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公開番号2025178108
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-12-05
出願番号2025034025
出願日2025-03-04
発明の名称表面欠陥検出方法
出願人広東鴻浩半導体設備有限公司,Guangdong Honhor Semiconductor Equipment Co., Ltd.
代理人TRY国際弁理士法人
主分類G06T 1/00 20060101AFI20251128BHJP(計算;計数)
要約【課題】直感的で迅速かつ正確に被検出物画像中の異常点を判断することができる表面欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】方法は、被検物出画像を取得し、被検出物画像を予め訓練されたニューラルネットワークモデルに入力し、検出スコアが記載された複数の検出ボックスを得ることと、複数の検出ボックスに記載された検出スコアをそれぞれ二次元配列にマッピングすることと、検出スコアをフィッティングし、そしてフィッティングした検出スコアをRGB多項式回帰式に代入することと、検出スコアを代入したRGB多項式回帰式を利用して、二次元配列に記載された各検出スコアを三次元RGB数値にマッピングすることと、三次元RGB数値に基づいてヒートマップを生成し、ヒートマップを被検出物画像上に重畳して、ヒートマップ内に表示された異常点を提示することと、を含む。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
表面欠陥検出方法であって、
被検物出画像を取得し、前記被検出物画像を予め訓練されたニューラルネットワークモデルに入力し、検出スコアが記載された複数の検出ボックスを得ることと、
前記複数の検出ボックスに記載された検出スコアをそれぞれ二次元配列にマッピングすることと、
前記検出スコアをフィッティングし、そしてフィッティングした検出スコアをRGB多項式回帰式に代入することと、
前記検出スコアを代入したRGB多項式回帰式を利用して、前記二次元配列に記載された各検出スコアを三次元RGB数値にマッピングすることと、
前記三次元RGB数値に基づいてヒートマップを生成し、前記ヒートマップを前記被検出物画像上に重畳して、ヒートマップ内に表示された異常点を提示することとを含む、ことを特徴とする表面欠陥検出方法。
続きを表示(約 3,100 文字)【請求項2】
前記ニューラルネットワークモデルの訓練方法は、
それぞれマルチチャネルRGB画像である、異常点を有する被検出物の画像を撮影することと、
各前記被検出物画像中の異常点を手動でマーキングし、それぞれの内部には前記被検出物の異常点が含まれる検出ボックスを利用して画像に異常点を囲むことと、
異常点を含む画像をスクリーニングしてデータセットを構築し、前記データセットを訓練セットとテストセットに区分することと、
EfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルを構築し且つ訓練セットにおける画像データを入力して訓練し、EfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルを生成し、EfficientNet-SSDモデルの自律学習能力を利用して画像に特徴抽出を行い、異なる解像度の複数の特徴画像を取得し、前記異なる解像度の複数の特徴画像に基づいて、これらの特徴画像上に異なる解像度の複数の検出ボックスを生成し、異なる解像度の複数の検出ボックスにおける各画素点が異常点の確率を出力し、テストセットの画像データを利用して前記EfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルを評価することで、最適化後のニューラルネットワークモデルを取得することができることとを含む、ことを特徴とする請求項1に記載の表面欠陥検出方法。
【請求項3】
前記生成されたEfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルにより、生成された異なる解像度と位置との組み合わせの検出ボックスに位置調整を行うことで、これらの検出ボックスを異常点がマーキングされた真のボックスに近接させて、ニューラルネットワークモデルを最適化させ、これにより、最適化後のEfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルを得、テストセットの画像データを利用して前記最適化後のEfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルを評価することで、最適化後のニューラルネットワークモデルを取得することができることをさらに含む、ことを特徴とする請求項2に記載された表面欠陥検出方法。
【請求項4】
前記の、前記複数の検出ボックスに記載された検出スコアをそれぞれ二次元配列にマッピングすることは、
元の検出画像の大きさに従って、同じ大きさの二次元行列を確立することと、
検出ボックス内の各画素点の座標に従って、検出ボックス内の各画素点の検出スコアを前記二次元行列の対応する要素に対応づけて代入することと、
以上のステップを繰り返し、各検出ボックス内の各画素点の検出スコアを前記二次元行列の対応する要素に積算することとを含み、このように、二次元行列内の各要素値は、各検出ボックス内の対応する画素点の検出スコアを累積した累積和である、ことを特徴とする請求項1に記載の表面欠陥検出方法。
【請求項5】
前記二次元配列に記載された各検出スコアを三次元RGB数値にマッピングすることは、
元の検出画像の大きさに従って1つのRGB行列を生成し、二次元行列内の各要素の検出スコアをそれぞれR、G、B多項式回帰式で計算して前記RGB行列内の各RGBチャンネルの数値を得ることを含む、ことを特徴とする請求項3に記載された表面欠陥検出方法。
【請求項6】
前記の、フィッティングした検出スコアをRGB多項式回帰式に代入することは、
色と検出スコアとの関係をカスタムすることと、
前記検出スコアと色のRGB値との関係を利用して多項式回帰式f(x)=a



