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公開番号2024050517
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-04-10
出願番号2023169426
出願日2023-09-29
発明の名称研磨パッド
出願人富士紡ホールディングス株式会社
代理人個人
主分類B24B 37/24 20120101AFI20240403BHJP(研削;研磨)
要約【課題】
段差解消性能及びディフェクト性能に優れた研磨パッドを提供する。
【解決手段】
イソシアネート末端プレポリマー及び硬化剤を材料とするポリウレタン樹脂発泡体からなる研磨層を有する研磨パッドであって、パルスNMR法によって40℃で測定される前記研磨層における非晶相の重量割合(NC40)が40~60重量%であり、前記研磨層において、20~100℃における動的粘弾性試験(DMA)による測定で得られるtanδの値が最小になる温度が60~90℃の範囲にある、研磨パッド。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
イソシアネート末端プレポリマー及び硬化剤を材料とするポリウレタン樹脂発泡体からなる研磨層を有する研磨パッドであって、
パルスNMR法によって40℃で測定される前記研磨層における非晶相の重量割合(NC40)が40~60重量%であり、
前記研磨層において、20~100℃における動的粘弾性試験(DMA)による測定で得られるtanδの値が最小になる温度が60~90℃の範囲にある、研磨パッド。
続きを表示(約 370 文字)【請求項2】
前記パルスNMR法によって40℃で測定される前記研磨層における結晶相の重量割合(CC40)に対する、前記パルスNMR法によって40℃で測定される前記研磨層における前記非晶相の重量割合(NC)の比(NC40/CC40)が、1.0~2.5である、請求項1に記載の研磨パッド。
【請求項3】
前記イソシアネート末端プレポリマーのNCO当量が500~700である、請求項1に記載の研磨パッド。
【請求項4】
前記イソシアネート末端プレポリマーにポリエステルジオール構成単位とポリプロピレングリコール構成単位を含む、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の研磨パッド。
【請求項5】
前記ポリエステルジオール構成単位が、600~2500の数平均分子量である、請求項4に記載の研磨パッド。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は研磨パッドに関する。詳細には、本発明は、光学材料、半導体ウエハ、半導体デバイス、ハードディスク用基板等の研磨に好適に用いることができる研磨パッドに関する。
続きを表示(約 2,400 文字)【背景技術】
【0002】
光学材料、半導体ウエハ、半導体デバイス、ハードディスク用基板の表面を平坦化するための研磨法として、化学機械研磨(chemical mechanical polishing,CMP)法が一般的に用いられている。
【0003】
CMP法について、図1を用いて説明する。図1のように、CMP法を実施する研磨装置1には、研磨パッド3が備えられ、当該研磨パッド3は、保持定盤16に保持された被研磨物8に当接するとともに、研磨を行う層である研磨層4と研磨層4を支持するクッション層6を含む。研磨パッド3は、被研磨物8が押圧された状態で回転駆動され、被研磨物8を研磨する。その際、研磨パッド3と被研磨物8との間には、スラリー9が供給される。スラリー9は、水と各種化学成分や硬質の微細な砥粒の混合物(分散液)であり、その中の化学成分や砥粒が流されながら、被研磨物8との相対運動により、研磨効果を増大させるものである。スラリー9は溝又は孔を介して研磨面に供給され、排出される。
【0004】
ところで、半導体デバイスの研磨に用いられる研磨層の材料として、イソシアネート成分(トルエンジイソシアネート(TDI)など)及び高分子量ポリオール(ポリオキシテトラメチレングリコール(PTMG)など)を含むプレポリマーと、ジアミン系硬化剤(4,4’-メチレンビス(2-クロロアニリン)(MOCA)など)とを反応させて得られる硬質ポリウレタン材料が用いられる。この硬質ポリウレタン材料は、高分子量ポリオールで形成されるソフトセグメントと、ウレタン結合やウレア結合で形成されるハードセグメントにより構成されている。プレポリマーに含まれる高分子量ポリオールはウレタンのソフトセグメントを形成し、その取扱いやすさや適度なゴム弾性を示すPTMGが高分子量ポリオールとして従来よく用いられていた。しかし、近年、半導体デバイスの配線の微細化に伴い、従来の研磨層又は研磨パッドでは、段差解消性能、ディフェクト性能が不十分である場合があり、高分子量ポリオールとしてPTMG以外を用いる検討がなされている。
【0005】
特許文献1には、プレポリマーの高分子量ポリオールとして、PPG及びPTMGの混合物を用いることで、欠陥率を低減した研磨パッドが開示されている。
【0006】
しかしながら、特許文献1に記載の研磨パッドは、PTMGが含まれるためディフェクト性能、段差解消性能が十分ではないという問題点があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0007】
特開2011-040737号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
本発明者らは、研磨層の非晶相の割合、及び動的粘弾性を検討し、パルスNMR法によって40℃で測定される研磨層における非晶相の重量割合が40~60%であり、20~100℃における動的粘弾性試験(DMA)による測定で得られるtanδが最小になる温度が60~90℃の範囲にあるときに、上記課題を解決し得ることを見出し、本発明を達成した。すなわち、本発明は以下を包含する。
[1] イソシアネート末端プレポリマー及び硬化剤を材料とするポリウレタン樹脂発泡体からなる研磨層を有する研磨パッドであって、
パルスNMR法によって40℃で測定される前記研磨層における非晶相の重量割合(NC40)が40~60重量%であり、
前記研磨層において、20~100℃における動的粘弾性試験(DMA)による測定で得られるtanδの値が最小になる温度が60~90℃の範囲にある、研磨パッド。
[2] 前記パルスNMR法によって40℃で測定される前記研磨層における結晶相の重量割合(CC40)に対する、前記パルスNMR法によって40℃で測定される前記研磨層における前記非晶相の重量割合(NC40)の比(NC40/CC40)が、1.0~2.5である、[1]に記載の研磨パッド。
[3] 前記イソシアネート末端プレポリマーのNCO当量が500~700である、[1]に記載の研磨パッド。
[4] 前記イソシアネート末端プレポリマーにポリエステルジオール構成単位とポリプロピレングリコール構成単位を含む、[1]乃至[3]のいずれか一項に記載の研磨パッド。
[5] 前記ポリエステルジオール構成単位が、600~2500の数平均分子量である、[4]に記載の研磨パッド。
【発明の効果】
【0009】
パルスNMR法によって40℃で測定される非晶相の重量割合が40~60重量%の研磨層を有する本発明の研磨パッドは、ソフトセグメントの働きが強く、ディフェクト性能が良い。また、20~100℃における動的粘弾性試験(DMA)による測定で得られるtanδの値が最小になる温度が60~90℃の範囲にあることにより、研磨時の摩擦熱が発生しても研磨層の硬さを維持できるため、段差解消性能が良好である。したがって、本発明の研磨パッドによれば、段差解消性能やディフェクト性能に優れた研磨パッドを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
図1は、研磨装置1の斜視図である。
図2は、研磨パッド3の斜視図(a)及び断面図(b)を示す図である。
図3は、段差解消性能試験における段差状態の模式図を示す図である。
図4は、動的粘弾性(DMA)測定の結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
(【0011】以降は省略されています)

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