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公開番号2025061979
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-04-11
出願番号2025014024,2021037572
出願日2025-01-30,2021-03-09
発明の名称放射線検査装置
出願人東芝ITコントロールシステム株式会社
代理人個人,個人,個人,個人
主分類G01N 23/04 20180101AFI20250404BHJP(測定;試験)
要約【課題】自動的にフィルタの厚みまたは材質を調整することにより、ユーザの熟練度に拘わらず容易に高画質な透視画像を取得することの出来る放射線検査装置を提供する。
【解決手段】放射線ビームを照射する放射線源2と、放射線源2に対向して設けられ、放射線ビームが入力される検出器3と、検出器3に入力される放射線ビームの信号量I0を減衰させるために、放射線源2と検出器3との間に設けられるフィルタFの減衰率を調整するフィルタ調整部4と、放射線ビームの信号量I0と所定の信号量Isとを比較する判定部942と、を備え、フィルタ調整部4は、放射線ビームの信号量I0が所定の信号量Is以下となるようにフィルタFの減衰率を調整する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
放射線ビームを照射する放射線源と、
前記放射線源に対向して設けられ、前記放射線ビームが入力される検出器と、
前記検出器に入力される前記放射線ビームの信号量を減衰させるために、前記放射線源と前記検出器との間に設けられるフィルタの減衰率を調整するフィルタ調整部と、
前記放射線ビームの信号量の関数として前記フィルタの厚みを算出する算出部と、
を備え、
前記フィルタ調整部は、前記算出部が算出した前記フィルタの厚みに基づいて前記フィルタの減衰率を調整する、
放射線検査装置。
続きを表示（約 260 文字）【請求項２】
前記算出部は、前記フィルタの厚みと前記放射線ビームの信号量との関係を示すフィルタ厚曲線に基づいて前記フィルタの厚みを算出する、
請求項１に記載の放射線検査装置。
【請求項３】
前記フィルタ厚曲線は、以下の式により示される、
請求項２に記載の放射線検査装置。
JPEG
2025061979000004.jpg
30
64
Ｘｓ：フィルタの厚み
μ：線減弱係数
Ｉｓ：所定の信号量
Ｉ０：放射線ビームの信号量

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、放射線検査装置に関する。
続きを表示（約 1,900 文字）【背景技術】
【０００２】
放射線検査装置は、放射線として例えばＸ線ビームを照射する放射線源と、この放射線源に対向して設けられ、Ｘ線ビームを検出する検出器とを備える。放射線源と検出器との間には、被検査物が載置される検査台が設けられ、被検査物に対してＸ線ビームが照射されることにより、被検査物の透視画像が得られる。また、被検査物に対してＸ線ビームが照射される間にこの検査台が１回転することにより、全方位からの透視画像が得られる。この透視画像を再構成することにより、被検査物のＣＴ画像（断面画像）が得られる。
【０００３】
透視画像の取得において、被検査物に起因する散乱線やメタルアーティファクトなどのノイズを低減するために、フィルタを用いることが知られている。フィルタは、金属などからなる遮蔽板であり、放射線源の手前に設けられ、放射線源から検出器に入力されるＸ線ビームを減衰させる。これにより、上述したようなノイズを低減することが出来る。一方で、Ｘ線ビームをさらに減衰させるためにフィルタの厚みまたは材質を変えると、検出器に入力されるＸ線の信号量がノイズよりもさらに減少し、透視画像のＳＮ比が低下してしまうおそれがあった。従来技術においては、この点を考慮しつつ、ユーザがフィルタの厚みまたは材質を調整していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２００４－１３２８５９号公報
特開昭６３－１１１１０７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、透視画像を確認しながらフィルタの厚みまたは材質を調整するためには長年の経験が必要であるため、経験の少ないユーザにも容易にフィルタの厚みまたは材質を調整することの出来る放射線検査装置が待ち望まれていた。さらに、フィルタの厚みまたは材質の調整は、例えば放射線源に印加する電圧、電流、あるいは放射線源から検出器までの距離（ＦＤＤ、ＦｏｃｕｓｔｏＤｅｔｅｃｔｏｒＤｉｓｔａｎｃｅ）のような各構成の位置関係、といった撮像前の設定を変更する度に必要となるので、熟練のユーザにとっても手間であることは変わりなかった。
【０００６】
本実施形態は、上記課題を解決すべく、自動的にフィルタの厚みまたは材質を調整することにより、ユーザの熟練度に拘わらず容易に高画質な透視画像を取得することの出来る放射線検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
第１の実施形態の放射線検査装置は、次のような構成を備える。
（１）放射線ビームを照射する放射線源。
（２）前記放射線源に対向して設けられ、前記放射線ビームが入力される検出器。
（３）前記検出器に入力される前記放射線ビームの信号量を減衰させるために、前記放射線源と前記検出器との間に設けられるフィルタの減衰率を調整するフィルタ調整部。
（４）前記放射線ビームの信号量と所定の信号量とを比較する判定部。
（５）前記フィルタ調整部は、前記放射線ビームの信号量が前記所定の信号量以下となるように前記フィルタの減衰率を調整する。
【０００８】
第１の実施形態の放射線検査装置は、更に次のような構成を備えてもよい。
（１）前記フィルタ調整部は、減衰率の低い順に前記フィルタを入れ替えることにより、前記フィルタの減衰率を調整する。
【０００９】
第２の実施形態の放射線検査装置は、次のような構成を備える。
（１）放射線ビームを照射する放射線源。
（２）前記放射線源に対向して設けられ、前記放射線ビームが入力される検出器。
（３）前記検出器に入力される前記放射線ビームの信号量を減衰させるために、前記放射線源と前記検出器との間に設けられるフィルタの減衰率を調整するフィルタ調整部。
（４）前記放射線ビームの信号量の関数として前記フィルタの厚みを算出する算出部。
（５）前記フィルタ調整部は、前記算出部が算出した前記フィルタの厚みに基づいて前記フィルタの減衰率を調整する。
【００１０】
第２の実施形態の放射線検査装置は、更に次のような構成を備えてもよい。
（１）前記算出部は、前記フィルタの厚みと前記放射線ビームの信号量との関係を示すフィルタ厚曲線に基づいて前記フィルタの厚みを算出する。
（【００１１】以降は省略されています）

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