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公開番号2025014138
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-01-30
出願番号2023116399
出願日2023-07-18
発明の名称システムおよびプログラム等
出願人独立行政法人国立高等専門学校機構,株式会社ユピテル
代理人
主分類G01N 21/59 20060101AFI20250123BHJP(測定;試験)
要約【課題】堆積物の程度を検出する従来よりも優れたシステムを提供する。
【解決手段】降下物の堆積箇所へ光を照射してその反射光を検出して降下物の状況を測定する手段以外の手段で降下物の状況を判定する機能を備えるシステムとする。発光部B10から発した光を発光部側レンズB20で平行光にし、受光部側レンズB30でその平行光を受光部B40に集光する。検出対象空間に降灰がある場合には平行光の一部が降灰によって遮られることとなり受光部B40での受光量はシステムの最大値よりも減少して検出されることになる。予め記憶した受光量の最大値からの入力した受光量の減少の程度から降灰量を求める。
【選択図】図8
特許請求の範囲【請求項１】
降下物の状況を測定する装置であって、
前記降下物の堆積箇所へ光を照射してその反射光を検出して前記降下物の状況を測定する手段以外の手段で前記降下物の状況を判定する機能を備える装置。
続きを表示（約 1,800 文字）【請求項２】
発光部から出力された光を受光部で受光して受光状態に応じて変化する電気的な状態に応じて発光部と受光部との間に設けた検出対象空間を降下する降下物に関する検出を行う装置であって、
前記検出対象空間に向けて光を導くための第一の光学部材と、前記検出対象空間からの光を導くための第二の光学部材とを備え、
前記第一の光学部材は前記発光部からの光を平行光化する光学部材であり、
前記第二の光学部材は前記平行光化された光を前記受光部に集光させるための光学部材としたこと
を特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記第一の光学部材と前記第二の光学部材とは、前記検出対象空間を挟んで、対向して設けたこと
を特徴とする請求項２に記載の装置。
【請求項４】
第二発光部から出力された光を第二受光部で受光して受光状態に応じて変化する電気的な状態に応じて第二発光部と第二受光部との間に設けた検出対象空間を降下する降下物に関する検出を行う装置であって、
前記第二の光学部材は前記検出対象空間に向けて光を導くための機能も備え、前記第一の光学部材は前記検出対象空間からの光を導くための機能も備え、
前記第二の光学部材は前記第二発光部からの光を平行光化する光学部材であり、
前記第一の光学部材は前記平行光化された光を前記第二受光部に集光させるための光学部材とし、
前記発光部から出力された光を受光部で受光して受光状態に応じて変化する電気的な状態と第二発光部から出力された光を第二受光部で受光して受光状態に応じて変化する電気的な状態に応じて前記検出対象空間を降下する降下物に関する検出を行うこと
を特徴とする請求項２に記載の装置。
【請求項５】
第三発光部から出力された光を第三受光部で受光して受光状態に応じて変化する電気的な状態に応じて第三発光部と第三受光部との間に設けた検出対象空間を降下する降下物に関する検出を行う装置であって、
前記第三の光学部材は前記検出対象空間に向けて光を導くための機能を備え、前記第四の光学部材は前記検出対象空間からの光を導くための機能を備え、
前記第三の光学部材は前記第二発光部からの光を平行光化する光学部材であり、
前記第四の光学部材は前記平行光化された光を前記第二受光部に集光させるための光学部材とし、
前記検出対象空間を挟んで、前記第一の光学部材と前記第二の光学部材が設置されていない位置に前記第三の光学部材及び第四の光学部材を配置し、
前記発光部から出力された光を受光部で受光して受光状態に応じて変化する電気的な状態と第三発光部から出力された光を第三受光部で受光して受光状態に応じて変化する電気的な状態に応じて前記検出対象空間を降下する降下物に関する検出を行うこと
を特徴とする請求項２に記載の装置。
【請求項６】
光を反射させる反射部材を備え、
前記第一の光学部材及び前記第二の光学部材と前記反射部材とを、前記検出対象空間を挟んで、対向して設けたこと
を特徴とする請求項２に記載の装置。
【請求項７】
前記反射部材は、再帰反射を行う部材としたこと
を特徴とする請求項６に記載の装置。
【請求項８】
前記第一の光学部材は、
平面側と凸面側を備えるフレネルレンズであり、
前記フレネルレンズの平面側を前記発光部側に向け、
