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公開番号2024115192
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-08-26
出願番号2023020746
出願日2023-02-14
発明の名称試験装置
出願人株式会社日立国際電気
代理人個人
主分類G01D 21/00 20060101AFI20240819BHJP(測定;試験)
要約【課題】試験装置本体の構成品について適切な交換タイミングを報知して、効率的な保守を行うことができる試験装置を提供する。
【解決手段】複数の測定器10のいずれかと被試験器2とを複数のリレー31により接続する信号切換器30と、複数の測定器10からの計測結果を入力して分析する被試験器用コントローラ(制御部)20とを備え、被試験器用コントローラ20が、信号切換器30における複数のリレーのそれぞれについてオンとオフを制御すると共に、当該オンとオフの切換回数をカウントし、当該カウントした切換回数が特定のしきい値を超えると当該リレーの交換タイミングを通知する試験装置としている。
【選択図】図9
特許請求の範囲【請求項１】
被試験器を試験する試験装置であって、
試験信号を出力して前記被試験器からの出力を計測する複数の測定器と、
前記測定器のいずれかと前記被試験器とを複数のリレーにより接続する切換器と、
前記複数の測定器からの計測結果を入力して分析する制御部と、を備え、
前記制御部は、前記切換器における前記複数のリレーのオンとオフを制御すると共に、当該オンとオフの切換回数をカウントし、当該カウントした切換回数が特定のしきい値を超えると当該リレーの交換タイミングを通知することを特徴とする試験装置。
続きを表示（約 710 文字）【請求項２】
前記被試験器と前記切換器との間に、接続部を接続し、
前記接続部は、複数のリレーを備えており、
前記制御部は、前記接続部における前記複数のリレーのオンとオフを制御すると共に、当該オンとオフの切換回数をカウントし、当該カウントした切換回数が特定のしきい値を超えると当該リレーの交換タイミングを通知することを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項３】
前記制御部は、リレー毎にカウントした切換回数を管理するリレー切換回数管理テーブルを備え、前記リレー切換回数管理テーブルで前記リレー毎のカウントした切換回数の総計が前記特定のしきい値を超えたか否かを判定することを特徴とする請求項１又は２記載の試験装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記複数のリレーに対して、リレー毎にリレー番号、耐用回数、切換回数及び切換残数を保守画面に表示することを特徴とする請求項３記載の試験装置。
【請求項５】
前記制御部は、複数のしきい値が設定されており、当該しきい値により前記切換残数の表示欄の表示色を変更することを特徴とする請求項４記載の試験装置。
【請求項６】
前記制御部は、リレーの交換を促すメッセージをタスクトレイに表示させることを特徴とする請求項１又は２記載の試験装置。
【請求項７】
前記制御部は、前記被試験器から前記測定器までを接続する経路の内、交換タイミングが通知されたリレーが関係する経路を特定し、当該特定された経路についてリレーチェックの処理を行うことを特徴とする請求項１又は２記載の試験装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験器の試験を行う試験装置に係り、特に、試験装置本体の構成品について適切な交換タイミングを通知して、効率的な保守管理を行うことができる試験装置に関する。
続きを表示（約 1,400 文字）【背景技術】
【０００２】
［従来の技術］
航空機や船舶等に搭載される電子機器（ユニット）が故障すると、電子機器を構成する交換可能な複数のモジュールのうち、どのモジュールが故障したかが特定（要因解析）され、特定された故障モジュールの調整、修理又は交換が行われる。
また、従来、作動時間等から現時点の推定性能を求め、モジュールの寿命を予測して、実際に故障が発生する前に交換する予防交換を行うこともあった。
【０００３】
［関連技術］
尚、関連する先行技術として、特開２０２１－１５２５０２号公報「試験装置」（特許文献１）がある。
特許文献１には、被試験器が故障する前に被試験器の電子部品のモジュールの性能劣化を推定し、モジュールの利用効率を向上させ、予防交換等の整備作業を効率的に行うことが示されている。
【０００４】
特に、特許文献１の試験装置は、被試験器について、複数のモジュールから構成されるユニットが故障する前に性能劣化を推定して、各モジュールを新品に交換した場合に、ユニットが故障するまでに動作可能な時間（予測故障作動時間）を算出し、予測故障作動時間が長いモジュールから順に交換候補モジュールとして特定するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
特開２０２１－１５２５０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の試験装置では、被試験器についての性能劣化を推定するものの、試験装置本体の構成品について適切な交換タイミングを報知することはできず、試験装置に対して効率的な保守を行うことができないという問題点があった。
【０００７】
尚、特許文献１には、試験装置を構成するリレーの劣化を切換回数に基づいて推定して、リレー交換のタイミングを通知する構成については記載がない。
【０００８】
本発明は上記実情に鑑みて為されたもので、試験装置本体の構成品について適切な交換タイミングを報知して、効率的な保守を行うことができる試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記従来例の問題点を解決するための本発明は、被試験器を試験する試験装置であって、試験信号を出力して被試験器からの出力を計測する複数の測定器と、測定器のいずれかと被試験器とを複数のリレーにより接続する切換器と、複数の測定器からの計測結果を入力して分析する制御部と、を備え、制御部は、切換器における複数のリレーのオンとオフを制御すると共に、当該オンとオフの切換回数をカウントし、当該カウントした切換回数が特定のしきい値を超えると当該リレーの交換タイミングを通知することを特徴としている。
【００１０】
また、本発明は、上記試験装置において、被試験器と切換器との間に、接続部を接続し、接続部は、複数のリレーを備えており、制御部は、接続部における複数のリレーのオンとオフを制御すると共に、当該オンとオフの切換回数をカウントし、当該カウントした切換回数が特定のしきい値を超えると当該リレーの交換タイミングを通知することを特徴としている。
（【００１１】以降は省略されています）

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