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公開番号2025089780
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-06-16
出願番号2023204637
出願日2023-12-04
発明の名称放射線撮像装置
出願人キヤノン株式会社
代理人個人
主分類G01T 7/00 20060101AFI20250609BHJP(測定;試験)
要約【課題】同一の撮影画像内の画素値を用いて欠陥画素の画素値を補正することによる補正精度の低下を抑制できるようにする。
【解決手段】放射線撮像装置は、放射線に基づく撮影画像を撮影する撮影手段と、前記撮影手段により第1の撮影位置で撮影された第1の撮影画像に含まれる欠陥画素の画素値を、前記第1の撮影位置とは異なる第2の撮影位置で撮影された第2の撮影画像を用いて補正する補正処理手段とを有する。
【選択図】図6
特許請求の範囲【請求項１】
放射線に基づく撮影画像を撮影する撮影手段と、
前記撮影手段により第１の撮影位置で撮影された第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の画素値を、前記第１の撮影位置とは異なる第２の撮影位置で撮影された第２の撮影画像を用いて補正する補正処理手段と
を有することを特徴とする放射線撮像装置。
続きを表示（約 1,700 文字）【請求項２】
前記撮影手段は、前記放射線撮像装置の移動による異なる複数の撮影位置で、放射線に基づく撮影画像を順に撮影し、
前記補正処理手段は、前記撮影手段により第１の撮影位置で撮影された第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の画素値を、前記第１の撮影画像より前に第２の撮影位置で撮影された第２の撮影画像、又は、前記第１の撮影画像より後に第３の撮影位置で撮影された第３の撮影画像を用いて補正することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
【請求項３】
前記補正処理手段は、
前記第１の撮影位置の情報と前記第２の撮影位置の情報を基に、前記第１の撮影画像に含まれる欠陥画素に対応する前記第２の撮影画像に含まれる画素の画素位置を特定し、前記特定した画素位置の画素値を用いて、前記第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の画素値を補正し、又は、
前記第１の撮影位置の情報と前記第３の撮影位置の情報を基に、前記第１の撮影画像に含まれる欠陥画素に対応する前記第３の撮影画像に含まれる画素の画素位置を特定し、前記特定した画素位置の画素値を用いて、前記第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の画素値を補正することを特徴とする請求項２に記載の放射線撮像装置。
【請求項４】
前記第１～第３の撮影位置の情報は、放射線撮像装置の移動位置の情報に基づく情報であることを特徴とする請求項３に記載の放射線撮像装置。
【請求項５】
撮影対象の被写体と前記放射線撮像装置とが相互に連動して移動し、
前記第１～第３の撮影位置の情報は、被写体の移動位置の情報に基づく情報であることを特徴とする請求項３に記載の放射線撮像装置。
【請求項６】
前記第１～第３の撮影画像の各々の撮影タイミングに対応して、前記第１～第３の撮影位置の情報の各々を格納する制御手段をさらに有することを特徴とする請求項３に記載の放射線撮像装置。
【請求項７】
前記第１～第３の撮影画像の撮影開始前に、前記第１～第３の撮影位置の情報を格納する制御手段をさらに有することを特徴とする請求項３に記載の放射線撮像装置。
【請求項８】
前記補正処理手段は、
前記第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の周辺に欠陥画素がない場合には、前記第１の撮影画像に含まれる前記欠陥画素の周辺の画素の画素値を用いて、前記第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の画素値を補正し、
前記第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の周辺に欠陥画素がある場合には、前記第２の撮影画像又は前記第３の撮影画像を用いて、前記第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の画素値を補正することを特徴とする請求項２に記載の放射線撮像装置。
【請求項９】
前記補正処理手段は、
前記特定した前記第２の撮影画像に含まれる画素が欠陥画素であり、かつ、前記特定した前記第３の撮影画像に含まれる画素が欠陥画素でない場合には、前記特定した前記第３の撮影画像に含まれる画素の画素値を用いて、前記第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の画素値を補正し、
前記特定した前記第３の撮影画像に含まれる画素が欠陥画素であり、かつ、前記特定した前記第２の撮影画像に含まれる画素が欠陥画素でない場合には、前記特定した前記第２の撮影画像に含まれる画素の画素値を用いて、前記第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の画素値を補正することを特徴とする請求項３に記載の放射線撮像装置。
【請求項１０】
前記補正処理手段は、前記特定した前記第２の撮影画像に含まれる画素が欠陥画素でなく、かつ、前記特定した前記第３の撮影画像に含まれる画素が欠陥画素でない場合には、前記特定した前記第２の撮影画像に含まれる画素の画素値、又は、前記特定した前記第３の撮影画像に含まれる画素の画素値を用いて、前記第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の画素値を補正することを特徴とする請求項９に記載の放射線撮像装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の処理方法及びプログラムに関する。
続きを表示（約 1,200 文字）【背景技術】
【０００２】
現在、放射線による医療画像診断や非破壊検査に用いる撮影装置として、半導体材料によって形成された平面検出器（ＦｌａｔＰａｎｅｌＤｅｔｅｃｔｏｒ、以下ＦＰＤと略す）を用いた放射線撮像装置が普及している。このような放射線撮像装置は、例えば医療画像診断においては、一般撮影のような静止画撮影や、透視撮影のような動画撮影のデジタル撮影装置として用いられている。また、工業用画像診断においては、半導体基板の静止画撮影、ＣＴ撮影にも用いられる。
【０００３】
ＦＰＤに使用される放射線センサは、複数の光電変換素子をマトリクス状に配列して構成されていることから、製造技術や周辺回路の問題に起因する、放射線を検出できない画素や他の画素と比べて放射線の検出感度が異なる素子が存在する。以降、このような素子及びこの素子から生成される画像の画素を欠陥画素と呼ぶ。
【０００４】
特許文献１には、予めＦＰＤの欠陥画素を記憶しておき、欠陥画素に近接する周辺の複数の正常画素により補正処理を施す画像内補正が開示されている。
【０００５】
また、特許文献２には、所定形状の欠陥画素が存在する場合、ＦＰＤに平行で且つ欠陥画素に直行する方向にＦＰＤを移動させて放射線画像の撮影を行い、各画像データ中の被写体の位置が一致するように各画像データを重畳させることが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
特開２００５－６１９６号公報
特開２００８－２３７５５０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１のように、欠陥画素に近接する周辺の複数画素による補正の場合、周辺画素にも欠陥画素があると、補正後の画素値の補正精度が低下、又は、補正できない欠陥画素が存在するため、製造コストの増加を招くという課題がある。
【０００８】
また、工業用非破壊検査装置は、ＦＰＤの位置を撮影制御部であらかじめ決められた位置に、ステージなどの駆動部により高速に移動し撮影する。そのため、特許文献２のように、取得した画像に所定形状の欠陥画素の有無を識別し、欠陥画素が存在した場合に、ＦＰＤを移動させて撮影するという制御ができない。
【０００９】
本開示の目的は、同一の撮影画像内の画素値を用いて欠陥画素の画素値を補正することによる補正精度の低下を抑制できるようにすることである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
放射線撮像装置は、放射線に基づく撮影画像を撮影する撮影手段と、前記撮影手段により第１の撮影位置で撮影された第１の撮影画像に含まれる欠陥画素の画素値を、前記第１の撮影位置とは異なる第２の撮影位置で撮影された第２の撮影画像を用いて補正する補正処理手段とを有する。
【発明の効果】
（【００１１】以降は省略されています）

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