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公開番号2024084750
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-06-25
出願番号2024032896,2020121625
出願日2024-03-05,2020-07-15
発明の名称光源装置及び光パルス試験器
出願人横河電機株式会社,横河計測株式会社
代理人個人,個人,個人,個人
主分類H01S 5/14 20060101AFI20240618BHJP(基本的電気素子)
要約【課題】容易に中心波長を所定範囲内に収めることができる光源装置、及び当該光源装置を備える光パルス試験器を提供する。
【解決手段】光源装置は、第1共振器を形成する互いに平行な第1端面と第2端面とを有し、第1端面からレーザ光を射出する半導体レーザと、半導体レーザから射出されるレーザ光の光路上に配置され、半導体レーザの第2端面と第2共振器を形成し、半導体レーザの規定の中心波長を中心とする予め規定された波長幅の光に対する反射率が第1端面の反射率よりも高い反射特性を有する光学系と、を備える。
【選択図】図3
特許請求の範囲【請求項１】
第１共振器を形成する互いに平行な第１端面と第２端面とを有し、前記第１端面からレーザ光を射出する半導体レーザと、
前記半導体レーザから射出されるレーザ光の光路上に配置され、前記半導体レーザの前記第２端面と第２共振器を形成し、前記半導体レーザの規定の中心波長を中心とする予め規定された波長幅の光に対する反射率が前記第１端面の反射率よりも高い反射特性を有する光学系と、
を備える光源装置。
続きを表示（約 720 文字）【請求項２】
前記光学系は、前記反射特性を有する反射膜が設けられた第１面と、前記半導体レーザから射出されるレーザ光に対する反射防止膜が設けられた第２面と、を有する光学素子を備える請求項１記載の光源装置。
【請求項３】
前記光学系は、前記反射特性を有し、レーザ光の光路に対して斜め配置された第１光学素子と、
前記第１光学素子を透過したレーザ光を予め規定された比率で反射及び透過させる第２光学素子と、
を備える請求項１又は請求項２記載の光源装置。
【請求項４】
前記半導体レーザと前記光学系との間におけるレーザ光の光路上に設けられ、前記半導体レーザから射出されるレーザ光をコリメートするコリメート光学系を備える、請求項１から請求項３の何れか一項に記載の光源装置。
【請求項５】
前記光学系は、前記反射特性を有するファイバグレーティングが形成された反射部材を備えており、
前記半導体レーザと前記反射部材との間におけるレーザ光の光路上に設けられ、前記半導体レーザから射出されるレーザ光を前記反射部材に集光する集光光学系を備える、請求項１記載の光源装置。
【請求項６】
光ファイバに光パルスを入射させて得られる戻り光に基づいて、前記光ファイバの特性を試験する光パルス試験器において、
前記光パルスを射出する請求項１から請求項５の何れか一項に記載の光源装置と、前記戻り光を受光する受光装置とを有する双方向モジュールと、
前記受光装置の受光結果に基づいて前記光ファイバの特性を求める処理を行う信号処理部と、
を備える光パルス試験器。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、光源装置及び光パルス試験器に関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
光パルス試験器は、光パルスを試験対象である光ファイバに入射させ、光ファイバから得られる戻り光に基づいて光ファイバの特性を試験又は測定する装置である。この光パルス試験器には、例えば、ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer：光時間領域反射率計）、ＢＯＴＤＲ（Brillouin Optical Time Domain Reflectometer：ブリルアン光時間領域反射率計）、ＲＯＴＤＲ（Raman Optical Time Domain Reflectometer：ラマン光時間領域反射率計）と呼ばれるものがある。
【０００３】
ＯＴＤＲは、光ファイバ内で生ずるレイリー散乱光やフレネル反射光に基づいて光ファイバの伝送損失や障害点までの距離等を測定する機器である。ＢＯＴＤＲは、光ファイバ内で生ずるブリルアン散乱の後方散乱光に基づいて光ファイバの歪みや温度分布等を測定する機器である。ＲＯＴＤＲは、光ファイバ内で生ずるラマン散乱の後方散乱光に基づいて光ファイバの温度分布等を測定する機器である。
【０００４】
以下の特許文献１には、１つの半導体レーザから、光パルスと安定度の高い連続光（又は、変調光）とを出力させることができる従来の光パルス試験器が開示されている。また、以下の特許文献２には、半導体レーザ素子の前端面（又は、後端面）に形成された反射膜と、光ファイバの入射端面の露出面（又は、入射端面に形成された反射膜）とによって形成されたキャビディ内に波長選択フィルタが設けられた半導体レーザモジュールが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
特開２０１８－１３３４６号公報
特開２００２－１４１６０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上述した光パルス試験器では、一般的に、ファブリペロー型半導体レーザが用いられている。これは、ファブリペロー型半導体レーザは、比較的安価であって、高出力が得られるという理由による。しかしながら、ファブリペロー型半導体レーザは、個体間で中心波長のばらつきがあり、また、その中心波長は、温度変化によっても変化する。このため、ファブリペロー型半導体レーザは、個体を選別した上で、温度管理を行わないと、中心波長を予め規定された範囲内（例えば、規定値の１５ｎｍ以内）に収めるのは難しいという問題がある。
【０００７】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、容易に中心波長を所定範囲内に収めることができる光源装置、及び当該光源装置を備える光パルス試験器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の一態様による光源装置（２１、２１Ｂ、２１Ｃ、２２）は、第１共振器を形成する互いに平行な第１端面（Ｅ１）と第２端面（Ｅ２）とを有し、前記第１端面からレーザ光を射出する半導体レーザ（ＬＤ）と、前記半導体レーザから射出されるレーザ光の光路上に配置され、前記半導体レーザの前記第２端面と第２共振器（ＲＳ２）を形成し、前記半導体レーザの規定の中心波長を中心とする予め規定された波長幅の光に対する反射率が前記第１端面の反射率よりも高い反射特性を有する光学系（２１ｃ、２１ｅ、２１ｆ、２１ｈ）と、を備える。
【０００９】
ここで、本発明の一態様による光源装置は、前記光学系が、前記反射特性を有する反射膜が設けられた第１面（ＰＬ１）と、前記半導体レーザから射出されるレーザ光に対する反射防止膜が設けられた第２面（ＰＬ２）と、を有する光学素子（２１ｃ）を備える。
【００１０】
或いは、本発明の一態様による光源装置は、前記光学系が、前記反射特性を有し、レーザ光の光路に対して斜め配置された第１光学素子（２１ｅ）と、前記第１光学素子を透過したレーザ光を予め規定された比率で反射及び透過させる第２光学素子（２１ｆ）と、を備える。
（【００１１】以降は省略されています）

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