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公開番号2025172371
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-11-26
出願番号2024077850
出願日2024-05-13
発明の名称検査システム、および検査方法
出願人矢崎総業株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類G01R 31/11 20060101AFI20251118BHJP(測定;試験)
要約【課題】複数の電線における不具合を容易に検査する。
【解決手段】検査システム1は、複数の電線を備える対象物Tに、パルスを印加するパルス発生装置11と、対象物Tとパルス発生装置11に接続し、パルス発生装置11が印加したパルスを、複数の電線のそれぞれに順次入力する入力側スイッチ13と、対象物Tとオシロスコープ12に接続し、複数の電線のそれぞれに順次接続して、複数の電線のそれぞれにおける、パルスによる反射波形を、オシロスコープ12に順次入力する出力側スイッチ14と、複数の電線のそれぞれの反射波形を観測するオシロスコープ12と、を備える。
【選択図】図1A
特許請求の範囲【請求項１】
複数の電線を備える対象物に、パルスを印加するパルス発生装置と、
前記対象物と前記パルス発生装置に接続し、前記パルス発生装置が印加したパルスを、前記複数の電線のそれぞれに順次入力する入力側スイッチと、
前記対象物とオシロスコープに接続し、前記複数の電線のそれぞれに順次接続して、前記複数の電線のそれぞれにおける、前記パルスによる反射波形を、前記オシロスコープに順次入力する出力側スイッチと、
前記複数の電線のそれぞれの前記反射波形を観測するオシロスコープと、
を備える検査システム。
続きを表示（約 680 文字）【請求項２】
前記入力側スイッチは、前記パルス発生装置と第１の電線を接続し、
前記パルス発生装置が、前記第１の電線にパルスを印加した後、
前記出力側スイッチが、前記オシロスコープと前記第１の電線を接続し、
前記オシロスコープが、前記第１の電線における反射波形を観測する、請求項１に記載の検査システム。
【請求項３】
前記オシロスコープが、前記第１の電線における反射波形を観測した後、
前記入力側スイッチは、前記パルス発生装置と第２の電線を接続する、請求項２に記載の検査システム。
【請求項４】
前記オシロスコープに接続する判定装置をさらに備え、
前記判定装置は、前記反射波形から、前記電線の被覆キズを検知する、請求項１に記載の検査システム。
【請求項５】
前記オシロスコープに接続する判定装置をさらに備え、
前記判定装置は、２つの電線のそれぞれにおける反射波形から、前記２つの電線間のクロストークノイズを検知する、請求項１に記載の検査システム。
【請求項６】
対象物が備える各電線について、
前記対象物とパルス発生装置に接続する入力側スイッチが、前記パルス発生装置と前記電線を接続し、
前記パルス発生装置が、前記電線にパルスを印加した後、
前記対象物とオシロスコープを接続する出力側スイッチが、前記オシロスコープと前記電線を接続し、
前記オシロスコープが、前記電線における反射波形を観測する処理を繰り返す、検査方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査システム、および検査方法に関する。
続きを表示（約 1,400 文字）【背景技術】
【０００２】
ワイヤーハーネスの生産工程において、製品品質を保証するために導通検査が行われる。一方で、同軸ケーブルの製造工程において、バンドクリップの過度な圧力による断線が発生する場合がある。導通検査工程において、完全に断線している電線を導通検査で排除することが可能できる。
【０００３】
ＴＤＲ（Time Domain Reflectometry）によって、電線を検査する方法もある。ＴＤＲは、電線に直接パルスを印加し、反射波形を観測することで伝送路の状態を把握する。例えば、特許文献１は、ＴＤＲによる非破壊検査において、通常の信号伝送路よりも信号伝送路の電線長が長い故障解析用の信号伝送路に信号伝送路切替手段により切り換えられるため、基板の前段と後段との接続点間が広がって分解能が向上することを開示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開2013-197999号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、ワイヤーハーネス等の検査の対象物の生産工程において、電線キズなどの、断線に至らない不具合が生じる場合がある。
【０００６】
電線キズは、導通が存在するため導通検査では排除されない。しかしながら、品質を担保するために、電線キズなどの不具合を事前に検知することが求められる。断線に至らない不具合を検知する場合、ＴＤＲが好適であるが、ワイヤーハーネスのように、対象物が備える複数の電線のそれぞれに、パルス発生装置およびオシロスコープをつなぎ替えて検査することは、負担になる場合がある。
【０００７】
本発明は、このような従来技術が有する課題に鑑みてなされたものである。そして本発明の目的は、複数の電線における不具合を容易に検査可能な検査システム、および検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の態様に係る検査システムは、複数の電線を備える対象物に、パルスを印加するパルス発生装置と、前記対象物と前記パルス発生装置に接続し、前記パルス発生装置が印加したパルスを、前記複数の電線のそれぞれに順次入力する入力側スイッチと、前記対象物とオシロスコープに接続し、前記複数の電線のそれぞれに順次接続して、前記複数の電線のそれぞれにおける、前記パルスによる反射波形を、前記オシロスコープに順次入力する出力側スイッチと、前記複数の電線のそれぞれの前記反射波形を観測するオシロスコープと、を備える。
【０００９】
本発明の他の態様に係る検査方法は、対象物が備える各電線について、前記対象物とパルス発生装置に接続する入力側スイッチが、前記パルス発生装置と前記電線を接続し、前記パルス発生装置が、前記電線にパルスを印加した後、前記対象物とオシロスコープを接続する出力側スイッチが、前記オシロスコープと前記電線を接続し、前記オシロスコープが、前記電線における反射波形を観測する処理を繰り返す。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、複数の電線における不具合を容易に検査可能な検査システム、および検査方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
（【００１１】以降は省略されています）

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