TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
10個以上の画像は省略されています。
公開番号
2025067115
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-04-24
出願番号
2023176831
出願日
2023-10-12
発明の名称
多層光学薄膜の薄膜形成装置および方法およびプログラムおよび記憶媒体
出願人
株式会社オプトラン
代理人
個人
,
個人
主分類
C23C
14/24 20060101AFI20250417BHJP(金属質材料への被覆;金属質材料による材料への被覆;化学的表面処理;金属質材料の拡散処理;真空蒸着,スパッタリング,イオン注入法,または化学蒸着による被覆一般;金属質材料の防食または鉱皮の抑制一般)
要約
【課題】多層光学薄膜の各層において複数の制御方式から最適な制御方式を自動的に選択することができるので、多層光学薄膜の製造において、オペレータの負担を軽減しつつ統計的に最も設計に近い成膜を可能とする、薄膜形成装置及び薄膜形成方法を提供する。
【解決手段】成膜対象基板上に多層光学薄膜を形成する際に、前記成膜対象基板を透過したモニタ光を受光して得られた受光信号に応じて前記成膜対象基板上に薄膜の成膜を制御する制御部が、前記多層光学薄膜の成膜動作の前に、前記多層光学薄膜における各層の成膜のシミュレーションを、複数の制御モードで行い、前記シミュレーションの結果に基づいて、前記各層ごとに前記複数の制御モードの中から最適な制御モードを自動的に選択し、前記選択された最適な制御モードにより、前記多層光学薄膜の各層の成膜制御を実行する構成となっている。
【選択図】図4
特許請求の範囲
【請求項1】
成膜対象基板上に多層光学薄膜を形成する薄膜形成装置であって、
前記成膜対象基板を透過したモニタ光を受光して得られた受光信号に応じて前記成膜対象基板上に薄膜の成膜を制御する制御部を有し、
前記制御部が、
前記多層光学薄膜の成膜動作の前に、前記多層光学薄膜における各層の成膜のシミュレーションを、複数の制御モードで行い、
前記シミュレーションの結果に基づいて、前記各層ごとに前記複数の制御モードの中から最適な制御モードを自動的に選択し、
前記選択された最適な制御モードにより、前記多層光学薄膜の各層の成膜制御を実行する多層光学薄膜の薄膜形成装置。
続きを表示(約 1,400 文字)
【請求項2】
前記制御部が、前記各層ごとに行われた前記シミュレーションの評価を行い、その評価結果に応じて前記複数の制御モードの中から最適な制御モードを選択する請求項1に記載の薄膜形成装置。
【請求項3】
前記シミュレーションの評価が、前記制御部において所定の評価関数を用いて行われる請求項2に記載の薄膜形成装置。
【請求項4】
前記シミュレーションの評価が、複数種類の評価関数から選択された評価関数によって行われる請求項3に記載の薄膜形成装置。
【請求項5】
前記最適な制御モードは、前記評価関数の平均値が所定の層の前記制御モードごとに算出され、最も誤差が小さい制御モードが選択される請求項3あるいは4に記載の薄膜形成装置。
【請求項6】
前記制御部において、前記シミュレーションが前記多層光学薄膜における第1層目から最終層まで終了すると、前記シミュレーションの評価の結果である各層の最適制御モードが保存される請求項1から5のいずれかに記載の薄膜形成装置。
【請求項7】
前記制御部は、前記多層光学薄膜の成膜実行の指示入力に基づいて、前記保存された前記各層の最適制御モードにより、前記多層光学薄膜の各層の成膜制御を実行する請求項6に記載の薄膜形成装置。
【請求項8】
成膜チャンバ内に配置された成膜材料供給部から供給される成膜材料が成膜されて薄膜の多層膜が形成される成膜対象基板にモニタ光を投光する投光部と、
前記成膜対象基板を透過した前記モニタ光を受光して受光信号を出力する受光部と、
成膜中の基板温度を測定する温度測定部と、
前記受光信号に応じて前記成膜対象基板の光透過率を取得し、取得した光透過率情報に関連付けて薄膜の成膜を制御する制御部と、を有し、
前記制御部が、
前記多層光学薄膜の成膜動作の前に、前記多層光学薄膜における各層の成膜のシミュレーションを、複数の制御モードで行い、
