TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
10個以上の画像は省略されています。
公開番号2025152896
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-10-10
出願番号2024055071
出願日2024-03-28
発明の名称半導体装置
出願人ローム株式会社
代理人弁理士法人太陽国際特許事務所
主分類H10D 89/00 20250101AFI20251002BHJP()
要約【課題】チップ間接続後に不使用となるIOパッドに接続された信号ラインの電位固定に伴って発生するリーク電流を抑制する。
【解決手段】半導体装置は、第1の半導体チップ及び第2の半導体チップを含む。第1の半導体チップは、電源電圧の供給を受けて動作する第1のIOセル及び第2のIOセルと、第1のIOセルに接続された第1の信号ラインと、第2のIOセルに接続された第2の信号ラインと、第2の半導体チップに接続された第3の信号ラインと、第1の信号ラインに伝送される制御信号の論理値が第1の値である場合に、第2の信号ラインに伝送される信号を選択的に出力し、制御信号の論理値が第2の値である場合に、第3の信号ラインに伝送される信号を選択的に出力するセレクタと、第1のIOセルへの電源電圧の供給がない場合に、第1の信号ラインの電位を第2の値に対応する電位に固定する電位固定回路と、を含む。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
第1の半導体チップ及び第2の半導体チップを含む半導体装置であって、
前記第1の半導体チップは、
電源電圧の供給を受けて動作する第1のIOセルと、
電源電圧の供給を受けて動作する第2のIOセルと、
前記第1のIOセルに接続された第1の信号ラインと、
前記第2のIOセルに接続された第2の信号ラインと、
前記第2の半導体チップに接続された第3の信号ラインと、
前記第1の信号ラインに伝送される制御信号の論理値が第1の値である場合に、第2の信号ラインに伝送される信号を選択的に出力し、前記制御信号の論理値が前記第1の値とは異なる第2の値である場合に、前記第3の信号ラインに伝送される信号を選択的に出力するセレクタと、
前記第1のIOセルへの電源電圧の供給がない場合に、前記第1の信号ラインの電位を前記第2の値に対応する電位に固定する電位固定回路と、
を含む半導体装置。
続きを表示(約 640 文字)【請求項2】
前記電位固定回路は、一端が前記第1の信号ラインに接続され、他端がグランドラインに接続されたプルダウン抵抗を含む
請求項1に記載の半導体装置。
【請求項3】
第1の半導体チップ及び第2の半導体チップを含む半導体装置であって、
前記第1の半導体チップは、
電源電圧の供給を受けて動作するIOセルと、
前記第2の半導体チップに接続された第1の信号ラインと、
前記IOセルに接続された第2の信号ラインと、
前記第2の半導体チップに接続された第3の信号ラインと、
前記第1の信号ラインに伝送される制御信号の論理値が第1の値である場合、前記第2の信号ラインに伝送される信号を選択的に出力し、前記制御信号の論理値が前記第1の値とは異なる第2の値である場合に、前記第3の信号ラインに伝送される信号を選択的に出力するセレクタと、
前記第1の信号ラインが前記第2の半導体チップに接続されない状態において前記第1の信号ラインの電位を前記第1の値に対応する電位に固定する電位固定回路を含み、
前記第1の信号ラインが前記第2の半導体チップに接続された状態において前記第1の信号ラインの電位が前記第2の値に対応するレベルに固定される
半導体装置。
【請求項4】
前記電位固定回路は、前記第1の信号ラインに接続されたプルアップ抵抗を含む
請求項3に記載の半導体装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
開示の技術は、半導体装置に関する。
続きを表示(約 2,700 文字)【背景技術】
【0002】
複数の半導体チップを有するマルチチップ構成の半導体装置に関する技術として以下の技術が知られている。例えば、特許文献1には、2つの半導体チップ含むチップ・オン・チップ構造の半導体装置が記載されている。一方の半導体チップが、内部回路と、他方の半導体チップとのチップ間接続のためのチップ接続パッドと、チップ間接続以外の用途に使用されるチップ接続外用途用パッドと、内部回路にチップ接続パッドまたはチップ接続外用途用パッドを選択的に接続する切り換え回路とを含む。
【0003】
特許文献2には、第1の半導体チップ及び第2の半導体チップを電気的に接続するための第1のチップ間配線と、第1のチップ間配線に対する予備のための第2のチップ間配線と、第1の半導体チップに設けられ、テスト信号を該第1のチップ間配線を介して第2の半導体チップに送信するテスト信号発生回路と、第2の半導体チップに設けられ、第1のチップ間配線を介してテスト信号を受信する場合、第1の制御信号を出力し、該テスト信号を受信しない場合、該第1の制御信号の反転信号である第2の制御信号を出力する判定回路と、第2の半導体チップに設けられ、判定回路から第1の制御信号が入力されると、第1の半導体チップ及び第2の半導体チップ間を電気的に接続する経路として第1のチップ間配線を設定し、第2の制御信号が入力されると、該経路として第2のチップ間配線を設定する切り替え回路と、を有する半導体装置が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2000-223652号公報
国際公開第2007/032184号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
