TOP
|
特許
|
意匠
|
商標
特許ウォッチ
Twitter
他の特許を見る
10個以上の画像は省略されています。
公開番号
2025012828
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-01-24
出願番号
2023115955
出願日
2023-07-14
発明の名称
光学式ガスセンサ装置及び光学式ガスセンサ装置の製造方法
出願人
ミツミ電機株式会社
代理人
個人
,
個人
主分類
G01N
21/61 20060101AFI20250117BHJP(測定;試験)
要約
【課題】光源及び受光部の少なくとも一方に対する外部環境の影響を低減することである。
【解決手段】光学式ガスセンサ装置100aは、赤外線を検出対象のガスに出射する光源と、赤外線を透過する光学フィルタと、光学フィルタを介して入射された赤外線を検出して検出信号を生成する受光部と、基板6と、を備える。光学式ガスセンサ装置100aは、光学フィルタが搭載され、光源を封止する封止具20a及び受光部を封止する封止具40aを備える。封止具20a,40aは、基板6に実装されている。
【選択図】図3
特許請求の範囲
【請求項1】
赤外線を検出対象のガスに出射する光源と、
前記赤外線を透過する光学フィルタと、
前記光学フィルタを介して入射された赤外線を検出して検出信号を生成する受光部と、
第1の基板と、を備える光学式ガスセンサ装置であって、
前記光学フィルタが搭載され、前記光源又は前記受光部を封止する封止具を備え、
前記封止具は、前記第1の基板に実装されている光学式ガスセンサ装置。
続きを表示(約 1,200 文字)
【請求項2】
前記光学フィルタは、前記赤外線の反射を防いで透過するARフィルタと、前記検出対象のガスの吸収波長に対応する波長の赤外線を透過するλ選択フィルタと、の少なくとも一方である請求項1に記載の光学式ガスセンサ装置。
【請求項3】
前記封止具は、前記光源又は前記受光部の電気的な接続部を封止する請求項1に記載の光学式ガスセンサ装置。
【請求項4】
前記封止具は、前記光源又は前記受光部の側面を囲う第1の保護カバーを有し、
前記光学フィルタは、前記第1の保護カバーの上面の開口に搭載されている請求項1に記載の光学式ガスセンサ装置。
【請求項5】
前記第1の保護カバーは、当該光源又は当該受光部の空間につながる通気孔を有し、
前記通気孔は、接着剤で塞がれている請求項4に記載の光学式ガスセンサ装置。
【請求項6】
前記封止具の前記光源又は前記受光部は、前記第1の基板に直接実装されている請求項4に記載の光学式ガスセンサ装置。
【請求項7】
前記封止具は、前記光源又は前記受光部が実装される第2の基板を有し、
前記第2の基板は、前記第1の基板に実装されている請求項4に記載の光学式ガスセンサ装置。
【請求項8】
前記封止具は、前記光源又は前記受光部の側面及び底面を囲う第2の保護カバーを有し、
前記光学フィルタは、前記第2の保護カバーの上面の開口に搭載されている請求項1に記載の光学式ガスセンサ装置。
【請求項9】
前記光源から出射された赤外線を、前記検出対象のガスを介して、前記受光部へ導く光学カバーを備え、
前記光学カバーは、前記第1の基板に実装されている請求項1から8のいずれか一項に記載の光学式ガスセンサ装置。
【請求項10】
赤外線を検出対象のガスに出射する光源と、
前記赤外線を透過する光学フィルタと、
前記光学フィルタを介して入射された赤外線を検出して検出信号を生成する受光部と、
第1の基板と、を備える光学式ガスセンサ装置の製造方法であって、
前記光源及び前記受光部を前記第1の基板へ実装する第1の実装工程と、
前記光学フィルタが搭載され、前記光源又は前記受光部を封止する封止具を前記第1の基板に実装する第2の実装工程と、を含み、
前記第2の実装工程において、
前記光源又は前記受光部の側面を囲い当該光源又は当該受光部の空間につながる通気孔を有する第1の保護カバーを前記第1の基板へ実装し、前記光学フィルタを当該第1の保護カバーの上面の開口に搭載して前記封止具とし、前記第1の基板への前記光源、前記受光部及び回路部品の実装の熱処理後に、前記通気孔を接着剤で塞ぐ光学式ガスセンサ装置の製造方法。
(【請求項11】以降は省略されています)
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、光学式ガスセンサ装置及び光学式ガスセンサ装置の製造方法に関する。
続きを表示(約 1,900 文字)
【背景技術】
【0002】
従来、家庭や工場、事業所における化学物質に関する管理や作業者の安全の視点でガス濃度の常時観測が行われている。ガス濃度の観測に、CO
2
などのガスの濃度を検出する非分散赤外線吸収方式(NDIR:Non Dispersive InfraRed)によるガスセンサが知られている。NDIRのガスセンサは、多くのガスが各々固有の赤外線波長を吸収する性質を利用して、検出対象のガスに赤外線を放射した時、どの波長がどれくらい吸収されたかを検出して、検出対象のガス中の濃度を測るセンサである。例えば、赤外線の光源及び受光部を備え、光源及び受光部の光路上にある被検出ガスの濃度を検出するガスセンサである。
【0003】
