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公開番号
2024136539
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2024-10-04
出願番号
2023047685
出願日
2023-03-24
発明の名称
半導体記憶装置、半導体記憶装置の制御方法
出願人
キオクシア株式会社
代理人
個人
,
個人
,
個人
主分類
G11C
29/00 20060101AFI20240927BHJP(情報記憶)
要約
【課題】有効ブロック数を改善することが可能な半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置は、第1レジスタと、第2レジスタと、第3レジスタと、第1アドレス登録部と、第2アドレス登録部と、を備える。第1レジスタは、第1物理プレーンの物理ブロックのアドレスである第1アドレスの情報を保持する。第2レジスタは、第2物理プレーンの物理ブロックのアドレスである第2アドレスの情報を保持する。第3レジスタは、第1物理プレーンにおいて不良な物理ブロックのアドレスであって、且つ第2物理プレーンにおいて正常な物理ブロックのアドレスである第3アドレスの情報を保持する。第1アドレス登録部は、第1アドレスに対応する第2物理プレーンの物理ブロックが不良なブロックである場合、第3レジスタに保持されている第3アドレスを第2アドレスとして第2レジスタに登録する。
【選択図】図10
特許請求の範囲
【請求項1】
複数のメモリセルの集合である物理ブロックをそれぞれ複数有する複数の物理プレーンを有し、複数の前記物理プレーンを組み合わせて一つの論理プレーンとして動作させる半導体記憶装置であって、
前記論理プレーンとして動作する複数の物理プレーンのうちの一つを第1物理プレーンとし、前記第1物理プレーンとは別の物理プレーンを第2物理プレーンとするとき、
前記第1物理プレーンの物理ブロックのアドレスである第1アドレスの情報を保持するための第1レジスタと、
前記第1アドレスに対応付けられる前記第2物理プレーンの物理ブロックのアドレスである第2アドレスの情報を保持するための第2レジスタと、
前記第1物理プレーンにおいて不良な物理ブロックのアドレスであって、且つ前記第2物理プレーンにおいて正常な物理ブロックのアドレスである第3アドレスの情報を保持するための第3レジスタと、
前記第1アドレスに対応する前記第2物理プレーンの物理ブロックが不良なブロックである場合、前記第3レジスタに保持されている前記第3アドレスを前記第2アドレスとして前記第2レジスタに登録する第1アドレス登録部と、
電源投入後に実行されるパワーオンリード処理の際に、前記第3アドレスの情報を前記第3レジスタに登録する第2アドレス登録部と、を備える
半導体記憶装置。
続きを表示(約 1,700 文字)
【請求項2】
前記第1レジスタは、前記第1アドレスとして、前記第2物理プレーンにおいて不良なブロックのアドレスであって、且つ前記第1物理プレーンにおいて正常なブロックのアドレスを保持する
請求項1に記載の半導体記憶装置。
【請求項3】
前記第1アドレス登録部は、
前記第1レジスタに保持される前記第1アドレスを読み込み、
前記第1アドレスに対応する前記第2物理プレーンの物理ブロックが正常なブロックである場合、前記第1アドレスを前記第2アドレスとして前記第2レジスタにそのまま登録し、
前記第1アドレスに対応する前記第2物理プレーンの物理ブロックが不良なブロックである場合、前記第1アドレスを前記第3レジスタに変換して、当該第3アドレスを前記第2アドレスとして前記第2レジスタに登録する
請求項1に記載の半導体記憶装置。
【請求項4】
前記第1アドレス登録部は、
前記第1プレーンにおいて正常なブロックであって、且つ前記第2物理プレーンにおいて不良なブロックのアドレスである第4アドレスを保持するための第4レジスタを更に備える
請求項1に記載の半導体記憶装置。
【請求項5】
前記第1アドレス登録部は、
前記第1レジスタに保持される前記第1アドレスを読み込むとともに、読み込んだ前記第1アドレスと、前記第4レジスタに保持される前記第4アドレスとを比較して、それらが一致しているか否かを示す信号を出力する比較回路と、