前記シミュレーションの結果に基づいて、前記各層ごとに前記複数の制御モードの中から最適な制御モードを自動的に選択し、
前記選択された最適な制御モードにより、前記多層光学薄膜の各層の成膜制御を実行する多層光学薄膜の薄膜形成装置。
【請求項9】
前記制御部が、前記各層ごとに行われた前記シミュレーションの評価を行い、その評価結果に応じて前記複数の制御モードの中から最適な制御モードを選択する請求項8に記載の薄膜形成装置。
【請求項10】
成膜対象基板を透過したモニタ光を受光して得られた受光信号に応じて前記成膜対象基板上に薄膜の成膜を制御する制御部を有し、前記成膜対象基板上に多層光学薄膜を形成する薄膜形成装置において、前記成膜対象基板上に多層光学薄膜を形成する薄膜形成方法であって、
前記制御部により、前記多層光学薄膜の成膜動作の前に、前記多層光学薄膜における各層の成膜のシミュレーションを、複数の制御モードで行うステップと、
前記制御部により、前記シミュレーションの結果に基づいて、前記各層ごとに前記複数の制御モードの中から最適な制御モードを自動的に選択するステップと、
前記制御部により、前記選択された最適な制御モードにより、前記多層光学薄膜の各層の成膜制御を実行するステップと、を有する薄膜形成方法。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、多層光学薄膜の薄膜形成装置および方法に関し、特に、各層において最適な制御方式を自動的に選択することができる光学膜厚制御装置を採用した薄膜形成装置および方法およびプログラムおよび記憶媒体に関する。
続きを表示(約 1,900 文字)
【背景技術】
【0002】
光学機器分野において幅広く応用されている光学薄膜として、基材上に複数の光学薄膜が重ねられた積層構造の多層光学薄膜が知られている。
【0003】
多層光学薄膜における成膜制御としては、単波長制御が知られており、光量制御、比例制御、TMF制御、TPC制御等の複数の制御方式が提供されている。
【0004】
特開2007-199084号公報
特開2010-222596号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、上述のような従来の光量制御、比例制御、TMF制御、TPC制御等の複数の制御方式は、製品の膜設計や監視波長、光学系ノイズの大きさ、分光器分解能等の要因により、それぞれ各層ごとに最適な制御方式が異なる問題点があった。
【0006】
すなわち、多層の成膜制御を、例えば、TMF制御の単一の制御方式で行うと、ある層では、誤差の平均や標準偏差が大きくなってしまう問題点があった。
上述したように、光量制御、比例制御、TMF制御、TPC制御等の複数の制御方式は、各層ごとに、その膜設計や監視波長、光学系ノイズの大きさ、分光器分解能等の複雑な要因により誤差の平均や標準偏差が異なるので、最適な制御方式を選択することは、多くの経験に基づいた熟練した知識がないと判断が難しく、薄膜形成装置を使用する一般のユーザには困難であった。
【0007】
本発明は前記のような従来の問題点に着目してなされたものであり、多層光学薄膜の成膜において、各層における誤差の平均や標準偏差を小さくすることができる光学膜厚制御装置を採用した薄膜形成装置および方法およびプログラムおよび記憶媒体を提供することを目的とする。
本発明の他の目的は、多層光学薄膜の各層において複数の制御方式から最適な制御方式を自動的に選択することにより、オペレータの負担を軽減することができる光学膜厚制御装置を採用した薄膜形成装置および方法およびプログラムおよび記憶媒体を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0008】
前記目的達成のために、本発明に係る成膜対象基板上に多層光学薄膜を形成する薄膜形成装置は、前記成膜対象基板を透過したモニタ光を受光して得られた受光信号に応じて前記成膜対象基板上に薄膜の成膜を制御する制御部を有し、前記制御部が、前記多層光学薄膜の成膜動作の前に、前記多層光学薄膜における各層の成膜のシミュレーションを、複数の制御モードで行い、前記シミュレーションの結果に基づいて、前記各層ごとに前記複数の制御モードの中から最適な制御モードを自動的に選択し、前記選択された最適な制御モードにより、前記多層光学薄膜の各層の成膜制御を実行することを特徴とする。
