特許ウォッチ

公開番号2024059042
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-04-30
出願番号2022166550
出願日2022-10-17
発明の名称処理装置
出願人株式会社テイエルブイ
代理人個人
主分類G01B 7/06 20060101AFI20240422BHJP(測定;試験)
要約【課題】パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定値の中から異常値を適切に判別する。
【解決手段】処理装置5は、パルス渦流探傷によって測定された対象物9の厚さの測定値を継続的に収集する収集器54と、収集器54によって収集された測定値の集合である測定値群の中から異常値を判別する判別器55とを備えている。判別器55は、測定値群のうちの所定の第1期間中の測定値に基づいて測定値群の中から第1異常値を判別する第1判別と、測定値群のうちの第1期間よりも長い第2期間中の測定値から第1異常値を除去して、第1異常値が除去された第2期間中の測定値の経時変化に基づいて測定値群の中から第2異常値を判別する第2判別とを実行する。
【選択図】図5

特許請求の範囲【請求項１】
パルス渦流探傷によって測定された対象物の厚さの測定値を継続的に収集する収集器と、
前記収集器によって収集された前記測定値の集合である測定値群の中から異常値を判別する判別器とを備え、
前記判別器は、
前記測定値群のうちの所定の第１期間中の前記測定値に基づいて前記測定値群の中から第１異常値を判別する第１判別と、
前記測定値群のうちの前記第１期間よりも長い第２期間中の前記測定値から前記第１異常値を除去して、前記第１異常値が除去された前記第２期間中の前記測定値の経時変化に基づいて前記測定値群の中から第２異常値を判別する第２判別とを実行する処理装置。
続きを表示（約 650 文字）【請求項２】
請求項１に記載の処理装置において、
前記判別器は、前記第１判別において、前記第１期間中の前記測定値の代表値を求め、前記代表値を基準に定められる第１範囲から外れる前記測定値を前記第１異常値と判別する処理装置。
【請求項３】
請求項２に記載の処理装置において、
前記所定の第１範囲は、前記代表値よりも大きい上限値と前記代表値よりも小さい下限値とによって規定され、
前記代表値と前記下限値との幅は、前記上限値と前記代表値との幅よりも大きい処理装置。
【請求項４】
請求項１に記載の処理装置において、
前記判別器は、前記第２判別において、前記第２期間中の前記測定値の経時変化の近似直線を求め、前記近似直線を基準とする第２範囲から外れる前記測定値を前記第２異常値と判別する処理装置。
【請求項５】
請求項１に記載の処理装置において、
前記判別器は、前記測定値群の中から前記第２判別の対象の測定値を変更しつつ、前記対象の測定値に対して前記第２判別を繰り返し、
前記対象の測定値は、前記第１異常値と既に判別された測定値を含まず、前記第２異常値と既に判別された測定値を含む処理装置。
【請求項６】
請求項１乃至５の何れか１つに記載の処理装置において、
前記第１異常値及び前記第２異常値が除去された前記測定値群の前記測定値の変化率を算出する算出器をさらに備える処理装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
ここに開示された技術は、処理装置に関する。
続きを表示（約 1,400 文字）【背景技術】
【０００２】
従来より、測定値に含まれる異常値を判別する技術が知られている。例えば、特許文献１に開示された装置は、測定データの母集団の中から測定データ間の差異に基づいて、測定データ群における測定データのばらつきが母集団における測定データのばらつきよりも小さくなるように、母集団の中から特定の測定データを除去する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０２２－２８２５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定においては、測定が長期に亘って実行される。このような長期に亘って収集される測定値に対しては異常値の適切な判別が難しい。
【０００５】
ここに開示された技術は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定値の中から異常値を適切に判別することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
ここに開示された処理装置は、パルス渦流探傷によって測定された対象物の厚さの測定値を継続的に収集する収集器と、前記収集器によって収集された前記測定値の集合である測定値群の中から異常値を判別する判別器とを備え、前記判別器は、前記測定値群のうちの所定の第１期間中の前記測定値に基づいて前記測定値群の中から第１異常値を判別する第１判別と、前記測定値群のうちの前記第１期間よりも長い第２期間中の前記測定値から前記第１異常値を除去して、前記第１異常値が除去された前記第２期間中の前記測定値の経時変化に基づいて前記測定値群の中から第２異常値を判別する第２判別とを実行する。
【発明の効果】
【０００７】
本開示の処理装置によれば、パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定値の中から異常値を適切に判別することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
図１は、測定システムの構成を示す説明図である。
図２は、制御装置による渦電流測定のフローチャートである。
図３は、処理装置の制御器の制御系統の構成を示すブロック図である。
図４は、第１検出器によって検出された電圧信号Ｖ（ｔ）の時間変化、即ち、渦電流の時間変化を示すグラフである。
図５は、第１判別を行う前の測定値群の一例を表すグラフである。
図６は、第２判別を行う前の測定値群の一例を表すグラフである。
図７は、測定値の変化率を求める際の測定値群の一例を表すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、例示的な実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。図１は、測定システム１００の構成を示す説明図である。
【００１０】
－測定システムの概略－
測定システム１００は、プローブ１と、プローブ１を制御する制御装置３と、プローブ１の検出結果から測定値を求め、測定値を処理する処理装置５とを備えている。測定システム１００は、パルス渦電流探傷（ＰＥＣ:Pulsed Eddy Current）によって対象物の厚さを測定する。プローブ１は、対象物９に渦電流を発生させ且つ発生した渦電流を検出する。この例では、対象物９は、配管である。配管は、流体が流通する金属製の配管である。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許