また、発光ダイオードと、発光ダイオードから出射された近赤外線を案内する環状放射線ガイドと、案内された近赤外線を検出するフォトダイオードと、を備える光吸収ガスセンサが知られている(特許文献1参照)。光源としての発光ダイオードと、受光部としてのフォトダイオードとは、プリント回路板上に実装されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特表2013-517467号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかし、上記光吸収ガスセンサは、光源及び受光部を剥き出しにしてプリント回路板上に搭載している。剥き出しの光源及び受光部において、外部環境(湿度、温度、気圧)の影響が大きいことが判明した。外部環境により、主に光源の光量が変化する。
【0006】
例として、光源及び受光部をMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)で構成し、気圧が下がった場合を説明する。気圧が下がるということは、光源のヒータ表面に衝突する空気中の分子そのものの数が減るので、ヒータから熱が奪われにくくなる。真空であれば、いわゆる魔法瓶のような断熱の状態となる。このように、気圧が下がった場合には、同じエネルギーを光源に印加した時、空気中の分子に奪われる熱が減るのでヒータ表面の温度が上昇することになる。
【0007】
上記のように、光源が剥き出しの場合には、ヒータ表面に触れる気体の分子の種類や温度、圧力の環境により、赤外線領域での光量が異なってしまう。この構成では、環境のパラメータを取得してフィードバックをかけない限り、発光強度が、工場で補正した時と異なるため、誤差が大きくなり、ガス濃度が実際と乖離した値となる。また、閾値を設けてアラートを出すような機能を設けたガスセンサモジュールの場合には、誤報となるおそれがある。ここでは、光源の現象を示したが、受光部においても同様の現象がある。
【0008】
本発明の課題は、光源及び受光部の少なくとも一方に対する外部環境の影響を低減することである。
【課題を解決するための手段】
【0009】
上記課題を解決するため、本発明は、
赤外線を検出対象のガスに出射する光源と、
前記赤外線を透過する光学フィルタと、
前記光学フィルタを介して入射された赤外線を検出して検出信号を生成する受光部と、
第1の基板と、を備える光学式ガスセンサ装置であって、
前記光学フィルタが搭載され、前記光源又は前記受光部を封止する封止具を備え、
前記封止具は、前記第1の基板に実装されている。
【0010】
また、本発明は、
赤外線を検出対象のガスに出射する光源と、
前記赤外線を透過する光学フィルタと、
前記光学フィルタを介して入射された赤外線を検出して検出信号を生成する受光部と、
第1の基板と、を備える光学式ガスセンサ装置の製造方法であって、
前記光源及び前記受光部を前記第1の基板へ実装する第1の実装工程と、
前記光学フィルタが搭載され、前記光源又は前記受光部を封止する封止具を前記第1の基板に実装する第2の実装工程と、を含み、
前記第2の実装工程において、
前記光源又は前記受光部の側面を囲い当該光源又は当該受光部の空間につながる通気孔を有する第1の保護カバーを前記第1の基板へ実装し、前記光学フィルタを当該第1の保護カバーの上面の開口に搭載して前記封止具とし、前記第1の基板への前記光源、前記受光部及び回路部品の実装の熱処理後に、前記通気孔を接着剤で塞ぐ。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPatで参照する
関連特許
ミツミ電機株式会社
負荷駆動回路及び負荷駆動回路の制御方法
4日前
ミツミ電機株式会社
スイッチング電源装置および電源制御用半導体装置
12日前
個人
集束超音波の測定機
18日前
個人
センサ制御回路
18日前
日本精機株式会社
車両用計器
25日前
甲神電機株式会社
電流検出器
11日前
甲神電機株式会社
電流センサ
11日前
株式会社大真空
センサ
6日前
甲神電機株式会社
漏電検出器
11日前
株式会社大真空
センサ
22日前
ユニパルス株式会社
ロードセル
5日前
CKD株式会社
検査装置
25日前
株式会社高橋型精
採尿具
12日前
株式会社トプコン
測量装置
11日前
株式会社トプコン
測量装置
25日前
株式会社トプコン
測量装置
25日前
ダイトロン株式会社
外観検査装置
18日前
株式会社国際電気
治具セット
25日前
学校法人東京電機大学
干渉計
19日前
アズビル株式会社
熱式流量計
12日前
株式会社諸岡
自動運転作業機
22日前
アズビル株式会社
漏液センサ
22日前
日本特殊陶業株式会社
ガスセンサ
12日前
株式会社ミトミ技研
圧力測定装置
18日前
豊田合成株式会社
表示装置
11日前
TDK株式会社
磁気センサ
18日前
シャープ株式会社
収納装置
12日前
シャープ株式会社
測定装置
25日前
アズビル株式会社
真空計測システム
22日前
トヨタ自動車株式会社
画像検査装置
6日前
理研計器株式会社
ガス検知器
22日前
株式会社ジェイテクト
荷重付与装置
25日前
個人
電気計器用結線器
22日前
株式会社JVCケンウッド
撮像装置
19日前
エスペック株式会社
試験装置
19日前
アズビル株式会社
ヒータ温度推定装置
19日前
続きを見る
他の特許を見る