【0009】
本発明の他の特徴は、成膜チャンバ内に配置された成膜材料供給部から供給される成膜材料が成膜されて薄膜の多層膜が形成される成膜対象基板にモニタ光を投光する投光部と、前記成膜対象基板を透過した前記モニタ光を受光して受光信号を出力する受光部と、成膜中の基板温度を測定する温度測定部と、前記受光信号に応じて前記成膜対象基板の光透過率を取得し、取得した光透過率情報に関連付けて薄膜の成膜を制御する制御部と、を有し、前記制御部が、前記多層光学薄膜の成膜動作の前に、前記多層光学薄膜における各層の成膜のシミュレーションを、複数の制御モードで行い、前記シミュレーションの結果に基づいて、前記各層ごとに前記複数の制御モードの中から最適な制御モードを自動的に選択し、前記選択された最適な制御モードにより、前記多層光学薄膜の各層の成膜制御を実行することである。
【0010】
本発明の他の特徴は、成膜対象基板を透過したモニタ光を受光して得られた受光信号に応じて前記成膜対象基板上に薄膜の成膜を制御する制御部を有し、前記成膜対象基板上に多層光学薄膜を形成する薄膜形成装置において、前記成膜対象基板上に多層光学薄膜を形成する薄膜形成方法であって、前記制御部により、前記多層光学薄膜の成膜動作の前に、前記多層光学薄膜における各層の成膜のシミュレーションを、複数の制御モードで行うステップと、前記制御部により、前記シミュレーションの結果に基づいて、前記各層ごとに前記複数の制御モードの中から最適な制御モードを自動的に選択するステップと、前記制御部により、前記選択された最適な制御モードにより、前記多層光学薄膜の各層の成膜制御を実行するステップと、を有することである。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPatで参照する
関連特許
株式会社オプトラン
蒸着装置
2日前
OLED青森株式会社
製膜装置
1か月前
OLED青森株式会社
製膜装置
1か月前
中外炉工業株式会社
真空浸炭装置
1か月前
中外炉工業株式会社
真空浸炭装置
1か月前
TOTO株式会社
構造部材
1か月前
東京エレクトロン株式会社
基板処理装置
16日前
TOTO株式会社
構造部材
1か月前
株式会社カワイ
無電解CoW鍍金処理方法
1か月前
日本製鉄株式会社
スナウト装置
1か月前
株式会社フジキン
気化装置およびガス供給方法
1か月前
日本化学産業株式会社
複合めっき皮膜及びめっき製品
2か月前
株式会社カネカ
製膜装置
1か月前
株式会社スリーボンド
洗浄剤組成物
16日前
株式会社神戸製鋼所
成膜方法
8日前
株式会社カネカ
製膜装置
7日前
東京エレクトロン株式会社
パージ方法及び成膜装置
1か月前
大陽日酸株式会社
薄膜製造方法
15日前
芝浦メカトロニクス株式会社
成膜装置
15日前
芝浦メカトロニクス株式会社
成膜装置
15日前
日新電機株式会社
密閉処理装置
28日前
東ソー株式会社
ホウ化クロム含有クロム焼結体及びその製造方法
16日前
株式会社スタジオオーシャンマーク
防錆パック
2日前
大日本印刷株式会社
マスク及びマスクの製造方法
1か月前
ダイキン工業株式会社
金属錯体
1か月前
国立大学法人島根大学
透明導電膜形成方法および粉末ターゲット
27日前
東京エレクトロン株式会社
クリーニング方法及び成膜装置
17日前
福田金属箔粉工業株式会社
銅系複合体膜及びその製造方法
1か月前
東京エレクトロン株式会社
窒化ホウ素膜の成膜方法および成膜装置
今日
株式会社SCREENホールディングス
スパッタリング装置
1か月前
株式会社SCREENホールディングス
スパッタリング装置
1か月前
株式会社SCREENホールディングス
スパッタリング装置
1か月前
大日本塗料株式会社
鋼構造物の洗浄方法
17日前
矢崎総業株式会社
めっき付き炭素材料及びその製造方法
16日前
東京エレクトロン株式会社
液体原料監視方法及びガス供給装置
1か月前
大日本印刷株式会社
メタルマスク及びその製造方法
1か月前
続きを見る
他の特許を見る