前記第1レジスタに保持される前記第1アドレスを読み込むとともに、読み込んだ前記第1アドレスと、前記第4レジスタに保持される前記第4アドレスとが一致している場合には、前記第1アドレスを、前記第3レジスタに保持される前記第3アドレスに変換する変換回路と、
前記第1レジスタに保持される前記第1アドレスと、前記変換回路により変換されたアドレスとを取り込むとともに、前記比較回路の出力信号に基づいて前記第1アドレス及び前記変換回路により変換されたアドレスのいずれかを前記第2レジスタに出力するマルチプレクサと、を備え、
前記マルチプレクサは、
前記比較回路から出力される信号が、前記第1アドレスと、前記第4レジスタに保持される前記第4アドレスとが不一致であることを示す信号である場合、前記第1アドレスを前記第2レジスタに出力し、
前記比較回路から出力される信号が、前記第1アドレスと、前記第4レジスタに保持される前記第4アドレスとが一致していることを示す信号である場合、前記変換回路により変換されたアドレスを前記第2レジスタに出力する
請求項4に記載の半導体記憶装置。
【請求項6】
前記第2アドレス登録部は、前記パワーオンリード処理の際に、前記第4レジスタの情報を前記第4レジスタに更に登録する
請求項4に記載の半導体記憶装置。
【請求項7】
複数のメモリセルの集合である物理ブロックをそれぞれ複数有する複数の物理プレーンを有し、複数の前記物理プレーンを組み合わせて一つの論理プレーンとして動作させる半導体記憶装置の制御方法であって、
前記論理プレーンとして動作する複数の物理プレーンのうちの一つを第1物理プレーンとし、前記第1物理プレーンとは別の物理プレーンを第2物理プレーンとするとき、
前記第1物理プレーンの物理ブロックのアドレスである第1アドレスの情報を第1レジスタに保持し、
前記第1アドレスに対応付けられる前記第2物理プレーンの物理ブロックのアドレスである第2アドレスの情報を第2レジスタに保持し、
前記第1アドレスに対応する前記第2物理プレーンの物理ブロックが不良なブロックである場合、前記第1物理プレーンにおいて不良な物理ブロックのアドレスであって、且つ前記第2物理プレーンにおいて正常な物理ブロックのアドレスである第3アドレスを前記第2アドレスとして前記第2レジスタに登録し、
電源投入後に実行されるパワーオンリード処理の際に、前記第3アドレスの情報を第3レジスタに登録する
半導体記憶装置の制御方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明の実施形態は、半導体記憶装置、及び半導体記憶装置の制御方法に関する。
続きを表示(約 2,600 文字)
【背景技術】
【0002】
半導体記憶装置では、通常メモリ領域と冗長メモリ領域とが設けられており、通常メモリ領域の不良なブロックのアドレスを冗長メモリ領域の正常なブロックに置き換える。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
米国特許出願公開第2004/0003315号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
開示された実施形態によれば、有効ブロック数を改善することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法が提供される。
【課題を解決するための手段】
【0005】
実施形態の半導体記憶装置は、複数のメモリセルの集合である物理ブロックをそれぞれ複数有する複数の物理プレーンを有し、複数の物理プレーンを組み合わせて一つの論理プレーンとして動作させる半導体記憶装置である。半導体記憶装置は、第1レジスタと、第2レジスタと、第3レジスタと、第1アドレス登録部と、第2アドレス登録部と、を備える。論理プレーンとして動作する複数の物理プレーンのうちの一つを第1物理プレーンとし、第1物理プレーンとは別の物理プレーンを第2物理プレーンとするとき、第1レジスタは、第1物理プレーンの物理ブロックのアドレスである第1アドレスの情報を保持するためのものであり、第2レジスタは、第1アドレスに対応付けられる第2物理プレーンの物理ブロックのアドレスである第2アドレスの情報を保持するためのものである。第3レジスタは、第1物理プレーンにおいて不良な物理ブロックのアドレスであって、且つ第2物理プレーンにおいて正常な物理ブロックのアドレスである第3アドレスの情報を保持するためのものである。第1アドレス登録部は、第1アドレスに対応する第2物理プレーンの物理ブロックが不良なブロックである場合、第3レジスタに保持されている第3アドレスを第2アドレスとして第2レジスタに登録する。第2アドレス登録部は、電源投入後に実行されるパワーオンリード処理の際に、第3アドレスの情報を第3レジスタに登録する。
