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公開番号2025088416
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-06-11
出願番号2023203106
出願日2023-11-30
発明の名称光学機器
出願人株式会社リコー
代理人個人,個人
主分類G01N 21/3563 20140101AFI20250604BHJP(測定;試験)
要約【課題】遮光性の向上を図り、測定精度の向上を図ること。
【解決手段】光学機器100は、光を透過させる窓11を有し、光学系を収容する本体部10と、本体部10に対して可動し、試料13の窓11とは反対側の面を覆うとともに、窓11との間に試料13を挟持する挟持部20と、挟持部20を駆動させる駆動機構30と、本体部10に対して移動可能であり、窓11への外光の入射を遮蔽する遮光部40と、挟持部20の挟持動作に連動して、遮光部40が張り出すように移動させる移動機構50と、を備える。
【選択図】図5

特許請求の範囲【請求項１】
光を透過させる窓を有し、光学系を収容する本体部と、
前記本体部に対して可動し、試料の前記窓とは反対側の面を覆うとともに、前記窓との間に試料を挟持する挟持部と、
前記挟持部を駆動させる駆動機構と、
前記本体部に対して移動可能であり、前記窓への外光の入射を遮蔽する遮光部と、
前記挟持部の挟持動作に連動して、前記遮光部が張り出すように移動させる移動機構と、を備える光学機器。
続きを表示（約 670 文字）【請求項２】
前記窓と前記挟持部との間に配置された前記試料を検出する検出部を備え、
前記移動機構は、前記検出部による前記試料の検出、及び前記挟持部の挟持動作に連動して、前記遮光部を移動させる請求項１に記載の光学機器。
【請求項３】
前記遮光部は、前記窓を囲むように張り出す請求項１に記載の光学機器。
【請求項４】
前記遮光部は、前記本体部に搭載され、前記本体部から前記挟持部に向かって張り出す請求項１に記載の光学機器。
【請求項５】
前記遮光部は、前記挟持部に搭載され、前記挟持部から前記本体部に向かって張り出す請求項１に記載の光学機器。
【請求項６】
前記挟持部は、回転軸を介して前記本体部に取り付けられ、前記回転軸周りに揺動可能である請求項１に記載の光学機器。
【請求項７】
前記本体部と前記挟持部との間の隙間を調整する隙間調整部を備える請求項１に記載の光学機器。
【請求項８】
前記遮光部は、収縮可能な収縮部を有する請求項１に記載の光学機器。
【請求項９】
前記遮光部は、低反射率の表面を有する複数の押し出しピンの集合体を含み、
前記複数の押し出しピンは、前記複数の押し出しピンの長手方向に独立して移動可能である請求項１に記載の光学機器。
【請求項１０】
前記複数の押し出しピンの基端部に当接する弾性部を備える請求項９に記載の光学機器。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学機器に関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
光学機器として、プラスチックの材質を判定するプラスチック判定装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。プラスチック判定装置は、フィルム状のプラスチックに赤外線を照射する照射部と、プラスチックを透過した赤外線を反射する反射部と、赤外線を検出する検出部と、光の反射部側への侵入を制限する制限部と、を備える。
【０００３】
プラスチック判定装置は、プラスチックに照射されて部分的に吸収された赤外線のスペクトルを測定する。プラスチック判定装置は、比較対象のプラスチックの赤外線スペクトルと、判定対象のプラスチックの赤外線スペクトルとを比較して、類似度を判定する。
【０００４】
プラスチック判定装置の制限部は、フィルム状のプラスチックの面内方向に通過する照射部以外からの光を、当該プラスチックを挟む段差である反射部で反射させる。制限部は、当該光の反射部側への侵入を制限する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に記載の技術では、外光の遮光が十分ではない場合があった。
【０００６】
本発明は、遮光性の向上を図り、測定精度の向上を図ることが可能な光学機器を提供する目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様に係る光学機器は、光を透過させる窓を有し、光学系を収容する本体部と、本体部に対して移動可能であり、試料の窓とは反対側の面を覆うとともに、窓との間に試料を挟持する挟持部と、本体部に対して移動可能であり、窓への外光の入射を遮蔽する遮光部と、挟持部の挟持動作に連動して、遮光部を張り出すように移動させる移動機構と、を備える。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、遮光性の向上を図り、測定精度の向上を図ることが可能な光学機器を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
本発明の第１実施形態に係る光学機器の一例を示す斜視図である。
光学機器の本体部を示す平面図である。
挟持部が閉じている状態の光学機器の内部を示す概略図である。
挟持部が開いている状態の光学機器の内部を示す概略図である。
試料を挟持している状態の光学機器の内部を示す概略図である。
本発明の第２実施形態に係る光学機器の内部を示す概略図である。
本発明の第３実施形態に係る光学機器の内部を示す概略図である。
挟持部が開いている状態の光学機器の内部を示す概略図である。
試料を挟持している状態の光学機器の内部を示す概略図である。
変形例に係る遮光部の部分を示す部分平面図である。
変形例に係る遮光部を示す側面図である。
試料と接触している状態の遮光部を示す側面図である。
本発明の第４実施形態に係る光学機器の一例を示す斜視図である。
標準部材及び反射部材を収容している状態の挟持部を示す概略図である。
挟持部から離れている状態の標準部材及び反射部材を示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
［第１実施形態に係る光学機器１００］
本発明の第１実施形態に係る光学機器１００の一例について説明する。図１は、本発明の第１実施形態に係る光学機器１００の一例を示す斜視図である。図２は、光学機器１００の本体部１０を示す平面図である。図３は、挟持部２０が閉じている状態の光学機器１００の内部を示す概略図である。図４は、挟持部２０が開いている状態の光学機器１００の内部を示す概略図である。図５は、試料１３を挟持している状態の光学機器１００の内部を示す概略図である。
（【００１１】以降は省略されています）

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