特許ウォッチ

公開番号2025137904
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-25
出願番号2024036434
出願日2024-03-11
発明の名称疵判定方法
出願人大同特殊鋼株式会社
代理人個人
主分類G06T 7/00 20170101AFI20250917BHJP(計算;計数)
要約【課題】現場の疵判定作業の感覚に近い学習モデルによる疵判定が可能な疵判定方法を提供する。
【解決手段】被検体Mの表面疵を疵種で分類し、分類された各表面疵に対する作業者4a～4iの目視による疵判定割合を算出して、当該疵判定割合と同一の割合でアノテーションを付与した表面疵画像の教師データによってAIモデル31の機械学習を行い、その出力結果が作業者4a～4iの疵判定割合に最も近い疵検出率となるように前記機械学習の疵判定閾値を決定する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
被検体の表面疵を疵種で分類し、分類された各表面疵に対する作業者の目視による疵判定割合を算出して、当該疵判定割合と同一の割合でアノテーションを付与した表面疵画像の教師データによって機械学習モデルを学習させ、作業者の疵判定割合に最も近い疵検出率となるように前記機械学習の疵判定閾値を決定する疵判定方法。
続きを表示（約 240 文字）【請求項２】
前記表面疵を、その大きさを含む前記疵種で分類した請求項１に記載の疵判定方法。
【請求項３】
前記機械学習を、物体検出用ＡＩモデルで行い、作業者の疵判定割合が１００％の時に前記物体検出用ＡＩモデルの検出率が１００％となる条件下で、当該物体検出用ＡＩモデルの検出率が作業者の疵判定割合に対して最も誤差が小さくなるような信頼度スコアの閾値を選定して、これを前記物体検出用ＡＩモデルの前記疵判定閾値として決定する請求項１又は２に記載の疵判定方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は疵判定方法に関し、特に機械学習を使用した疵判定方法に関するものである。
続きを表示（約 1,200 文字）【背景技術】
【０００２】
例えば特許文献１にはＡＩモデルを使用した欠陥検査システムが開示されており、ここでは第１の学習モデルによる欠陥（疵）過検出を避けて欠陥判定精度を上げるために、さらに第２の学習モデルを設けて、当該第２の学習モデルに上記第１の学習モデルの判定結果を再判定させ、再判定結果を第１の学習モデルに教師データとしてフィードバックしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０２２－１７０２９９
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、教師データとして付与する疵位置や疵クラス等のアノテーションは、付与者の裁量によっていることから、一人の付与者によって学習させたモデルの推論結果が他の大勢の意見と異なった場合、学習モデルの疵判定感度が、全体的な意見と大きく偏っている可能性が生まれる。特に、作業者間の判定ばらつきが大きい鋼片の中間検査のような現場では、上述の付与方法では、疵判定作業の感覚から大きくずれるという問題があった。
【０００５】
そこで、本発明はこのような問題を解決するもので、現場の疵判定作業者の平均的な感覚に近い学習モデルによる疵判定が可能な方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本第１発明では、被検体（Ｍ）の表面疵を疵種で分類し、分類された各表面疵に対する作業者（４ａ～４ｉ）の目視による疵判定割合を算出して、当該疵判定割合と同一の割合でアノテーションを付与した表面疵画像の教師データによって機械学習モデル（３１）を学習させ、作業者（４ａ～４ｉ）の疵判定割合に最も近い疵検出率となるように前記機械学習の疵判定閾値を決定する。ここでいう疵判定割合とは、各作業者が疵とみなすか、みなさないかの割合を指す。
【０００７】
本第１発明によれば、作業者の疵判定割合に最も近い疵判定割合となるように機械学習の疵判定閾値を決定しているから、検出不足や過検出を生じることなく、現場の疵判定作業の感覚に近い学習モデルによる疵判定が可能となる。
【０００８】
本第２発明では、前記表面疵を、その大きさを含む疵種で分類する。
【０００９】
本第３発明では、前記機械学習を、物体検出用ＡＩモデル（３１）で行い、作業者の疵判定割合が１００％の時に前記物体検出用ＡＩモデル（３１）の検出率が１００％となる条件下で、当該物体検出用ＡＩモデル（３１）の検出率が作業者の疵判定割合に対して最も誤差が小さくなるような信頼度スコアの閾値を選定して、これを前記物体検出用ＡＩモデル（３１）の前記疵判定閾値として決定する。
【００１０】
上記カッコ内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を参考的に示すものである。
【発明の効果】
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許