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公開番号
2024167007
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2024-11-29
出願番号
2023083513
出願日
2023-05-19
発明の名称
MALDI質量分析装置およびMALDI質量分析方法
出願人
株式会社島津製作所
代理人
個人
,
個人
,
個人
主分類
G01N
27/62 20210101AFI20241122BHJP(測定;試験)
要約
【課題】試料の位置を正確に特定することが可能なMALDI質量分析装置およびMALDI質量分析方法を提供する。
【解決手段】MALDI質量分析装置300は、サンプルプレート、画像取得部4、エッジ処理部7および合成部8を含み、MALDI法を用いて試料の質量分析を行う。サンプルプレートは、試料を保持する。画像取得部4は、複数の異なる撮影条件下で撮影されたサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得する。エッジ処理部7は、画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を画像取得部4により取得された各画像データに実行する。合成部8は、エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成する。
【選択図】図4
特許請求の範囲
【請求項1】
MALDI法を用いて試料の質量分析を行うMALDI質量分析装置であって、
試料を保持するサンプルプレートと、
複数の異なる撮影条件下で撮影された前記サンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得する画像取得部と、
画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を前記画像取得部により取得された各画像データに実行するエッジ処理部と、
前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成する合成部とを備える、MALDI質量分析装置。
続きを表示(約 1,600 文字)
【請求項2】
隣り合う画素値の変化を滑らかにする平滑処理を前記画像取得部により取得された各画像データに実行する平滑処理部をさらに備え、
前記エッジ処理部は、前記平滑処理が実行された各画像データに前記エッジ処理を実行する、請求項1記載のMALDI質量分析装置。
【請求項3】
前記サンプルプレートには、試料の保持領域を区画するウェルが形成され、
前記MALDI質量分析装置は、画像の前記ウェルの縁に対応する部分を検出し、検出された部分の内側を抽出するマスク処理を、前記エッジ処理が実行される前の各画像データまたは前記エッジ処理が実行された後の各画像データに実行するマスク処理部をさらに備え、
前記合成部は、前記エッジ処理および前記マスク処理が実行された複数の画像データを合成することにより合成画像データを生成する、請求項1または2記載のMALDI質量分析装置。
【請求項4】
前記合成部により生成された合成画像データに基づいて試料のイオン化用光の照射位置を決定する照射位置決定部をさらに備える、請求項1または2記載のMALDI質量分析装置。
【請求項5】
前記照射位置決定部は、前記合成部により生成された合成画像データにより示されるエッジ部分の画像の内側に対応する前記サンプルプレートの領域を前記照射位置として決定する、請求項4記載のMALDI質量分析装置。
【請求項6】
前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部と、
照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記カメラによる撮影時に前記照明部と前記サンプルプレートとの相対位置が異なることを含む、請求項1または2記載のMALDI質量分析装置。
【請求項7】
前記サンプルプレートが載置され、移動可能に構成された可動ステージと、
前記カメラによる撮影時の前記サンプルプレートの位置を記憶する位置記憶部とをさらに備え、
前記合成部は、前記位置記憶部により記憶された前記サンプルプレートの位置にさらに基づいて合成画像データを生成する、請求項6記載のMALDI質量分析装置。
【請求項8】
互いに異なる複数の位置から選択的に前記サンプルプレートに照明光をそれぞれ照射する複数の照明部と、
前記複数の照明部のいずれかにより照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部が異なることを含む、請求項1または2記載のMALDI質量分析装置。
【請求項9】
前記サンプルプレートに照明光を照射する照明部と、
照明光が照射された前記サンプルプレートを撮影することにより画像データを生成し、生成された画像データを前記画像取得部に与えるカメラとをさらに備え、
前記複数の異なる撮影条件は、前記サンプルプレートに照射される照明光の光量が異なることを含む、請求項1または2記載のMALDI質量分析装置。
【請求項10】
MALDI法を用いて試料の質量分析を行うMALDI質量分析方法であって、
複数の異なる撮影条件下で撮影された、試料を保持するサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得することと、
画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を取得された各画像データに実行することと、
前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成することとを含み、
コンピュータにより実行される、MALDI質量分析方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、MALDI質量分析装置およびMALDI質量分析方法に関する。
続きを表示(約 1,800 文字)
【背景技術】
【0002】
MALDI(マトリックス支援レーザ脱離イオン化)質量分析装置においては、サンプルプレート上の試料にマトリックスが混合される。マトリックスと混合された試料にレーザ光が照射されることによりイオンが生成され、イオン検出器によりイオンが検出される。イオン検出器による検出信号に基づいてマススペクトルが生成される。
【0003】
レーザ光をサンプルプレート上の試料に正確に位置合わせする技術が提案されている。例えば、特許文献1に記載されたMALDI質量分析装置においては、カメラにより撮影されたサンプルプレートの画像が解析されることにより試料に対応する座標が特定される。特定された座標に基づいて、サンプルプレートの位置決め機構が制御されることにより、試料がレーザ光の照射領域に移動される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
米国特許出願公開第2004/0262514号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
サンプルプレートの画像において、光の反射量が大きい部分には白飛びが発生することがある。この場合、特定されるサンプルプレートと試料との境界が不正確になるため、試料にレーザ光を正確に照射することができない。
【0006】
本発明の目的は、試料の位置を正確に特定することが可能なMALDI質量分析装置およびMALDI質量分析方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本発明の一態様は、MALDI法を用いて試料の質量分析を行うMALDI質量分析装置であって、試料を保持するサンプルプレートと、複数の異なる撮影条件下で撮影された前記サンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得する画像取得部と、画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を前記画像取得部により取得された各画像データに実行するエッジ処理部と、前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成する合成部とを備える、MALDI質量分析装置に関する。
【0008】
本発明の他の態様は、MALDI法を用いて試料の質量分析を行うMALDI質量分析方法であって、複数の異なる撮影条件下で撮影された、試料を保持するサンプルプレートの画像を示す複数の画像データを取得することと、画像のエッジ部分を抽出するエッジ処理を取得された各画像データに実行することと、前記エッジ処理が実行された複数の画像データを合成することにより、合成されたエッジ部分の画像を示す合成画像データを生成することとを含み、コンピュータにより実行される、MALDI質量分析方法に関する。
【発明の効果】
【0009】
本発明によれば、試料の位置を正確に特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
本発明の第1の実施の形態に係るMALDI質量分析装置の構成を示す図である。
分析部において使用されるサンプルプレートの模式的斜視図である。
図1の分析部の構成を示す図である。
図1の処理装置の機能部を説明するためのMALDI質量分析装置を示す図である。
図4の処理装置により実行される質量分析処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。
本発明の第2の実施の形態における分析部の構成を示す図である。
本発明の第2の実施の形態における質量分析処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。
本発明の第2の実施の形態における質量分析処理のアルゴリズムを示すフローチャートである。
マスク処理がエッジ処理後に実行されるときの合成画像データの生成過程を示す図である。
マスク処理がエッジ処理後に実行されるときの合成画像データの生成過程を示す図である。
マスク処理がエッジ処理後に実行されるときの合成画像データの生成過程を示す図である。
マスク処理がエッジ処理後に実行されるときの合成画像データの生成過程を示す図である。
【発明を実施するための形態】
(【0011】以降は省略されています)
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