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公開番号2024060188
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-05-02
出願番号2022167387
出願日2022-10-19
発明の名称評価装置、評価システム、評価方法、及びプログラム
出願人住友金属鉱山株式会社
代理人個人,個人
主分類G01N 15/0227 20240101AFI20240424BHJP(測定;試験)
要約【課題】無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストに含まれる連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を評価できる評価装置を提供すること。
【解決手段】無機粉末、無機粉末と有機溶剤とを含む導電性スラリー、又は無機粉末とバインダー樹脂と有機溶剤とを含む導電性ペーストの評価装置であって、学習用の無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストの粒子画像を用いて学習済みの評価対象の粒子の粒子数、粒子径、及び粒子最大長を、評価用の無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストの粒子画像から抽出する抽出部と、抽出した評価対象の粒子の粒子径及び粒子最大長を用いて、評価用の無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストに含まれる連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を算出する算出部と、を有する評価装置により上記課題を解決する。
【選択図】図3
特許請求の範囲【請求項１】
無機粉末、無機粉末と有機溶剤とを含む導電性スラリー、又は無機粉末とバインダー樹脂と有機溶剤とを含む導電性ペーストの評価装置であって、
学習用の前記無機粉末、前記導電性スラリー、又は前記導電性ペーストの粒子画像を用いて学習済みの評価対象の粒子の粒子数、粒子径、及び粒子最大長を、評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストの粒子画像から抽出する抽出部と、
抽出した評価対象の粒子の粒子径及び粒子最大長を用いて、評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストに含まれる連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を算出する算出部と、
を有する評価装置。
続きを表示（約 1,500 文字）【請求項２】
前記算出部は、前記抽出部が抽出した前記評価対象の粒子の粒子数、粒子径、及び粒子最大長を用いて、評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストに含まれる連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を算出する
請求項１記載の評価装置。
【請求項３】
学習用の前記無機粉末、前記導電性スラリー、又は前記導電性ペーストの複数の粒子画像から特定された評価対象の粒子の領域の画像を教師データとして学習する学習部、を更に有する
請求項１又は２記載の評価装置。
【請求項４】
前記学習部は、更に、前記複数の粒子画像から特定された連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の領域の画像と、を教師データとして学習する
請求項３記載の評価装置。
【請求項５】
前記学習部は、畳み込みニューラルネットワークを用いた深層学習により、前記粒子画像から前記評価対象の粒子となる無機粉末の領域の画像を抽出するように学習する
請求項３記載の評価装置。
【請求項６】
一台以上の情報処理装置により、無機粉末、無機粉末と有機溶剤とを含む導電性スラリー、又は無機粉末とバインダー樹脂と有機溶剤とを含む導電性ペーストの評価を行う評価システムであって、
評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストの粒子画像を取得する取得部と、
学習用の前記無機粉末、前記導電性スラリー、又は前記導電性ペーストの粒子画像を用いて学習済みの評価対象の粒子の粒子数、粒子径、及び粒子最大長を、評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストの粒子画像から抽出する抽出部と、
抽出した評価対象の粒子の粒子径及び粒子最大長を用いて、評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストに含まれる連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を算出する算出部と、
算出した連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を出力する出力部と、
を有する評価システム。
【請求項７】
コンピュータが行う無機粉末、無機粉末と有機溶剤とを含む導電性スラリー、又は無機粉末とバインダー樹脂と有機溶剤とを含む導電性ペーストの評価方法であって、
学習用の前記無機粉末、前記導電性スラリー、又は前記導電性ペーストの粒子画像を用いて学習済みの評価対象の粒子の粒子数、粒子径、及び粒子最大長を、評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストの粒子画像から抽出する抽出ステップと、
抽出した評価対象の粒子の粒子径及び粒子最大長を用いて、評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストに含まれる連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を算出する算出ステップと、
を有する評価方法。
【請求項８】
無機粉末、無機粉末と有機溶剤とを含む導電性スラリー、又は無機粉末とバインダー樹脂と有機溶剤とを含む導電性ペーストの評価装置に、
学習用の前記無機粉末、前記導電性スラリー、又は前記導電性ペーストの粒子画像を用いて学習済みの評価対象の粒子の粒子数、粒子径、及び粒子最大長を、評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストの粒子画像から抽出する抽出ステップ、
抽出した評価対象の粒子の粒子径及び粒子最大長を用いて、評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストに含まれる連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を算出する算出ステップ、
を実行させるためのプログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストの評価装置、評価システム、評価方法、及びプログラムに関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
近年、小型化及び大容量化が求められている積層セラミックコンデンサでは、それを構成する内部電極及びセラミック誘電体ともに、薄層化が進められている。積層セラミックコンデンサの薄層化が進むことによって、内部電極に使用されるニッケル粉末には、粒子径を小さくすること、連結粒子及び扁平化粒子などの粗大粒子を含まないこと、が求められている。
【０００３】
例えば特許文献１は、湿式ビーズミルによりニッケル粉末をスラリー化する方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２００３－１４７４１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ビーズミルで行う粉砕処理の処理条件が適切でない場合、平均粒子径よりも大きく粗大粒子とみなすべき粒子が発生してしまう。例えば粉砕処理前に含まれていたニッケル粒子などの無機粉末、又は無機粉末の連結粒子は、粉砕処理により扁平化粒子に扁平化してしまう場合があった。
【０００６】
そこで、無機粉末、無機粉末と有機溶剤とを含む導電性スラリー、又は無機粉末とバインダー樹脂と有機溶剤とを含む導電性ペーストに含まれる可能性のある連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を評価できれば便利である。
【０００７】
本開示が解決しようとする課題は、無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストに含まれる連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を評価できる評価装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本開示の一態様は、無機粉末、無機粉末と有機溶剤とを含む導電性スラリー、又は無機粉末とバインダー樹脂と有機溶剤とを含む導電性ペーストの評価装置であって、学習用の前記無機粉末、前記導電性スラリー、又は前記導電性ペーストの粒子画像を用いて学習済みの評価対象の粒子の粒子数、粒子径、及び粒子最大長を、評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストの粒子画像から抽出する抽出部と、抽出した評価対象の粒子の粒子径及び粒子最大長を用いて、評価用の前記無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストに含まれる連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を算出する算出部と、を有する評価装置である。
【発明の効果】
【０００９】
本開示によれば、無機粉末、導電性スラリー、又は導電性ペーストに含まれる連結粒子及び扁平化粒子の少なくとも一方の割合を評価できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
本実施形態に係る評価システムの一例の構成図である。
本実施形態に係るコンピュータの一例のハードウェア構成図である。
本実施形態に係る評価システムの一例の機能構成図である。
評価用の粒子画像の一例のイメージ図である。
評価用の粒子画像から抽出した評価対象の粒子の領域の一例のイメージ図である。
学習用の粒子画像に含まれる評価対象の粒子の領域の一例のイメージ図である。
学習モデルの学習時に利用した教師データの一例を説明する図である。
連結粒子を含むＳＥＭ画像の一例のイメージ図である。
扁平化粒子を含むＳＥＭ画像の一例のイメージ図である。
本実施形態に係る評価システムの処理手順の一例を示すフローチャートである。
評価対象の粒子の領域を抽出する処理手順の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

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