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公開番号2024099210
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-07-25
出願番号2023002983
出願日2023-01-12
発明の名称光コヒーレンストモグラフィ装置、その制御方法、及びプログラム
出願人株式会社トプコン
代理人個人
主分類A61B 3/10 20060101AFI20240718BHJP(医学または獣医学;衛生学)
要約【課題】フルレンジ画像を取得するための新たな技術を提供する。
【解決手段】光コヒーレンストモグラフィ装置は、光スキャナと、干渉光学系と、分解能変更部と、制御部と、を含む。干渉光学系は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、光スキャナにより偏向された測定光を被測定物に照射し、被測定物からの戻り光と参照光との干渉光を検出する。分解能変更部は、被測定物においてBスキャン方向に隣接するAスキャン位置の間隔に基づいて、測定光のBスキャン方向の光学的分解能を変更する。制御部は、光スキャナ及び分解能変更部を制御すると共に、Bスキャン中に参照光の光路長と測定光の光路長との差をAスキャン毎に変更するように干渉光学系を制御する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
光スキャナと、
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記光スキャナにより偏向された前記測定光を被測定物に照射し、前記被測定物からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
前記被測定物においてＢスキャン方向に隣接するＡスキャン位置の間隔に基づいて、前記測定光の前記Ｂスキャン方向の光学的分解能を変更する分解能変更部と、
前記光スキャナ及び前記分解能変更部を制御すると共に、Ｂスキャン中に前記参照光の光路長と前記測定光の光路長との差をＡスキャン毎に変更するように前記干渉光学系を制御する制御部と、
を含む、光コヒーレンストモグラフィ装置。
続きを表示（約 1,200 文字）【請求項２】
前記Ａスキャン位置の間隔をΔｘとし、前記被測定物における前記測定光の光束径をｄとしたとき、前記制御部は、（Δｘ／ｄ＜π／８）を満たすように前記分解能変更部を制御する
ことを特徴とする請求項１に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項３】
前記分解能変更部は、前記測定光の光束径を変更する
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項４】
前記分解能変更部は、前記測定光の光路に配置され、焦点距離を変更可能なズームレンズを含み、
前記制御部は、前記ズームレンズを制御する
ことを特徴とする請求項３に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項５】
前記分解能変更部は、前記測定光の光路に配置され、当該光路に沿って移動可能な可変焦点レンズを含み、
前記制御部は、前記可変焦点レンズを制御する
ことを特徴とする請求項３に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項６】
前記分解能変更部は、互いに焦点距離が異なる複数のレンズを含み、
前記制御部は、前記複数のレンズの１つを前記測定光の光路に選択的に配置するように前記分解能変更部を制御する
ことを特徴とする請求項３に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項７】
前記複数のレンズは、前記Ｂスキャン方向に直交する方向の曲率が実質的にゼロである円柱レンズを含む
ことを特徴とする請求項６に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項８】
前記分解能変更部は、前記測定光の絞りサイズを変更可能な可変絞りを含み、
前記制御部は、前記可変絞りを制御する
ことを特徴とする請求項３に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項９】
前記分解能変更部は、前記測定光の光路に配置され、当該光路に沿って移動可能な合焦レンズを含み、
前記制御部は、前記合焦レンズを制御する
ことを特徴とする請求項３に記載の光コヒーレンストモグラフィ装置。
【請求項１０】
光スキャナと、
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記光スキャナにより偏向された前記測定光を被測定物に照射し、前記被測定物からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
前記測定光のＢスキャン方向の光学的分解能に基づいて前記被測定物において前記Ｂスキャン方向に隣接するＡスキャン位置の間隔を変更するように前記光スキャナを制御すると共に、Ｂスキャン中に前記参照光の光路長と前記測定光の光路長との差をＡスキャン毎に変更するように前記干渉光学系を制御する制御部と、
を含む、光コヒーレンストモグラフィ装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
この発明は、光コヒーレンストモグラフィ装置、その制御方法、及びプログラムに関する。
続きを表示（約 2,400 文字）【背景技術】
【０００２】