+a
n-1

(n-1)
+…+a



+a

x+a

における各定数を特定し、さらに下記多項式回帰式の解を得ることとを含む、ことを特徴とする請求項1又は5に記載された表面欠陥検出方法。
R=1.06105X

-3.12570X

+3.40036X

-1.68407X

+3.86728X

-3.68337X

+1.01210X

+1.38694、
G=2.12211X

-7.73688X

+1.12571X

-8.26694X

+3.14362X

-5.52839X

+3.37545X

-1.98135、
B=-2.12211X

+8.29394X

-1.29283X

+1.01249X

-4.07428X

+7.41653X

-3.57669X

+7.92540。
【請求項7】
前記色と検出スコアとの関係は、以下のとおりであり、
検出スコアが1の場合に対応するRGB値は、それぞれ255、0、0であり、
検出スコアが0.875の場合に対応するRGB値は、それぞれ255、127.5、0であり、
検出スコアが0.75の場合に対応するRGB値は、それぞれ255、255、0であり、
検出スコアが0.625の場合に対応するRGB値は、それぞれ127.5、255、0であり、
検出スコアが0.5の場合に対応するRGB値は、それぞれ0、255、0であり、
検出スコアが0.375の場合に対応するRGB値は、それぞれ0、127.5、127.5であり、
検出スコアが0.25の場合に対応するRGB値は、それぞれ0、0、255であり、
検出スコアが0.125の場合に対応するRGB値は、それぞれ0、0、127.5であり、
検出スコアが0の場合に対応するRGB値は、それぞれ0、0、0である、ことを特徴とする請求項6に記載された表面欠陥検出方法。
【請求項8】
前記フィッティングした検出スコアを代入したRGB多項式回帰式において、特定係数R

