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公開番号2024078737
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-06-11
出願番号2022191248
出願日2022-11-30
発明の名称分析装置
出願人株式会社島津製作所
代理人個人,個人
主分類G01N 35/00 20060101AFI20240604BHJP(測定;試験)
要約【課題】測定プログラムを作成することに不慣れなユーザであっても、複数の設定項目がどの温度およびどの時間を表しているかを理解可能で、かつ、測定プログラムの作成を容易に行うことができることが可能な分析装置を提供する。
【解決手段】この分析装置100は、試料101を測定する測定部10と、試料101の温度を調整する温度調整部15と、情報を表示する表示部32と、温度調整部15により温度を変化させながら測定部10により試料101を測定するための測定プログラムを作成する際に、温度および時間を含む測定プログラムの複数の設定項目41と、複数の設定項目41に対応して測定プログラムの温度の時間変化を表すグラフ模式図42とを表示部32に表示させる制御部22と、を備える。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
試料を測定する測定部と、
前記試料の温度を調整する温度調整部と、
情報を表示する表示部と、
前記温度調整部により温度を変化させながら前記測定部により前記試料を測定するための測定プログラムを作成する際に、温度および時間を含む前記測定プログラムの複数の設定項目と、前記複数の設定項目に対応して前記測定プログラムの温度の時間変化を表すグラフ模式図とを前記表示部に表示させる制御部と、を備える、分析装置。
続きを表示(約 1,200 文字)【請求項2】
前記制御部は、前記複数の設定項目と前記グラフ模式図との対応関係を視覚的に識別可能にするための識別表示を前記表示部に表示させるように構成されている、請求項1に記載の分析装置。
【請求項3】
前記識別表示は、前記複数の設定項目と前記グラフ模式図との対応関係を表し、前記複数の設定項目側に表示される第1識別表示と、前記複数の設定項目と前記グラフ模式図との対応関係を表し、前記グラフ模式図側に表示される第2識別表示とを含む、請求項2に記載の分析装置。
【請求項4】
前記第2識別表示は、前記グラフ模式図の前記複数の設定項目の各々に対応する部分に配置されている、請求項3に記載の分析装置。
【請求項5】
前記制御部は、前記複数の設定項目の各々に入力された値により前記測定プログラムを実行した場合のシミュレーショングラフを表示させるための第1表示領域と、前記第1表示領域に前記シミュレーショングラフを表示させる操作を行うための第1スイッチ画像とを前記表示部に表示させるように構成されており、
前記制御部は、前記第1スイッチ画像が操作された場合、前記第1表示領域に前記シミュレーショングラフを表示させるように構成されている、請求項1に記載の分析装置。
【請求項6】
前記制御部は、前記複数の設定項目の各々に入力された値により前記測定プログラムを実行した場合の所要時間を表示させるための第2表示領域を前記表示部に表示させるように構成されており、
前記制御部は、前記第1スイッチ画像が操作された場合、前記第1表示領域に前記シミュレーショングラフを表示させるとともに、前記第2表示領域に前記所要時間を表示させるように構成されている、請求項5に記載の分析装置。
【請求項7】
複数種類の測定パターンに応じた前記測定プログラムを作成可能に構成されており、
前記制御部は、前記複数種類の測定パターンのうちの選択された測定パターンに対応する前記グラフ模式図を前記表示部に表示させるように構成されている、請求項1に記載の分析装置。
【請求項8】
前記制御部は、前記複数種類の測定パターンを切り替える操作を行うための第2スイッチ画像を前記表示部に表示させるように構成されており、
前記制御部は、前記第2スイッチ画像が操作された場合、切り替えにより選択された測定パターンに対応する前記グラフ模式図を前記表示部に表示させるように構成されている、請求項7に記載の分析装置。
【請求項9】
前記グラフ模式図は、温度の時間変化の全体を表す第1グラフ模式図と、前記第1グラフ模式図の一部分を拡大した第2グラフ模式図とを含む、請求項1に記載の分析装置。
【請求項10】
前記制御部は、前記複数の設定項目と、前記グラフ模式図とを、同じ設定画面に表示させるように構成されている、請求項1に記載の分析装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、分析装置に関する。
続きを表示(約 1,800 文字)【背景技術】
【0002】
従来、測定プログラムを作成する分析装置が知られている(たとえば、特許文献1)。
【0003】
上記特許文献1には、検体を分析する自動分析装置が開示されている。この自動分析装置は、温度設定値に基づいて、検体を所望の温度に制御する温度ユニットを備える。この温度設定値は、温度を所定の温度勾配で増加させた後、所定の温度勾配で低下させることを繰り返すような温度プログラムとすることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2011-232212号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
ここで、上記特許文献1には明記されていないが、上記特許文献1に記載されるような自動分析装置では、温度プログラムを作成する際に、ユーザが温度および時間を含む複数の設定項目を設定する場合がある。この場合、複数の設定項目の各々の温度および時間はそれぞれ表している部分が異なるが、温度プログラムを作成することに不慣れなユーザは、複数の設定項目の各々が温度プログラムにおけるどの温度およびどの時間を表しているかを容易に理解することができない場合がある。この場合、温度プログラムを作成することに不慣れなユーザは、複数の設定項目の各々が温度プログラムにおけるどの温度およびどの時間を表しているかを、自動分析装置の取扱説明書で確認する必要があるため、温度プログラムの作成に手間が掛かるという不都合がある。このため、温度プログラム(測定プログラム)を作成することに不慣れなユーザは、測定プログラムの作成を容易に行うことができないという問題点がある。
【0006】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、測定プログラムを作成することに不慣れなユーザであっても、複数の設定項目の各々が測定プログラムにおけるどの温度およびどの時間を表しているかを理解可能で、かつ、測定プログラムの作成を容易に行うことができることが可能な分析装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
この発明の一の局面における分析装置は、試料を測定する測定部と、試料の温度を調整する温度調整部と、情報を表示する表示部と、温度調整部により温度を変化させながら測定部により試料を測定するための測定プログラムを作成する際に、温度および時間を含む測定プログラムの設定項目と、複数の設定項目に対応して測定プログラムの温度の時間変化を表すグラフ模式図とを表示部に表示させる制御部と、を備える。
【発明の効果】
【0008】
上記一の局面における分析装置では、上記のように、温度調整部により温度を変化させながら測定部により試料を測定するための測定プログラムを作成する際に、温度および時間を含む測定プログラムの複数の設定項目と、複数の設定項目に対応して測定プログラムの温度の時間変化を模式的に表すグラフ模式図とを表示部に表示させる制御部を設ける。これにより、複数の設定項目と、複数の設定項目に対応して測定プログラムの温度の時間変化を表すグラフ模式図とを表示部上で対比して視認することができるので、ユーザは、分析装置の取扱説明書で確認しなくても、複数の設定項目の各々が測定プログラムにおけるどの温度およびどの時間を表しているかを容易に理解することができる。その結果、測定プログラムを作成することに不慣れなユーザであっても、複数の設定項目の各々が測定プログラムにおけるどの温度およびどの時間を表しているかを理解することができ、かつ、測定プログラムの作成を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【0009】
一実施形態による分析装置の全体構成を示したブロック図である。
一実施形態による分析装置の設定画面を示した図(1)である。
一実施形態による分析装置の設定画面を示した図(2)である。
一実施形態による分析装置のシミュレーショングラフを表示した場合の設定画面を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【0010】
以下、本発明を具現化した実施形態を図面に基づいて説明する。
(【0011】以降は省略されています)

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