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公開番号2025083821
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-06-02
出願番号2023197428
出願日2023-11-21
発明の名称検量線の取得方法
出願人株式会社チノー
代理人個人
主分類G01N 21/3563 20140101AFI20250526BHJP(測定;試験)
要約【課題】組成物の組成割合を赤外線吸収法で決定する際に、組成物を構成する複数の物質の吸収ピークが近接していると、決定が困難となる。
【課題を解決するための手段】吸収波長付近の波長と参照波長とからなる複数の組み合わせごとに、既知の組成割合のサンプルを赤外線吸収法で測定して得た光強度から、検量線候補を取得する。検量線候補に対し残差評価を行い、又波長の組合せが適切な関係にある検量線候補を使用する検量線と決定することで、吸収波長が近接する組成物であっても組成割合を決定できる検量線の取得方法を提供する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
組成物の組成割合を決定するために多変量解析法で観察物理量を変化させた複数の観察手段で得られた観察結果から組成割合を検出する検量線の取得方法であって、
既知の組成割合のサンプルを複数用意するサンプル用意ステップと、
用意した各サンプルについて観察物理量を変化させた観察結果を示す値を取得する観察結果取得ステップと、
サンプルごとの既知の組成割合と、前記サンプルから得られた観察結果から、前記観察結果を得た観察物理量ごとに複数の検量線候補を取得する検量線候補取得ステップと、
取得した検量線候補のそれぞれについて残差を評価するためのルールである残差評価ルールを用いて残差評価を行う残差評価ステップと、
残差評価の結果からその残差を評価した検量線候補を選択するための選択ルールを用いて所定の検量線候補を使用する検量線として決定する使用検量線決定ステップと、
からなる検量線の取得方法。
続きを表示（約 370 文字）【請求項２】
前記複数の観察手段とは、組成物に対して複数の波長の光を当てた場合の反射光強度（あるいは吸光度、透過光強度でも同じ。以下同じ。）の観察である請求項１に記載の検量線の取得方法。
【請求項３】
前記選択ルールとは、組成物がその組成割合をあらかじめ狙いをもって製造されたものである場合に、その狙った組成割合なら反射光強度に大きな変化が見込まれる光の波長と、その波長よりも長波長および短波長の光による観察を少なくとも複数の観察手段に含むものである請求項２に記載の検量線の取得方法。
【請求項４】
前記選択ルールは、組成物の光の反射強度がその組成割合以外の要因で変化する場合に、その変化による影響を受ける割合が低い波長の観察を選択するという選択ルールを含む請求項３に記載の検量線の取得方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、組成物の組成割合を決定するために多変量解析法で観察物理量を変化させた複数の観察手段で得られた観察結果から組成割合を検出する検量線の取得方法に関する。
続きを表示（約 2,000 文字）【背景技術】
【０００２】
ある測定値Ａと相関関係がある値Ｂを導き出す際に、測定値Ａから直接前記Ｂを求めることが困難だったり労力を要したりする場合に、あらかじめ複数の既知の値Ｂのサンプルを測定した値Ａと測定したサンプルの前記既知の値Ｂから、測定値Ａと値Ｂの関係を示す検量線を取得して実際の測定時に使用することが行われている。
【０００３】
特許文献１には、標準的な濃度定量の原理として、残差平方和が極小となるように検量線を定めることが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０１６－１７６９３９号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に記載の発明では、前記複数条件の水準の組合せごとに検量線候補を取得すると、残差平方和が極小になる検量線候補が実際の観察に使用する検量線（以下、使用検量線）として決定されることとなる。特許文献１には使用検量線の決定時に複数の条件の水準の組合せの内容が物理的に考慮されるかの記載がない。そのため、物理的に適切ではない因子水準の組み合わせから取得された検量線候補が、使用検量線として決定されうるという問題がある。
【０００６】
そこで本発明では、既知の組成割合のサンプルについて観察物理量（例：固形分濃度）を変化させた観察結果（例：光強度）を取得し、前記観察物理量と観察結果から、サンプルごとに複数の検量線候補を取得し、残差評価ルールや選択ルール（物理的なルールも含む）を用いた選択の結果、検量線候補内から使用する検量線として使用検量線として決定するという検量線の取得方法を提供する。さらに、吸収波長の光強度のほかに、吸収波長よりも短波長及び長波長の光強度の寄与度も最適化して、検量線候補を取得することにより、一層残差評価の結果に優れた検量線候補を提供し、より優れた検量線候補を使用検量線として決定する検量線の取得方法を提供することができる。
【０００７】
本発明を用いることで特に、測定対象が赤外線の反射率の低い黒色材料を用いた塗布膜のような場合や、固形分濃度を測定しようとする塗布膜（例：リチウムイオン電池の正極）の中に、測定対象となる溶媒と近接した吸収ピークを持つ材料が含まれるような場合や、前記２つの場合が重なる場合に、非接触非破壊で行える赤外吸収法によって短時間に使用する検量線を取得することができ、固形分濃度測定結果を得ることができる。製造ライン内で、その場で全数又は抜き取りで高頻度の、品質管理用の固形分濃度測定を行うことができ、部品での品質の向上と維持、部品を組み込んだ製品として所望の性能を満たさない不良品又は二級品の発生を抑制できる。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
以上のような検量線の取得方法に関する課題を解決するために、本願では、第一の発明として、
組成物の組成割合を決定するために多変量解析法で観察物理量を変化させた複数の観察手段で得られた観察結果から組成割合を検出する検量線の取得方法であって、
既知の組成割合のサンプルを複数用意するサンプル用意ステップと、
用意した各サンプルについて観察物理量を変化させた観察結果を示す値を取得する観察結果取得ステップと、
サンプルごとの既知の組成割合と、前記サンプルから得られた観察結果から、前記観察結果を得た観察物理量ごとに複数の検量線候補を取得する検量線候補取得ステップと、
取得した検量線候補のそれぞれについて残差を評価するためのルールである残差評価ルールを用いて残差評価を行う残差評価ステップと、
残差評価の結果からその残差を評価した検量線候補を選択するための選択ルールを用いて所定の検量線候補を使用する検量線として決定する使用検量線決定ステップと、
からなる検量線の取得方法を提供する。
【０００９】
第二の発明として、第一の発明を基礎として、
前記複数の観察手段とは、組成物に対して複数の波長の光を当てた場合の反射光強度（あるいは吸光度、透過光強度でも同じ。以下同じ。）の観察である検量線の取得方法を提供する。
【００１０】
第三の発明として、第一又は第二の発明のいずれか一を基礎として、
前記選択ルールとは、組成物がその組成割合をあらかじめ狙いをもって製造されたものである場合に、その狙った組成割合なら反射光強度に大きな変化が見込まれる光の波長と、その波長よりも長波長および短波長の光による観察を少なくとも複数の観察手段に含むものである検量線の取得方法を提供する。
（【００１１】以降は省略されています）

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