【0006】
実施形態の半導体記憶装置の制御方法は、複数のメモリセルの集合である物理ブロックをそれぞれ複数有する複数の物理プレーンを有し、複数の物理プレーンを組み合わせて一つの論理プレーンとして動作させる半導体記憶装置の制御方法である。この制御方法は、論理プレーンとして動作する複数の物理プレーンのうちの一つを第1物理プレーンとし、第1物理プレーンとは別の物理プレーンを第2物理プレーンとするとき、第1物理プレーンの物理ブロックのアドレスである第1アドレスの情報を第1レジスタに保持し、第1アドレスに対応付けられる第2物理プレーンの物理ブロックのアドレスである第2アドレスの情報を第2レジスタに保持し、第1アドレスに対応する第2物理プレーンの物理ブロックが不良なブロックである場合、第1物理プレーンにおいて不良な物理ブロックのアドレスであって、且つ第2物理プレーンにおいて正常な物理ブロックのアドレスである第3アドレスを第2アドレスとして第2レジスタに登録し、電源投入後に実行されるパワーオンリード処理の際に、第3アドレスの情報を第3レジスタに登録する。
【図面の簡単な説明】
【0007】
実施形態のメモリシステムの概略構成を示すブロック図。
実施形態の半導体記憶装置の概略構成を示すブロック図。
実施形態のレジスタの概略構成を示すブロック図。
実施形態のロウデコーダとメモリセルアレイの接続の一例を示すブロック図。
実施形態の半導体記憶装置の構成を示す回路図。
実施形態の半導体記憶装置の断面構造を示す断面図。
論理アドレスから物理アドレスを設定する方法の一例を示すブロック図。
論理ブロックアドレスの設定例を模式的に示す図。
実施形態の論理ブロックアドレスの設定例を模式的に示す図。
実施形態のアドレスレジスタの概略構成を示すブロック図。
実施形態の半導体記憶装置における論理ブロックアドレスの設定例を模式的に示す図。
(A),(B)は、実施形態のブロック状態レジスタ及び置き換えレジスタに保持される情報の一例を模式的に示す図。
実施形態の半導体記憶装置の動作例を示すフローチャート。
他の実施形態の半導体記憶装置の断面構造を示す断面図。
【発明を実施するための形態】
【0008】
1 実施形態
以下、実施形態の半導体記憶装置及びその制御方法について図面を参照しながら説明する。本実施形態では、半導体記憶装置として、メモリセルトランジスタが半導体基板の上方に積層された三次元積層型NAND型フラッシュメモリを例に挙げて説明する。説明の理解を容易にするため、各図面において同一の構成要素に対しては可能な限り同一の符号を付して、重複する説明は省略する。
【0009】
1.1 メモリシステムの構成
図1に示されるように、本実施形態のメモリシステムは、メモリコントローラ1と、半導体記憶装置2とを備えている。メモリシステムはホストと接続可能である。ホストは例えばパーソナルコンピュータや携帯端末等の電子機器である。なお、図1では半導体記憶装置2が一つのみ図示されているが、実際のメモリシステムには半導体記憶装置2が複数設けられている。
【0010】
メモリコントローラ1は、ホストからの書き込みリクエストに従って半導体記憶装置2へのデータの書き込みを制御する。また、メモリコントローラ1は、ホストからの読み出しリクエストに従って半導体記憶装置2からのデータの読み出しを制御する。
メモリコントローラ1と半導体記憶装置2との間では、チップイネーブル信号/CE、レディービジー信号/RB、コマンドラッチイネーブル信号CLE、アドレスラッチイネーブル信号ALE、ライトイネーブル信号/WE、リードイネーブル信号RE,/RE、ライトプロテクト信号/WP、データの信号DQ<7:0>、及びデータストローブ信号DQS,/DQSの各信号が送受信される。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPatで参照する
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