前記フレネルレンズの凸面側を前記測定対象空間側に向けて配置したこと
を特徴とする請求項２に記載の装置。
【請求項９】
前記第一の光学部材と前記第二の光学部材との間の距離を調整して固定するための距離調整部を備えたこと
を特徴とする請求項２に記載の装置。
【請求項１０】
前記発光部から前記第一の光学部材の発光部側の面を含む領域への前記降下物の進入を防ぐ第一の降下物侵入防止部材と、
前記受光部から前記第二の光学部材の受光部側の面を含む領域への前記降下物の進入を防ぐ第二の降下物侵入防止部材と、
前記発光部と前記受光部との間に設けた検知対象空間として、前記第一の光学部材と前記第二の光学部材との間に空間を備えること、
を特徴とする請求項２に記載の装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えばシステムおよびプログラム等に関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
例えば特許文献１に示されるように、降下物が対象物に堆積した堆積物の程度を検出するシステムが知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１８－２１８５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来のシステムには、様々な問題があった。
【０００５】
そこで、本発明は従来よりも優れた特性を有するシステム及びプログラム等を提供することを目的とする。
【０００６】
本発明の目的はこれに限定されず、本明細書及び図面等に開示される構成の部分から奏する効果を得ることを目的とする構成についても分割出願・補正等により権利取得する意思を有する。例えば本明細書において「～できる」「～可能である」などと記載した箇所を「～が課題である」と読み替えた課題が本明細書には開示されている。課題はそれぞれ独立したものとして記載しているものであり、各々の課題を解決するための構成についても単独で分割出願・補正等により権利取得する意思を有する。課題が明細書の記載から黙示的に把握されるものであっても、本出願人は本明細書に記載の構成の一部を補正又は分割出願にて特許請求の範囲とする意思を有する。またこれら独立の課題を組み合わせた課題を解決する構成についても開示しているものであり、権利取得する意思を有する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
（１）例えば、降下物の状況を測定するシステムであって、前記降下物の堆積箇所へ光を照射してその反射光を検出して前記降下物の状況を測定する手段以外の手段で前記降下物の状況を判定する機能を備えるシステムとするとよい。
【０００８】
システムとしては、単独の筐体として構成してもよいが、筐体として複数の筐体を備える構成としてもよい。システムは複数の異なる離れた場所に設置する筐体間を有線または無線で、電気的に接続して一つのシステムとして機能するように構成してもよい。電気的に接続する方法としては例えばイントラネットあるいはインターネットを介して接続するようにしてもよい。システムは装置と読み替えてもよい。
【０００９】
（２）発光部から出力された光を受光部で受光して受光状態に応じて変化する電気的な状態に応じて発光部と受光部との間に設けた検出対象空間を降下する降下物に関する検出を行うシステムであって、前記検出対象空間に向けて光を導くための第一の光学部材と、前記検出対象空間からの光を導くための第二の光学部材とを備え、前記第一の光学部材は前記発光部からの光を平行光化する光学部材であり、前記第二の光学部材は前記平行光化された光を前記受光部に集光させるための光学部材とするとよい。
【００１０】
このようにすれば、発光部と受光部との間に設けた検出対象空間を降下する降下物に関する検出をすることができる。例えば発光部と受光部との間に設けた検出対象空間を降下する降下物によって遮られる光の度合を検出することができる。このようにすれば、特に例えば平行光でない光が外部から第二の光学部材に入光したとしても、その影響を軽減できる。例えば、外部から入光する太陽光などの外乱を、より軽減することができる。また、例えば、降下物により反射・回折した光がレンズに到達しても、レンズに対して平行に入光していないことから、焦点位置に到達しにくいため、降灰等の発光部と受光部との間に設けた検出対象空間を降下する粒子等の降下物の影響を捉えやすくなり、発光部と受光部との間に設けた検出対象空間を降下する降下物の量に関する検出をより的確に行うことが可能となる。
（【００１１】以降は省略されています）

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