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公開番号2025137200
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-19
出願番号2024036266
出願日2024-03-08
発明の名称領域検出装置および欠陥検査装置
出願人キヤノン株式会社
代理人弁理士法人大塚国際特許事務所
主分類G02F 1/13 20060101AFI20250911BHJP(光学)
要約【課題】表示領域の検出の精度向上に有利な技術を提供する。
【解決手段】表示装置の表示領域が点灯した状態で撮影された検査画像から前記表示領域を検出するための領域検出装置であって、前記領域検出装置は、前記表示領域の外縁を構成する辺と交差するように設定された複数のラインを走査し、前記複数のラインのそれぞれの画素の画素値に基づいて各辺の座標位置を検出することによって、前記表示領域を特定する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
表示装置の表示領域が点灯した状態で撮影された検査画像から前記表示領域を検出するための領域検出装置であって、
前記領域検出装置は、
前記表示領域の外縁を構成する辺と交差するように設定された複数のラインを走査し、
前記複数のラインのそれぞれの画素の画素値に基づいて各辺の座標位置を検出することによって、前記表示領域を特定することを特徴とする領域検出装置。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
前記領域検出装置は、前記複数のラインの走査において、
前記複数のラインに含まれる画素の画素値を閾値と比較し、
前記複数のラインのすべての画素値が前記閾値未満から前記閾値以上になった走査方向における位置を前記座標位置として検出することを特徴とする請求項１に記載の領域検出装置。
【請求項３】
前記領域検出装置は、前記検査画像のうち前記表示領域の外側から前記表示領域に向かうように前記複数のラインの走査を行うことを特徴とする請求項２に記載の領域検出装置。
【請求項４】
前記領域検出装置は、前記検査画像のうち端部に配された画素から前記表示領域に向かうように前記複数のラインの走査を行うことを特徴とする請求項２に記載の領域検出装置。
【請求項５】
前記閾値は、前記検査画像の中央に配された画素の画素値に応じて設定されることを特徴とする請求項２に記載の領域検出装置。
【請求項６】
前記閾値は、前記検査画像を含む複数の検査画像の中央に配された画素の画素値に応じて設定されることを特徴とする請求項２に記載の領域検出装置。
【請求項７】
前記領域検出装置は、検出された前記座標位置が予め設定された範囲内にない場合に、前記複数のラインの位置を前記辺に沿う方向にシフトさせ、再び前記複数のラインの走査を行うことを特徴とする請求項２に記載の領域検出装置。
【請求項８】
前記領域検出装置は、
検出された前記座標位置が予め設定された範囲内にない場合に、前記複数のラインの位置のシフトと前記複数のラインの走査とを繰り返し、
所定の回数を繰り返して前記座標位置が予め設定された範囲内にない場合に、前記複数のラインの走査を中止することを特徴とする請求項７に記載の領域検出装置。
【請求項９】
前記領域検出装置は、検出された前記座標位置が予め設定された範囲内にない場合に、前記複数のラインのライン数を増加させ、再び前記複数のラインの走査を行うことを特徴とする請求項２に記載の領域検出装置。
【請求項１０】
前記領域検出装置は、検出された前記座標位置が予め設定された範囲内にない場合に、ライン数を増加させる前よりも前記辺に沿う方向において前記複数のラインが配される範囲が広くなるように、前記複数のラインのライン数を増加させることを特徴とする請求項９に記載の領域検出装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、領域検出装置および欠陥検査装置に関する。
続きを表示（約 2,100 文字）【背景技術】
【０００２】
撮像装置に搭載されたセンサパネルの大判化および高画素化に伴い、表示装置の欠陥検査として、表示装置を撮影した検査画像を解析する手法が提案されている。検査画像を用いて欠陥検査を行う際に、検査領域として表示装置の表示領域を検出する必要がある。特許文献１には、カラー液晶表示パネルに黒映像および白映像を表示させ撮影した画像の濃淡値が所定値以上異なる部分の外接領域を求め、外接領域を画像内における検査対象領域とすることが示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
２００１－０８３４７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
検査画像にセンサパネルの欠陥などに起因して、撮影された表示領域の外側に輝点など異常な信号レベルのデータが記録されてしまった場合、特許文献１に示される動作では、表示領域の端部を誤判定する可能性がある。
【０００５】
本発明は、表示領域の検出の精度向上に有利な技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題に鑑みて、本発明の実施形態に係る領域検出装置は、表示装置の表示領域が点灯した状態で撮影された検査画像から前記表示領域を検出するための領域検出装置であって、前記領域検出装置は、前記表示領域の外縁を構成する辺と交差するように設定された複数のラインを走査し、前記複数のラインのそれぞれの画素の画素値に基づいて各辺の座標位置を検出することによって、前記表示領域を特定することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、表示領域の検出の精度向上に有利な技術を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
本実施形態の領域検出装置を備える欠陥検査装置の構成例を示す図。
図１の欠陥検査装置の処理フローの例を示す図。
図１の領域検出装置の構成例を示す図。
検査画像の欠陥と検査画像を走査するスキャンラインの関係を示す図。
検査画像を走査するスキャンラインの配置を説明する図。
本実施形態の領域検出装置を備える欠陥検査装置の構成例を示す図。
図６の領域検出装置の構成例を示す図。
検査画像の欠陥と検査画像を走査するスキャンラインの関係を示す図。
検査画像を走査するスキャンラインの配置を説明する図。
本実施形態の領域検出装置を備える欠陥検査装置の構成例を示す図。
図１０の欠陥検査装置の処理フローの例を示す図。
図１１の領域検出装置の構成例を示す図。
検査画像を走査するスキャンラインの配置を説明する図。
図１０の領域検出装置の処理フローの例を示す図。
図１０の領域検出装置の処理フローの例を示す図。
図１０の領域検出装置の処理フローの例を示す図。
図１０の領域検出装置の処理フローの例を示す図。
本実施形態の領域検出装置を備える欠陥検査装置の構成例を示す図。
図１８の領域検出装置の構成例を示す図。
検査画像を走査するスキャンラインの配置を説明する図。
図１８の領域検出装置の処理フローの例を示す図。
図１８の領域検出装置の処理フローの例を示す図。
図１８の領域検出装置の処理フローの例を示す図。
図１８の領域検出装置の処理フローの例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。
【００１０】
図１～図２４を用いて、本開示の実施形態による欠陥検査装置および欠陥検査装置に配される領域検出装置について説明する。図１は、本実施形態の領域検出装置１０３を備える欠陥検査装置１００の構成例を示すブロック図である。欠陥検査装置１００は、画像取得部１０１、画像メモリ１０２、領域検出装置１０３、欠陥検査部１０５を含む。画像取得部１０１は、検査対象の表示装置１０７の検査画像を取得する。画像メモリ１０２は、画像取得部１０１によって取得された検査画像の画像データを記憶する。領域検出装置１０３は、表示装置１０７の表示領域が点灯した状態で撮影された検査画像から表示領域を検出する。領域検出装置１０３には、表示領域を検出するための閾値が入力される。欠陥検査部１０５は、領域検出装置１０３によって特定された表示領域の欠陥を検査する。欠陥検査部１０５は、検査結果を出力する。
（【００１１】以降は省略されています）

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