近年、レーザー光源等からの光ビームを用いて被測定物の表面形態や内部形態を表す画像を形成する光コヒーレンストモグラフィ（ＯｐｔｉｃａｌＣｏｈｅｒｅｎｃｅＴｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）が注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴ（ＣｏｍｐｕｔｅｄＴｏｍｏｇｒａｐｈｙ）のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。例えば眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成したり、眼軸長等の眼内距離を計測したりするＯＣＴ装置が実用化されている。
【０００３】
このようなＯＣＴにより取得された被測定物の画像（断層画像、ＯＣＴ画像）には、様々なアーチファクトが描出されることが知られている。特に、スペクトラルドメインＯＣＴ（ＳｐｅｃｔｒａｌＤｏｍａｉｎＯＣＴ：ＳＤ－ＯＣＴ）、スウェプトソースＯＣＴ（ＳｗｅｐｔＳｏｕｒｃｅＯＣＴ：ＳＳ－ＯＣＴ）等のフーリエドメイン（ＦｏｕｒｉｅｒＤｏｍａｉｎＯＣＴ：ＦＤ－ＯＣＴ）を用いて取得された画像には、複素共役アーチファクト（ゴーストイメージ、ミラーイメージ）が描出される。複素共役アーチファクトは、被測定物に照射された測定光の光路長が参照光の光路長と等しいゼロディレイ位置に対して実像の反対側に現れる虚像である。複素共役アーチファクトにより、観察可能な深さ方向のレンジが制限される。複素共役アーチファクトを除去することで、被測定物の深部の観察や広角の観察が可能になる。
【０００４】
このような複素共役アーチファクトを除去する方法の１つに、位相シフト法を用いて複素干渉スペクトルを復元するフルレンジＯＣＴがある。このような位相シフト法を用いたフルレンジＯＣＴを実現する手法が、例えば、非特許文献１、非特許文献２、及び非特許文献３に開示されている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００５】
Ｙ．Ｙａｓｕｎｏｅｔａｌ．， “ＳｉｍｕｌｔａｎｅｏｕｓＢ－Ｍ－ｍｏｄｅｓｃａｎｎｉｎｇｍｅｔｈｏｄｆｏｒｒｅａｌ－ｔｉｍｅｆｕｌｌ－ｒａｎｇｅＦｏｕｒｉｅｒｄｏｍａｉｎｏｐｔｉｃａｌｃｏｈｅｒｅｎｃｅｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ”，ＡＰＰＬＩＥＤＯＰＴＩＣＳ，２００６年３月１０日，Ｖｏｌ．４５，Ｎｏ．８，ｐｐ．１８６１－１８６５
Ｂ．Ｂａｕｍａｎｎｅｔａｌ．， “Ｆｕｌｌｒａｎｇｅｃｏｍｐｌｅｘｓｐｅｃｔｒａｌｄｏｍａｉｎｏｐｔｉｃａｌｃｏｈｅｒｅｎｃｅｔｏｍｏｇｒａｐｈｙｗｉｔｈｏｕｔａｄｄｉｔｉｏｎａｌｐｈａｓｅｓｈｉｆｔｅｒｓ”，ＯＰＴＩＣＳＥＸＰＲＥＳＳ，２００７年１０月１日，Ｖｏｌ．１５，Ｎｏ．２０，ｐｐ．１３３７５－１３３８７
Ｓ．Ｍａｋｉｔａｅｔａｌ．， “Ｆｕｌｌ－ｒａｎｇｅ，ｈｉｇｈ－ｓｐｅｅｄ，ｈｉｇｈ－ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ，１－μｍｓｐｅｃｔｒａｌ－ｄｏｍａｉｎｏｐｔｉｃａｌｃｏｈｅｒｅｎｃｅｔｏｍｏｇｒａｐｈｙｕｓｉｎｇＢＭ－ｓｃａｎｆｏｒｖｏｌｕｍｅｔｒｉｃｉｍａｇｉｎｇｏｆｔｈｅｈｕｍａｎｐｏｓｔｅｒｉｏｒｅｙｅ”，ＯＰＴＩＣＳＥＸＰＲＥＳＳ，２００８年６月９日，Ｖｏｌ．１６，Ｎｏ．１２，ｐｐ．８４０６－８４２０
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
非特許文献１～非特許文献３に開示されている位相シフト法を用いたフルレンジＯＣＴを実現する場合、被測定物に照射する撮影光（測定光）の横分解能より細かい間隔でラテラル方向にＡスキャンを実行する必要がある。
【０００７】
しかしながら、位相変調が十分ではない場合、スキャンデータのサイズが大きくなるだけで複素共役アーチファクトを十分に除去できない場合がある。
【０００８】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的の１つは、フルレンジ画像を取得するための新たな技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
実施形態の１つの態様は、光スキャナと、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記光スキャナにより偏向された前記測定光を被測定物に照射し、前記被測定物からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、前記被測定物においてＢスキャン方向に隣接するＡスキャン位置の間隔に基づいて、前記測定光の前記Ｂスキャン方向の光学的分解能を変更する分解能変更部と、前記光スキャナ及び前記分解能変更部を制御すると共に、Ｂスキャン中に前記参照光の光路長と前記測定光の光路長との差をＡスキャン毎に変更するように前記干渉光学系を制御する制御部と、を含む、光コヒーレンストモグラフィ装置である。
【００１０】
実施形態の別の態様は、光スキャナと、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記光スキャナにより偏向された前記測定光を被測定物に照射し、前記被測定物からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、前記測定光のＢスキャン方向の光学的分解能に基づいて前記被測定物において前記Ｂスキャン方向に隣接するＡスキャン位置の間隔を変更するように前記光スキャナを制御すると共に、Ｂスキャン中に前記参照光の光路長と前記測定光の光路長との差をＡスキャン毎に変更するように前記干渉光学系を制御する制御部と、を含む、光コヒーレンストモグラフィ装置である。
（【００１１】以降は省略されています）

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