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公開番号2025025543
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-02-21
出願番号2023130391
出願日2023-08-09
発明の名称光ファイバ特性測定装置
出願人横河電機株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類G01D 5/353 20060101AFI20250214BHJP(測定;試験)
要約【課題】測定精度を向上させることが可能な光ファイバ特性測定装置を提供する。
【解決手段】本開示に係る光ファイバ特性測定装置10は、光ファイバの特性を測定する。光ファイバ特性測定装置10は、周波数変調されたレーザ光を出力するレーザ光源モジュール11を備える。レーザ光源モジュール11は、レーザ光を出力するレーザ光源110と、レーザ光源110が出力するレーザ光を周波数変調するレーザ光源ドライバ111と、レーザ光源110が出力する周波数変調されたレーザ光に生じた振幅変調をキャンセルするように、レーザ光源110が出力する周波数変調されたレーザ光の振幅を調整する光増幅器116と、を備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
光ファイバの特性を測定する光ファイバ特性測定装置であって、
周波数変調されたレーザ光を出力するレーザ光源モジュールを備え、
前記レーザ光源モジュールは、
レーザ光を出力するレーザ光源と、
前記レーザ光源が出力する前記レーザ光を周波数変調するレーザ光源ドライバと、
前記レーザ光源が出力する周波数変調された前記レーザ光に生じた振幅変調をキャンセルするように、前記レーザ光源が出力する周波数変調された前記レーザ光の振幅を調整する光増幅器と、
を備える、光ファイバ特性測定装置。
続きを表示（約 1,300 文字）【請求項２】
請求項１に記載の光ファイバ特性測定装置において、
前記レーザ光源モジュールは、
前記レーザ光源が出力する前記レーザ光を前記レーザ光源ドライバが周波数変調する際に用いる第１正弦波と、前記第１正弦波と周波数が等しい第２正弦波とを発生する信号発生器と、
前記第２正弦波の位相を前記第１正弦波の周波数に応じて遅延させる位相シフタと、
前記位相シフタによって遅延された前記第２正弦波によって前記光増幅器を駆動して、前記レーザ光源が出力する周波数変調された前記レーザ光の振幅を調整する光増幅器ドライバと、
をさらに備える、光ファイバ特性測定装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ファイバ特性測定装置において、
前記レーザ光源モジュールは、前記第２正弦波の振幅を前記第１正弦波の振幅に応じて増幅して前記位相シフタに出力する可変増幅器をさらに備える、光ファイバ特性測定装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ファイバ特性測定装置において、
前記レーザ光源モジュールは、
前記レーザ光源が出力する前記レーザ光を前記レーザ光源ドライバが周波数変調する際に用いる第１正弦波を発生する第１信号発生器と、
前記第１正弦波と等しい周波数であり、且つ、前記第１正弦波の周波数に応じて遅延している第２正弦波を発生する第２信号発生器と、
前記第２正弦波によって前記光増幅器を駆動して、前記レーザ光源が出力する周波数変調された前記レーザ光の振幅を調整する光増幅器ドライバと、
をさらに備える、光ファイバ特性測定装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ファイバ特性測定装置において、
前記第２信号発生器が発生する前記第２正弦波の振幅は、前記第１正弦波の振幅に応じて増幅されている、光ファイバ特性測定装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光ファイバ特性測定装置において、
前記光ファイバ特性測定装置は、ブリルアン光相関領域反射計方式によって前記光ファイバの特性を測定し、
前記光ファイバ特性測定装置は、
前記周波数変調されたレーザ光をポンプ光と参照光とに分岐する第１光カプラと、
前記ポンプ光が測定対象である光ファイバに入射されて生じた前記光ファイバからの散乱光と、前記参照光とを合波する第２光カプラと、
を備える、光ファイバ特性測定装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ファイバ特性測定装置において、
前記光ファイバ特性測定装置は、ブリルアン光相関領域解析法方式によって前記光ファイバの特性を測定し、
前記光ファイバ特性測定装置は、
前記周波数変調されたレーザ光をポンプ光とプローブ光とに分岐する第１光カプラと、
前記ポンプ光が測定対象である光ファイバに入射されて生じた前記光ファイバからの散乱光と、前記プローブ光とを取り出すサーキュレータと、
を備える、光ファイバ特性測定装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、光ファイバ特性測定装置に関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、光ファイバ特性測定装置として、ブリルアン光相関領域反射計（ＢＯＣＤＲ：Brillouin Optical Correlation Domain Reflectometry）方式によって、光ファイバの特性を測定する光ファイバ特性測定装置が知られている。
【０００３】
ＢＯＣＤＲ方式の光ファイバ特性測定装置は、ブリルアン散乱による散乱光を測定し、ブリルアン周波数シフト（ＢＦＳ：Brillouin Frequency Shift）を測定することによって、光ファイバの各位置における温度及び歪みを測定することができる。
【０００４】
例えば特許文献１は、ＢＯＣＤＲ方式の光ファイバ特性測定装置として、光ファイバの特性の測定に要する時間を短縮することができる光ファイバ特性測定装置を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
特許第６７７３０９１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
光ファイバ特性測定装置は、通常、周波数変調したレーザ光を測定対象である光ファイバに入射する。
【０００７】
レーザ光を周波数変調すると、レーザ光は結果的に意図しない振幅変調もされてしまう。この振幅変調がノイズとなって、光ファイバ特性測定装置の測定精度を向上させる際の障害となっていた。
【０００８】
そこで、本開示は、測定精度を向上させることが可能な光ファイバ特性測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
幾つかの実施形態に係る光ファイバ特性測定装置は、光ファイバの特性を測定する光ファイバ特性測定装置であって、周波数変調されたレーザ光を出力するレーザ光源モジュールを備え、前記レーザ光源モジュールは、レーザ光を出力するレーザ光源と、前記レーザ光源が出力する前記レーザ光を周波数変調するレーザ光源ドライバと、前記レーザ光源が出力する周波数変調された前記レーザ光に生じた振幅変調をキャンセルするように、前記レーザ光源が出力する周波数変調された前記レーザ光の振幅を調整する光増幅器と、を備える。このような光ファイバ特性測定装置によれば、測定精度を向上させることが可能である。
【００１０】
一実施形態に係る光ファイバ特性測定装置において、前記レーザ光源モジュールは、前記レーザ光源が出力する前記レーザ光を前記レーザ光源ドライバが周波数変調する際に用いる第１正弦波と、前記第１正弦波と周波数が等しい第２正弦波とを発生する信号発生器と、前記第２正弦波の位相を前記第１正弦波の周波数に応じて遅延させる位相シフタと、前記位相シフタによって遅延された前記第２正弦波によって前記光増幅器を駆動して、前記レーザ光源が出力する周波数変調された前記レーザ光の振幅を調整する光増幅器ドライバと、をさらに備えていてもよい。これにより、光ファイバ特性測定装置は、周波数変調の際に意図せずして生じる振幅変調を精度良くキャンセルすることができる。
（【００１１】以降は省略されています）

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