複数の半導体チップを有するマルチチップ構成の半導体装置においては、一方の半導体チップに設けられたIOパッドは、当該半導体チップのウエハテスト時にのみ使用され、他方の半導体チップとの接続後(製品完成後)には使用されない場合がある。不使用とされるIOパッドに接続される信号ラインについては、例えばプルダウン抵抗又はプルアップ抵抗を用いて電位を固定することが必要となる場合がある。この場合、回路構成によっては、プルダウン抵抗又はプルアップ抵抗にリーク電流が流れる場合がある。そのような構成は、省電力化の妨げとなるので好ましくない。
【0006】
開示の技術は上記の点に鑑みてなされたものであり、複数の半導体チップを有するマルチチップ構成の半導体装置において、チップ間接続後に不使用となるIOパッドに接続された信号ラインの電位固定に伴って発生するリーク電流を抑制することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0007】
開示の技術に係る半導体装置は、第1の半導体チップ及び第2の半導体チップを含む半導体装置であって、前記第1の半導体チップは、電源電圧の供給を受けて動作する第1のIOセルと、電源電圧の供給を受けて動作する第2のIOセルと、前記第1のIOセルに接続された第1の信号ラインと、前記第2のIOセルに接続された第2の信号ラインと、前記第2の半導体チップに接続された第3の信号ラインと、前記第1の信号ラインに伝送される制御信号の論理値が第1の値である場合に、第2の信号ラインに伝送される信号を選択的に出力し、前記制御信号の論理値が前記第1の値とは異なる第2の値である場合に、前記第3の信号ラインに伝送される信号を選択的に出力するセレクタと、前記第1のIOセルへの電源電圧の供給がない場合に、前記第1の信号ラインの電位を前記第2の値に対応する電位に固定する電位固定回路と、を含む。
【0008】
開示の技術に係る他の半導体装置は、第1の半導体チップ及び第2の半導体チップを含む半導体装置であって、前記第1の半導体チップは、電源電圧の供給を受けて動作するIOセルと前記第2の半導体チップに接続された第1の信号ラインと、前記IOセルに接続された第2の信号ラインと、前記第2の半導体チップに接続された第3の信号ラインと、前記第1の信号ラインに伝送される制御信号の論理値が第1の値である場合、前記第2の信号ラインに伝送される信号を選択的に出力し、前記制御信号の論理値が前記第1の値とは異なる第2の値である場合に、前記第3の信号ラインに伝送される信号を選択的に出力するセレクタと、前記第1の信号ラインが前記第2の半導体チップに接続されない状態において前記第1の信号ラインの電位を前記第1の論理値に対応する電位に固定する電位固定回路を含む。前記第1の信号ラインが前記第2の半導体チップに接続された状態において前記第1の信号ラインの電位が第2の論理値に対応するレベルに固定される。
【発明の効果】
【0009】
開示の技術によれば、複数の半導体チップを有するマルチチップ構成の半導体装置において、チップ間接続後に不使用となるIOパッドに接続された信号ラインの電位固定に伴って発生するリーク電流を抑制することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【0010】
開示の技術の実施形態に係る半導体装置の構成の一例を示す斜視図である。
開示の技術の実施形態に係る第1の半導体チップの構成の一例を示す回路ブロック図である。
開示の技術の実施形態に係る第1の半導体チップのウエハプロービングテスト時における動作を示す図である。
開示の技術の実施形態に係る第1の半導体チップの、第2の半導体チップとの接続後における動作を示す図である。
比較例に係る第1の半導体チップのウエハプロービングテスト時における動作を示す図である。
比較例に係る第1の半導体チップの、第2の半導体チップとの接続後における動作を示す図である。
開示の技術の他の実施形態に係る第1の半導体チップの構成の一例を示す回路ブロック図である。
開示の技術の他の実施形態に係る第1の半導体チップのウエハプロービングテスト時における動作を示す図である。
開示の技術の他の実施形態に係る第1の半導体チップの、第2の半導体チップとの接続後における動作を示す図である。
【発明を実施するための形態】
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する

関連特許

ローム株式会社
RAM
1日前
ローム株式会社
RAM
1日前
ローム株式会社
駆動回路
3日前
ローム株式会社
発振回路
1日前
ローム株式会社
電源装置
1日前
ローム株式会社
発振回路
12日前
ローム株式会社
テスト回路
2日前
ローム株式会社
半導体装置
8日前
ローム株式会社
メモリ装置
8日前
ローム株式会社
暗号化装置
2日前
ローム株式会社
半導体装置
8日前
ローム株式会社
半導体装置
2日前
ローム株式会社
半導体装置
8日前
ローム株式会社
半導体装置
3日前
ローム株式会社
半導体装置
8日前
ローム株式会社
半導体装置
2日前
ローム株式会社
半導体装置
2日前
ローム株式会社
半導体装置
3日前
ローム株式会社
半導体装置
2日前
ローム株式会社
半導体装置
3日前
ローム株式会社
半導体装置
4日前
ローム株式会社
半導体装置
1日前
ローム株式会社
半導体装置
8日前
ローム株式会社
半導体装置
1日前
ローム株式会社
半導体装置
1日前
ローム株式会社
半導体装置
1日前
ローム株式会社
半導体装置
10日前
ローム株式会社
半導体装置
10日前
ローム株式会社
半導体装置
1日前
ローム株式会社
半導体装置
10日前
ローム株式会社
半導体装置
10日前
ローム株式会社
無線通信装置
2日前
ローム株式会社
時間測定回路
3日前
ローム株式会社
無線通信回路
3日前
ローム株式会社
信号出力回路
8日前
ローム株式会社
静電気保護素子
1日前
続きを見る