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公開番号
2025154630
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-10-10
出願番号
2024057740
出願日
2024-03-29
発明の名称
積層セラミック電子部品
出願人
TDK株式会社
代理人
前田・鈴木国際特許弁理士法人
主分類
H01G
4/30 20060101AFI20251002BHJP(基本的電気素子)
要約
【課題】温度特性を良好に維持しつつサーマルクラックの発生を抑制した積層セラミック電子部品を提供すること。
【解決手段】誘電体層と内部電極層とが積層されてなる積層セラミック電子部品である。内部電極層のうち積層方向に沿って最も外側にある内部電極層を第1内部電極層とする。第1内部電極層におけるMn濃度が他の内部電極層におけるMn濃度よりも高い。
【選択図】図4
特許請求の範囲
【請求項1】
誘電体層と内部電極層とが積層されてなる積層セラミック電子部品であって、
前記内部電極層のうち積層方向に沿って最も外側にある内部電極層を第1内部電極層として、前記第1内部電極層におけるMn濃度が他の内部電極層におけるMn濃度よりも高い積層セラミック電子部品。
続きを表示(約 700 文字)
【請求項2】
前記内部電極層のうち、前記第1内部電極層よりも内側にありギャップ対応部を有する内部電極層を第2内部電極層とし、
前記第2内部電極層よりも内側にありギャップ対応部を有さない内部電極層を第3内部電極層とし、
前記第1内部電極層におけるMn濃度をC1、前記第2内部電極層の前記ギャップ部におけるMn濃度をC2A、前記第3内部電極層におけるMn濃度をC3として、
C3<C2A<C1を満たす請求項1に記載の積層セラミック電子部品。
【請求項3】
C1/C3が2.5以上4.0である請求項2に記載の積層セラミック電子部品。
【請求項4】
前記第2内部電極層の前記ギャップ対応部以外の部分におけるMn濃度をC2Bとして、C2A/C2Bが1.5以上3.0以下である請求項2に記載の積層セラミック電子部品。
【請求項5】
C1/C2Aが1.2以上2.0以下である請求項2に記載の積層セラミック電子部品。
【請求項6】
前記誘電体層のうち前記積層方向に沿って前記第1内部電極層より内側にある誘電体層を内部誘電体層として、前記内部誘電体層の厚みが3.0um以上15um以下である請求項1~5のいずれかに記載の積層セラミック電子部品。
【請求項7】
前記内部電極層の積層数が50以上300以下である請求項1~5のいずれかに記載の積層セラミック電子部品。
【請求項8】
前記誘電体層がCa、Sr、Zr、TiおよびOを含む請求項1~5のいずれかに記載の積層セラミック電子部品。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、積層セラミック電子部品に関する。
続きを表示(約 1,000 文字)
【背景技術】
【0002】
特許文献1には、積層セラミックコンデンサに関する発明が記載されている。具体的には、最外層内部電極と、その外側に位置する最外誘電体セラミック層と、の境界にMgとMnとを含有する境界層が形成されることでセラミック積層体への水分の侵入を抑制、防止できることが記載されている。
が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2014-232896号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明は、温度特性を良好に維持しつつサーマルクラックの発生を抑制した積層セラミック電子部品を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
上記の目的を達成するために、本発明に係る積層セラミック電子部品は、
誘電体層と内部電極層とが積層されてなる積層セラミック電子部品であって、
前記内部電極層のうち積層方向に沿って最も外側にある内部電極層を第1内部電極層として、前記第1内部電極層におけるMn濃度が他の内部電極層におけるMn濃度よりも高い積層セラミック電子部品である。
【0006】
前記内部電極層のうち、前記第1内部電極層よりも内側にありギャップ対応部を有する内部電極層を第2内部電極層とし、
前記第2内部電極層よりも内側にありギャップ対応部を有さない内部電極層を第3内部電極層とし、
前記第1内部電極層におけるMn濃度をC1、前記第2内部電極層の前記ギャップ部におけるMn濃度をC2A、前記第3内部電極層におけるMn濃度をC3として、
C3<C2A<C1を満たしてもよい。
【0007】
C1/C3が2.5以上4.0であってもよい。
【0008】
前記第2内部電極層の前記ギャップ対応部以外の部分におけるMn濃度をC2Bとして、C2A/C2Bが1.5以上3.0以下であってもよい。
【0009】
C1/C2Aが1.2以上2.0以下であってもよい。
【0010】
前記誘電体層のうち前記積層方向に沿って前記第1内部電極層より内側にある誘電体層を内部誘電体層として、前記内部誘電体層の厚みが3.0um以上15um以下であってもよい。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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