TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
10個以上の画像は省略されています。
公開番号2024126949
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-09-20
出願番号2023035733
出願日2023-03-08
発明の名称光学制御装置、光学機器および光学制御方法
出願人キヤノン株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類G02B 7/04 20210101AFI20240912BHJP(光学)
要約【課題】光学素子の位置を短時間で取得する。
【解決手段】光学制御装置は、第1光学素子104および第2光学素子105をそれぞれ保持して光軸方向に移動可能な第1光学素子ユニットおよび第2光学素子ユニットの駆動を制御する。該光学制御装置は、第1および第2光学素子ユニットのうち一方の光学素子ユニットの光軸方向での位置を検出する位置検出手段109と、第1および第2光学素子ユニットのうち他方の光学素子ユニットを上記一方の光学素子ユニットに当接する当接位置に駆動し、該当接位置において、位置検出手段により検出された上記一方の光学素子ユニットの位置を用いて上記他方の光学素子ユニットの光軸方向での位置を取得する制御手段106とを有する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項1】
第1光学素子および第2光学素子をそれぞれ保持して光軸方向に移動可能な第1光学素子ユニットおよび第2光学素子ユニットの駆動を制御する光学制御装置であって、
前記第1および第2光学素子ユニットのうち一方の光学素子ユニットの前記光軸方向での位置を検出する位置検出手段と、
前記第1および第2光学素子ユニットのうち他方の光学素子ユニットを前記一方の光学素子ユニットに当接する当接位置に駆動し、該当接位置において、前記位置検出手段により検出された前記一方の光学素子ユニットの位置を用いて前記他方の光学素子ユニットの前記光軸方向での位置を取得する制御手段とを有することを特徴とする光学制御装置。
続きを表示(約 1,700 文字)【請求項2】
前記制御手段は、取得した前記他方の光学素子ユニットの位置を、該他方の光学素子ユニットの前記光軸方向での位置を検出するための基準位置として設定することを特徴とする請求項1に記載の光学制御装置。
【請求項3】
前記位置検出手段は、前記一方の光学素子ユニットの絶対位置を検出し、
前記基準位置は、前記他方の光学素子ユニットの絶対位置または前記一方の光学素子ユニットに対する相対位置を検出するために用いられることを特徴とする請求項2に記載の光学制御装置。
【請求項4】
前記位置検出手段としての第1位置検出手段と、
前記他方の光学素子ユニットの絶対位置または前記一方の光学素子ユニットに対する相対位置を検出する第2位置検出手段とを有し、
前記制御手段は、前記第2位置検出手段を位置検出に使用できない場合に前記他方の光学素子ユニットを前記当接位置に駆動することを特徴とする請求項1に記載の光学制御装置。
【請求項5】
前記制御手段は、前記他方の光学素子ユニットの前記一方の光学素子ユニットへの当接により該一方の光学素子ユニットに位置ずれが生じた場合に、該位置ずれ後に前記位置検出手段により検出された前記一方の光学素子ユニットの位置を用いて前記他方の光学素子ユニットの位置を取得することを特徴とする請求項1に記載の光学制御装置。
【請求項6】
前記制御手段は、
前記他方の光学素子ユニットを、前記一方の光学素子ユニットに当接しない所定位置に駆動して該他方の光学素子ユニットの位置を検出するための第1基準位置を設定する第1リセット処理と、
前記他方の光学素子ユニットを前記当接位置に駆動して前記他方の光学素子ユニットの位置を検出するための第2基準位置を設定する第2リセット処理とを切り替えて行うことを特徴とする請求項1に記載の光学制御装置。
【請求項7】
前記位置検出手段としての第1位置検出手段と、
前記他方の光学素子ユニットの位置を検出する第2位置検出手段とを有し、
前記制御手段は、前記第1位置検出手段を位置検出に使用でき、前記第2位置検出手段を位置検出に使用できない場合に、前記他方の光学素子ユニットに対して前記第2リセット処理を行い、
前記第1および第2位置検出手段を位置検出に使用できない場合に、前記他方の光学素子ユニットに対して前記第1リセット処理を行うことを特徴とする請求項6に記載の光学制御装置。
【請求項8】
前記光軸方向において前記第1光学素子ユニットの駆動範囲と前記第2光学素子ユニットの駆動範囲とが互いに重複する重複領域を有し、
前記制御手段は、
前記一方の光学素子ユニットが前記重複領域外に位置するときは前記第1リセット処理を行い、
前記一方の光学素子ユニットが前記重複領域内に位置するときは前記第2リセット処理を行うことを特徴とする請求項6に記載の光学制御装置。
【請求項9】
前記制御手段は、
前記第1リセット処理により前記他方の光学素子ユニットを駆動する第1距離よりも前記第2リセット処理により前記他方の光学素子ユニットを駆動する第2距離が長い場合は前記第1リセット処理を行い、
前記第1距離よりも前記第2距離が短い場合は前記第2リセット処理を行うことを特徴とする請求項6に記載の光学制御装置。
【請求項10】
前記一方および他方の光学素子ユニットの位置を記憶する記憶手段を有しており、
前記制御手段は、
前記位置検出手段により検出された前記一方の光学素子ユニットの位置が前記記憶手段に記憶された位置に対してずれ量だけ異なる場合に、該ずれ量と前記記憶手段に記憶された前記他方の光学素子ユニットの位置とに基づいて前記第2距離を取得することを特徴とする請求項9に記載の光学制御装置。
(【請求項11】以降は省略されています)

