。
【請求項4】
前記第1スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の前記半導体素子のスタック数は、前記第3スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の前記半導体素子のスタック数と等しい、請求項1~3の何れか1項に記載のスイッチ装置。
【請求項5】
前記第2スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の前記半導体素子のスタック数は1である、請求項1~4の何れか1項に記載のスイッチ装置。
【請求項6】
前記第1スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の前記半導体素子のスタック数は、前記第2スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の前記半導体素子のスタック数と、前記第3スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の前記半導体素子のスタック数との和より小さい、請求項1~5の何れか1項に記載のスイッチ装置。
【請求項7】
前記第2スイッチ回路における前記第3端子と前記第4端子とが非導通である場合、前記第3スイッチ回路における前記第5端子と前記複数の第6端子とは非導通である、請求項1~6の何れか1項に記載のスイッチ装置。
【請求項8】
前記第1スイッチ素子は、FETスイッチである、請求項1~7の何れか1項に記載のスイッチ装置。
【請求項9】
前記第2スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の半導体素子のゲート幅は、前記第1スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の半導体素子のゲート幅、および、前記第3スイッチ回路における前記第1スイッチ素子の半導体素子のゲート幅の少なくとも一方のゲート幅よりも大きい、請求項8に記載のスイッチ装置。
【請求項10】
前記第2スイッチ回路は第1スイッチ素子のみで構成されている、請求項1~9の何れか1項に記載のスイッチ装置。
(【請求項11】以降は省略されています)

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、スイッチ装置に関し、より特定的には、複数の通信バンドの高周波信号を通信する高周波フロントエンド回路に利用可能なスイッチ装置に関する。
続きを表示(約 2,900 文字)【背景技術】
【0002】
近年、移動体通信機等の通信端末は、小型化と共に1台の通信端末で複数の通信バンドに対応することが求められている。
【0003】
これを実現するため、例えば特許文献1に記載の高周波用のモジュールは、スイッチ素子、および、複数種類のフィルタを備えている。スイッチ素子は、アンテナに接続されるアンテナ側の接続端子と、フィルタ側に接続される複数のフィルタ側端子とを備える。高周波モジュールは、スイッチ素子において複数のフィルタ側端子がアンテナ側の接続端子に選択的に接続されることにより、複数の通信バンドを選択的に通信可能にする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2014-050098号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
特許文献1に記載の高周波用のモジュールでは、通信バンドの数が多くなるにつれて、スイッチ回路(スイッチ素子)によって切り替え可能な端子の数も増加する。これに伴い、スイッチ回路の共通端子とグランドとの間に生じる容量であるストレー容量が大きくなるため、通信バンドの数が多くなると不整合損失が大きくなるおそれがある。
【0006】
このような不整合損失を低減するために、スイッチ回路を複数段に接続(カスケード接続)する構成が考えられる。しかし、この構成では、スイッチ回路の段数の増加に伴って導通抵抗による信号の損失が大きくなるという別の課題が発生してしまう。
【0007】
そこで、本発明の目的は、不整合損失を低減しつつ、導通抵抗による信号の損失を低減可能なスイッチ装置およびフロントエンド回路を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明のスイッチ装置は、共通端子と、第1端子と第2端子とを有し、第1端子と第2端子との導通と非導通とを切り替える第1スイッチ回路と、第3端子と第4端子とを有し、第3端子と第4端子との導通と非導通とを切り替える第2スイッチ回路と、第5端子と複数の第6端子とを有し、複数の第6端子のうち少なくとも1つと第5端子との導通と非導通とを切り替える第3スイッチ回路と、を備える。第1端子と第3端子とは、共通端子に接続され、第5端子は、第4端子に接続されており、第1スイッチ回路と、第2スイッチ回路と、第3スイッチ回路とは、第1端子と第2端子とを結ぶ第1経路、第3端子と第4端子とを結ぶ第2経路、第5端子と複数の第6端子とを結ぶ複数の第3経路にそれぞれ配置された第1スイッチ素子を含む。第1スイッチ素子は、スタックされた1以上の半導体素子から構成されており、第2スイッチ回路における第1スイッチ素子の半導体素子のスタック数は、第1スイッチ回路における第1スイッチ素子の半導体素子のスタック数よりも少ない。
【発明の効果】
【0009】
本発明によれば、不整合損失を低減しつつ、導通抵抗による信号の損失が抑制可能である。
【図面の簡単な説明】
【0010】
第1の実施形態に係る高周波フロントエンド回路の回路図である。
第1の実施形態に係るスイッチ装置の回路図である。
第1の実施形態に係るスイッチ装置を半導体素子を用いて示した回路図である。
比較例1に係るスイッチ装置の回路図である。
第1の実施形態におけるインピーダンスを示す第1のスミスチャートである。
第1の実施形態におけるインピーダンスを示す第2のスミスチャートである。
第1の実施形態におけるインピーダンスを示す第3のスミスチャートである。
第1の実施形態におけるスイッチ装置の挿入損失を示す第1のグラフである。
第1の実施形態におけるスイッチ装置の挿入損失を示す第2のグラフである。
第1の実施形態におけるスイッチ装置の挿入損失を示す第3のグラフである。
比較例2に係るスイッチ装置の回路図である。
比較例2に係るスイッチ装置を半導体素子を用いて示した回路図である。
第1の実施形態に係る半導体素子を詳細に示した第1の図である。
第1の実施形態に係る半導体素子を詳細に示した第2の図である。
第1の実施形態に係る半導体素子を詳細に示した第3の図である。
第1の実施形態に係るスイッチ回路と比較例2に係るスイッチ回路との挿入損失を示すグラフである。
変形例に係るスイッチ装置を備える高周波フロントエンド回路の回路図である。
変形例に係る高周波フロントエンド回路の挿入損失を示す第1のグラフである。
変形例に係る高周波フロントエンド回路の挿入損失を示す第2のグラフである。
変形例に係る高周波フロントエンド回路の挿入損失を示す第3のグラフである。
変形例に係る高周波フロントエンド回路の挿入損失を示す第4のグラフである。
変形例に係る高周波フロントエンド回路の挿入損失を示す第5のグラフである。
変形例に係る高周波フロントエンド回路の挿入損失を示す第6のグラフである。
変形例に係る高周波フロントエンド回路の挿入損失を示す第7のグラフである。
変形例に係る高周波フロントエンド回路の挿入損失を示す第8のグラフである。
変形例に係る高周波フロントエンド回路の挿入損失を示す第9のグラフである。
比較例3に係るスイッチ装置を備える高周波フロントエンド回路の回路図である。
第2の実施形態に係る高周波フロントエンド回路の回路図である。
ストレー容量と損失との関係を説明するための第1のスミスチャートである。
ストレー容量と損失との関係を説明するための第2のスミスチャートである。
ストレー容量と損失との関係を説明するための第3のスミスチャートである。
ストレー容量と損失との関係を説明するための第1のグラフである。
ストレー容量と損失との関係を説明するための第2のグラフである。
ストレー容量と損失との関係を説明するための第3のグラフである。
整合回路の効果を説明するための第1の回路図である。
整合回路の効果を説明するための第2の回路図である。
整合回路の効果を説明するための第3の回路図である。
整合回路の効果を説明するための第4の回路図である。
整合回路の効果を説明するための第1のスミスチャートである。
整合回路の効果を説明するための第1のスミスチャートである。
整合回路の効果を説明するための第1のスミスチャートである。
整合回路の効果を説明するための第1のスミスチャートである。
【発明を実施するための形態】
(【0011】以降は省略されています)

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