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公開番号2024085392
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-06-26
出願番号2023207291
出願日2023-12-07
発明の名称光周波数コム光源を含むセルフヘテロダイン検出システム
出願人エレクトロニクスアンドテレコミュニケーションズリサーチインスチチュート,ELECTRONICS AND TELECOMMUNICATIONS RESEARCH INSTITUTE
代理人弁理士法人鷲田国際特許事務所
主分類G01N 21/45 20060101AFI20240619BHJP(測定;試験)
要約【課題】広帯域レーザー線幅を安定的かつ長時間に測定することができるセルフヘテロダイン検出システムを提供する。
【解決手段】本発明はセルフヘテロダイン検出システムを開示する。そのシステムは、光を生成する光源と、前記光を検出する光検出器と、前記光検出器と前記光源との間に設けられたプログラマブルフィルターと、前記光検出器に連結され、前記光検出器の検出信号を利用して前記光の周波数及び波長を分析する電気スペクトル分析器と、を含む。前記光源は、周波数コム光源を含むことができる。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項１】
光を生成する光源と、
前記光を検出する光検出器と、
前記光検出器と前記光源との間に設けられたプログラマブルフィルターと、
前記光検出器に連結され、前記光検出器の検出信号を利用して前記光の周波数及び波長を分析する電気スペクトル分析器と、
を含み、
前記光源は、周波数コム光源を含む、
セルフヘテロダイン検出システム。
続きを表示（約 930 文字）【請求項２】
前記プログラマブルフィルターは、パルス成形器を含む、
請求項１に記載のセルフヘテロダイン検出システム。
【請求項３】
前記プログラマブルフィルターの前段及び後段に設けられた干渉計
をさらに含む、請求項１に記載のセルフヘテロダイン検出システム。
【請求項４】
前記干渉計は、マッハツェンダー干渉計を含む、
請求項３に記載のセルフヘテロダイン検出システム。
【請求項５】
前記干渉計は、
前記光源と前記プログラマブルフィルターとの間に設けられた入力カプラーと、
前記プログラマブルフィルターと前記光検出器との間に設けられた出力カプラーと、
前記入力カプラーで分岐されて前記出力カプラーに連結されたブランチ導波路と、
を含む、請求項３に記載のセルフヘテロダイン検出システム。
【請求項６】
前記ブランチ導波路は、
第１ブランチ導波路と、
前記第１ブランチ導波路と平行である第２ブランチ導波路と、
を含む、請求項５に記載のセルフヘテロダイン検出システム。
【請求項７】
前記プログラマブルフィルターは、
前記第１ブランチ導波路に設けられた第１プログラマブルフィルターと、
前記第２ブランチ導波路に設けられた第２プログラマブルフィルターと、
を含む、請求項６に記載のセルフヘテロダイン検出システム。
【請求項８】
前記第１プログラマブルフィルター及び前記第２プログラマブルフィルターの各々は、パルス成形器を含む、
請求項７に記載のセルフヘテロダイン検出システム。
【請求項９】
前記第１プログラマブルフィルター及び前記第２プログラマブルフィルターの各々は、光学バンドパスフィルターを含む、
請求項７に記載のセルフヘテロダイン検出システム。
【請求項１０】
前記光検出器は、フォトダイオードを含む、
請求項１に記載のセルフヘテロダイン検出システム。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は光検出システムに関し、詳細には光周波数コム光源を含むセルフヘテロダイン検出システム（ｓｅｌｆ－ｈｅｔｅｒｏｄｙｎｅｄｅｔｅｃｔｉｏｎｓｙｓｔｅｍ）に関する。
続きを表示（約 1,100 文字）【背景技術】
【０００２】
一般的に、優れたスペクトル安定度と狭い線幅（ｌｉｎｅｗｉｄｔｈ）特性を有する光源はコヒーレント光通信システム（ｃｏｈｅｒｅｎｔｏｐｔｉｃａｌｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎｓｙｓｔｅｍｓ）、コヒーレント検出（ｃｏｈｅｒｅｎｔｄｅｔｅｃｔｉｏｎ）、マイクロ波フォトニクス（ｍｉｃｒｏｗａｖｅｐｈｏｔｏｎｉｃｓ）、高精密分光（ｐｒｅｃｉｓｉｏｎｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ）等の分野で有用に使用されている。様々な応用分野で光源に対する要求事項が異なり得る。光源の実用性を判別するためには前記光源を正確に測定し、特性化することができるソリューションが必須的に要求されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明が解決しようとする課題は、広帯域レーザー線幅を安定的かつ長時間に測定することができるセルフヘテロダイン検出システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明はセルフヘテロダイン検出システムを開示する。そのシステムは、光を生成する光源、前記光を検出する光検出器、前記光検出器と前記光源との間に設けられたプログラマブルフィルター、及び前記光検出器に連結され、前記光検出器の検出信号を利用して前記光の周波数及び波長を分析する電気スペクトル分析器を含む。ここで、前記光源は周波数コム光源を含むことができる。
【０００５】
一例によれば、前記プログラマブルフィルターはパルス成形器を含むことができる。
【０００６】
一例によれば、前記プログラマブルフィルターの前段及び後段に設けられた干渉計をさらに含むことができる。
【０００７】
一例によれば、前記干渉計はマッハツェンダー干渉計を含むことができる。
【０００８】
一例によれば、前記干渉計は、前記光源と前記プログラマブルフィルターとの間に設けられた入力カプラー、前記プログラマブルフィルターと前記光検出器との間に設けられた出力カプラー、及び前記入力カプラーで分岐されて前記出力カプラーに連結されたブランチ導波路を含むことができる。
【０００９】
一例によれば、前記ブランチ導波路は、第１ブランチ導波路、及び前記第１ブランチ導波路と平行である第２ブランチ導波路を含むことができる。
【００１０】
一例によれば、前記プログラマブルフィルターは、前記第１ブランチ導波路に設けられた第１プログラマブルフィルター、及び前記第２ブランチ導波路に設けられた第２プログラマブルフィルターを含むことができる。
（【００１１】以降は省略されています）

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