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、光学素子の駆動を制御する技術に関する。
続きを表示(約 1,600 文字)【背景技術】
【0002】
撮像装置や交換レンズ等の光学機器には、複数のレンズを有し、そのうち光軸方向に移動可能な可動レンズの絶対位置を検出するために、該可動レンズを所定の基準位置まで駆動するリセット動作を行うものがある。特許文献1には、リセット動作におけるレンズ同士の干渉を回避するため、第1の可動レンズの光軸方向での可動範囲外で、かつ第2の可動レンズの光軸方向での可動範囲内に第2のレンズの基準位置を設定した光学機器が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2013-064885号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、特許文献1にて開示された光学機器において第2のレンズの基準位置までの移動距離が長いと、リセット動作に長い時間を要する。
【0005】
本発明は、光学素子の位置を短時間で取得することができるようにした光学制御装置およびこれを有する光学機器を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の一側面としての光学制御装置は、第1光学素子および第2光学素子をそれぞれ保持して光軸方向に移動可能な第1光学素子ユニットおよび第2光学素子ユニットの駆動を制御する。該光学制御装置は、第1および第2光学素子ユニットのうち一方の光学素子ユニットの光軸方向での位置を検出する位置検出手段と、第1および第2光学素子ユニットのうち他方の光学素子ユニットを上記一方の光学素子ユニットに当接する当接位置に駆動し、該当接位置において、位置検出手段により検出された上記一方の光学素子ユニットの位置を用いて上記他方の光学素子ユニットの光軸方向での位置を取得する制御手段とを有することを特徴とする。なお、上記光学制御装置を有する光学機器も、本発明の他の一側面を構成する。
【0007】
また本発明の他の一側面としての光学制御方法は、第1光学素子および第2光学素子をそれぞれ保持して光軸方向に移動可能な第1光学素子ユニットおよび第2光学素子ユニットの駆動を制御する方法である。該光学制御方法は、第1および第2光学素子ユニットのうち一方の光学素子ユニットの光軸方向での位置を検出するステップと、第1および第2光学素子ユニットのうち他方の光学素子ユニットを上記一方の光学素子ユニットに当接する当接位置に駆動し、該当接位置において、上記一方の光学素子ユニットの検出された位置を用いて上記他方の光学素子ユニットの光軸方向での位置を取得するステップとを有することを特徴とする。なお、コンピュータに上記光学制御方法に従う処理を実行させるプログラムも、本発明の他の一側面を構成する。
【発明の効果】
【0008】
本発明によれば、他方の光学素子ユニットの位置を短時間で取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
実施例1のレンズ交換式カメラシステムの構成を示す図。
実施例1におけるフォーカス駆動機構を示す図。
実施例1における被写体距離ごとのフォーカスレンズ位置関係を示す図。
実施例1における第1リセット処理を示す図。
実施例1における第2リセット処理を示す図。
実施例1における衝突ずれを考慮した第2リセット処理を示す図。
実施例1におけるリセット切替え処理を示すフローチャート。
実施例2における第1および第2リセット処理を示す概要図。
実施例3における第1および第2リセット処理を示す概要図。
実施例4における第1および第2リセット処理を示す概要図。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。
【実施例】
(【0011】以降は省略されています)

特許ウォッチbot のツイートを見る
この特許をJ-PlatPatで参照する
Flag Counter

関連特許

キヤノン株式会社
測距装置
10日前
キヤノン株式会社
撮像装置
10日前
キヤノン株式会社
電子機器
2日前
キヤノン株式会社
撮像装置
11日前
キヤノン株式会社
光学装置
10日前
キヤノン株式会社
記録装置
2日前
キヤノン株式会社
記録装置
12日前
キヤノン株式会社
記録装置
10日前
キヤノン株式会社
撮像装置
12日前
キヤノン株式会社
電子機器
10日前
キヤノン株式会社
電子機器
2日前
キヤノン株式会社
発光装置
10日前
キヤノン株式会社
撮像装置
3日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
10日前
キヤノン株式会社
液体供給装置
2日前
キヤノン株式会社
画像読取装置
10日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
10日前
キヤノン株式会社
印刷制御装置
4日前
キヤノン株式会社
液体供給装置
2日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
10日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
11日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
16日前
キヤノン株式会社
画像形成装置
12日前
キヤノン株式会社
有機発光素子
12日前
キヤノン株式会社
検査システム
12日前
キヤノン株式会社
情報処理装置
11日前
キヤノン株式会社
液体吐出ヘッド
4日前
キヤノン株式会社
液体吐出ヘッド
10日前
キヤノン株式会社
画像形成システム
3日前
キヤノン株式会社
口腔ケアシステム
10日前
キヤノン株式会社
プロファイル編集装置
2日前
キヤノン株式会社
ファインダー表示装置
10日前
キヤノン株式会社
記録方法及び記録装置
2日前
キヤノン株式会社
測距装置及び測距方法
10日前
キヤノン株式会社
撮像装置及び制御装置
11日前
キヤノン株式会社
物品、部材および構造体
11日前
続きを見る