Scoreは、モデルの適合性を評価する指標であり、
JPEG
2025178108000007.jpg
18
170
【請求項9】
前記二次元配列に記載された各検出スコアを正規化処理し後に(0~1)にマッピングすることをさらに含み、正規化式は、以下のとおりであり、
JPEG
2025178108000008.jpg
24
170
【請求項10】
撮影された、被検出物が記載された画像を前処理した後に、予め訓練されたEfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルに入力し、複数の解像度と位置との組み合わせの検出ボックスにおける各画素点が異常点の検出スコアを生成する、ことを特徴とする請求項1に記載の表面欠陥検出方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、画像検出の技術分野に関し、具体的には、表面欠陥検出方法に関する。
続きを表示(約 2,600 文字)【背景技術】
【0002】
ヒートマップ(Heatmap)は、データ密度を色で表示する視覚化ツールである。データを異なる色のホットポイント形式で二次元空間に表示し、データの分布状況と集中度を示すために用いられる。これにより、データの傾向とパターンを観察するのに役立ち。数値データを色にマッピングすることで、ヒートマップを生成する。通常、データ値が大きいほど色が濃くなり、データ値が小さいほど色が薄くなる。これは、さまざまな製品の異常障害タイプの検出に適用することができる。
【0003】
現在、ウエハ異常点を検出するための一般的な方法では、検出ボックスで結果を提示するのは、良い方法であるが、検出ボックスが多すぎると、検出結果を見るのにかなり不利であり、1枚の図に複数の検出ボックスが現れ、検出ボックスが重なると考えてみると、このような検出結果の図は、かなり複雑であり、検出結果の判断にも不利である。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
これに鑑み、本発明は、従来の表面欠陥検出方法の精度が高くない問題を解決することを目的とした表面欠陥検出方法を提案する。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明は、表面欠陥検出方法であって、
被検物出画像を取得し、前記被検出物画像を予め訓練されたニューラルネットワークモデルに入力し、検出スコアが記載された複数の検出ボックスを得ることと、
前記複数の検出ボックスに記載された検出スコアをそれぞれ二次元配列にマッピングすることと、
前記検出スコアをフィッティングし、そしてフィッティングした検出スコアをRGB多項式回帰式に代入することと、
前記検出スコアを代入したRGB多項式回帰式を利用して、前記二次元配列に記載された各検出スコアを三次元RGB数値にマッピングすることと、
前記三次元RGB数値に基づいてヒートマップを生成し、前記ヒートマップを前記被検出物画像上に重畳して、ヒートマップ内に表示された異常点を提示することとを含む、表面欠陥検出方法を提供する。
【0006】
さらに、上記表面欠陥検出方法では、前記ニューラルネットワークモデルの訓練方法は、
それぞれマルチチャネルRGB画像である、異常点を有する被検出物の画像を撮影することと、
各前記被検出物画像中の異常点を手動でマーキングし、それぞれの内部には前記被検出物の異常点が含まれる検出ボックスを利用して画像に異常点を囲むことと、
異常点を含む画像をスクリーニングしてデータセットを構築し、前記データセットを訓練セットとテストセットに区分することと、
EfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルを構築し且つ訓練セットにおける画像データを入力して訓練し、EfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルを生成し、EfficientNet-SSDモデルの自律学習能力を利用して画像に特徴抽出を行い、異なる解像度の複数の特徴画像を取得し、上記異なる解像度の複数の特徴画像に基づいて、これらの特徴画像上に異なる解像度の複数の検出ボックスを生成し、異なる解像度の複数の検出ボックスにおける各画素点が異常点の確率を出力し、テストセットの画像データを利用して上記EfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルを評価することで、最適化後のニューラルネットワークモデルを取得することができることとを含む。
【0007】
さらに、上記表面欠陥検出方法では、上記生成されたEfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルにより、生成された異なる解像度と位置との組み合わせの検出ボックスに位置調整を行うことで、これらの検出ボックスを異常点がマーキングされた真のボックスに近接させて、ニューラルネットワークモデルを最適化させ、これにより、最適化後のEfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルを得、テストセットの画像データを利用して上記最適化後のEfficientNet-SSDアルゴリズムに基づくニューラルネットワークモデルを評価することで、最適化後のニューラルネットワークモデルを取得することができることをさらに含む。
【0008】
さらに、上記表面欠陥検出方法では、前記の、前記複数の検出ボックスに記載された検出スコアをそれぞれ二次元配列にマッピングすることは、
元の検出画像の大きさに従って、同じ大きさの二次元行列を確立することと、
検出ボックス内の各画素点の座標に従って、検出ボックス内の各画素点の検出スコアを前記二次元行列の対応する要素に対応づけて代入することと、
以上のステップを繰り返し、各検出ボックス内の各画素点の検出スコアを前記二次元行列の対応する要素に積算することとを含み、このように、二次元行列内の各要素値は、各検出ボックス内の対応する画素点の検出スコアを累積した累積和である。
【0009】
さらに、上記表面欠陥検出方法では、二次元配列に記載された各検出スコアを三次元RGB数値にマッピングすることは、
元の検出画像の大きさに従って1つのRGB行列を生成し、二次元行列内の各要素の検出スコアをそれぞれR、G、B多項式回帰式で計算して前記RGB行列内の各RGBチャンネルの数値を得ることを含む。
【0010】
さらに、上記表面欠陥検出方法では、前記の、フィッティングした検出スコアをRGB多項式回帰式に代入することは、
色と検出スコアとの関係をカスタムすることと、
前記検出スコアと色のRGB値との関係を利用して多項式回帰式f(x)=a



+a
n-1

(n-1)
+…+a



+a

x+a

における各定数を特定し、さらに下記多項式回帰式の解を得ることとを含む。
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する

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