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公開番号2024087591
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-07-01
出願番号2022202490
出願日2022-12-19
発明の名称光学用材料の評価方法、プログラム、および光学用材料の評価装置
出願人日東電工株式会社
代理人弁理士法人青藍国際特許事務所,個人,個人
主分類G01N 21/88 20060101AFI20240624BHJP(測定;試験)
要約【課題】光学部品の品質を効果的に管理することが可能な、光学用材料の評価方法を提供する。
【解決手段】本発明の光学用材料の評価方法は、(A)前記光学用材料に対して透過性を有する波長の光を、前記光学用材料に対して一方の方向から照射することと、(B)前記光が照射されている前記光学用材料を、前記光の進行方向と交差する方向から撮影して、前記光が照射されている状態の前記光学用材料の画像データを得ることと、(C)前記画像データに基づいて、前記光学用材料内の異物を検出して、前記光学用材料の特性を評価することと、を含む。前記(C)において、前記画像データから輝点情報を取得し、前記輝点情報に基づき前記光学用材料内の異物を検出し、かつ前記輝点情報に基づき評価基準情報を用いて前記光学用材料の特性を評価する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
光学用材料内の異物を検出して光学用材料を評価する方法であって、
前記方法は、
（Ａ）前記光学用材料に対して透過性を有する波長の光を、前記光学用材料に対して一方の方向から照射することと、
（Ｂ）前記光が照射されている前記光学用材料を、前記光の進行方向と交差する方向から撮影して、前記光が照射されている状態の前記光学用材料の画像データを得ることと、
（Ｃ）前記画像データに基づいて前記光学用材料内の異物を検出して、前記光学用材料の特性を評価することと、
を含み、
前記（Ｃ）において、前記画像データから輝点情報を取得し、前記輝点情報に基づき前記光学用材料内の異物を検出し、かつ前記輝点情報に基づき評価基準情報を用いて前記光学用材料の特性を評価する、
光学用材料の評価方法。
続きを表示（約 960 文字）【請求項２】
前記輝点情報は、輝点の有無及び輝点の最小直径からなる群より選択される少なくとも１つの情報を含む、
請求項１に記載の光学用材料の評価方法。
【請求項３】
前記評価基準情報は、検出領域における前記輝点の個数、前記輝点の面積割合、及び前記輝点の最小直径からなる群より選択される少なくとも１つである、
請求項１に記載の光学用材料の評価方法。
ここで、前記輝点の面積割合は、（前記輝点の総面積）／（前記検出領域の面積）で求められる値である。
【請求項４】
前記光学用材料は、液体又は固体である、
請求項１に記載の光学用材料の評価方法。
【請求項５】
前記光学用材料は、液体である、
請求項４に記載の光学用材料の評価方法。
【請求項６】
前記評価基準情報は、検出領域における前記輝点の個数および前記輝点の最小直径である、
請求項５に記載の光学用材料の評価方法。
【請求項７】
前記光学用材料は、固体であって、
前記評価基準情報は、前記輝点の面積割合である、
請求項１に記載の光学用材料の評価方法。
ここで、前記輝点の面積割合は、（前記輝点の総面積）／（前記検出領域の面積）で求められる値である。
【請求項８】
前記光学用材料は、プラスチック光ファイバ用の材料である、
請求項１に記載の光学用材料の評価方法。
【請求項９】
前記評価基準情報は、前記輝点情報と、プラスチック光ファイバの損失との関係に基づいて決定された情報である、
請求項８に記載の光学用材料の評価方法。
【請求項１０】
前記評価基準情報は、検出領域における前記輝点の個数、前記輝点の面積割合及び前記輝点の最小直径からなる群より選択される少なくとも１つと、前記プラスチック光ファイバの損失との関係に基づいて決定された情報である、
請求項９に記載の光学用材料の評価方法。
ここで、前記輝点の面積割合は、（前記輝点の総面積）／（前記検出領域の面積）で求められる値である。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学用材料の評価方法、プログラム、および光学用材料の評価装置に関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
光ファイバ等の光学部品においては、光学部品内部に含まれる異物によってその品質が低下してしまう場合がある。したがって、光学部品は、異物を含まないことが望まれる。例えば特許文献１には、プラスチック光ファイバ素線についての欠陥検出方法が提案されている。このように、光ファイバ素線内の異物を特定する方法は、従来知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特許第４０１８０７１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述のとおり、従来の異物を特定する方法では、光ファイバ素線の状態、すなわち光学部品として成形された状態のものに対して異物の検出が行われていた。したがって、異物が多く検出された光学部品については、材料として再利用が難しい場合は破棄しなければならない等、従来の方法は問題を有していた。例えば光ファイバの場合、光ファイバ素線の状態で異物が多く検出されると、製造された光ファイバ素線の一部分のみを切断して使用することができず、全部が使用できなくなる。そのため、従来の方法には、製造効率の低下及び製造コストの上昇等の問題があった。
【０００５】
製造効率及び製造コスト等の製造上のメリットを考慮すると、材料の段階で異物が検出されることが望ましい。しかし、材料の段階で異物の検出を行い、その検出結果をそのまま光学部品に対する異物検出の結果として単に適用しても、光学部品の異物による品質低下を効果的に防ぐことは難しかった。そこで、材料の段階で実施する異物の検出によって、光学部品の品質を管理できる技術が求められている。
【０００６】
本発明は、光学部品の品質を効果的に管理することが可能な、光学用材料の評価方法を提供することを目的とする。さらに、本発明は、その光学用材料の評価方法を実行するためのプログラムおよびその光学用材料の評価方法を実施することができる光学用材料の評価装置を提供することも目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の第１態様に係る光学用材料の評価方法は、光学用材料内の異物を検出して光学用材料を評価する方法であって、
前記方法は、
（Ａ）前記光学用材料に対して透過性を有する波長の光を、前記光学用材料に対して一方の方向から照射することと、
（Ｂ）前記光が照射されている前記光学用材料を、前記光の進行方向と交差する方向から撮影して、前記光が照射されている状態の前記光学用材料の画像データを得ることと、
（Ｃ）前記画像データに基づいて、前記光学用材料内の異物を検出して、前記光学用材料の特性を評価することと、
を含み、
前記（Ｃ）において、前記画像データから輝点情報を取得し、前記輝点情報に基づき前記光学用材料内の異物を検出し、かつ前記輝点情報に基づき評価基準情報を用いて前記光学用材料の特性を評価する。
【０００８】
本発明の第２態様に係るプログラムは、本発明の第１態様に係る光学用材料の評価方法を実行するためのプログラムである。
【０００９】
本発明の第３態様に係る光学用材料の評価装置は、
評価対象である光学用材料に対して光を照射する光照射器と、
前記光が照射されている前記光学用材料を、前記光の進行方向と交差する方向から撮影する撮像装置と、
本発明の第２態様に係るプログラムが格納された制御器と、
を備える。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、光学部品の品質を効果的に管理することが可能な、光学用材料の評価方法を提供することができる。さらに、本発明は、その光学用材料の評価方法を実行するためのプログラムおよびその光学用材料の評価方法を実施することができる光学用材料の評価装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
（【００１１】以降は省略されています）

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