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公開番号
2024059042
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2024-04-30
出願番号
2022166550
出願日
2022-10-17
発明の名称
処理装置
出願人
株式会社テイエルブイ
代理人
個人
主分類
G01B
7/06 20060101AFI20240422BHJP(測定;試験)
要約
【課題】パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定値の中から異常値を適切に判別する。
【解決手段】処理装置5は、パルス渦流探傷によって測定された対象物9の厚さの測定値を継続的に収集する収集器54と、収集器54によって収集された測定値の集合である測定値群の中から異常値を判別する判別器55とを備えている。判別器55は、測定値群のうちの所定の第1期間中の測定値に基づいて測定値群の中から第1異常値を判別する第1判別と、測定値群のうちの第1期間よりも長い第2期間中の測定値から第1異常値を除去して、第1異常値が除去された第2期間中の測定値の経時変化に基づいて測定値群の中から第2異常値を判別する第2判別とを実行する。
【選択図】図5
特許請求の範囲
【請求項1】
パルス渦流探傷によって測定された対象物の厚さの測定値を継続的に収集する収集器と、
前記収集器によって収集された前記測定値の集合である測定値群の中から異常値を判別する判別器とを備え、
前記判別器は、
前記測定値群のうちの所定の第1期間中の前記測定値に基づいて前記測定値群の中から第1異常値を判別する第1判別と、
前記測定値群のうちの前記第1期間よりも長い第2期間中の前記測定値から前記第1異常値を除去して、前記第1異常値が除去された前記第2期間中の前記測定値の経時変化に基づいて前記測定値群の中から第2異常値を判別する第2判別とを実行する処理装置。
続きを表示(約 650 文字)
【請求項2】
請求項1に記載の処理装置において、
前記判別器は、前記第1判別において、前記第1期間中の前記測定値の代表値を求め、前記代表値を基準に定められる第1範囲から外れる前記測定値を前記第1異常値と判別する処理装置。
【請求項3】
請求項2に記載の処理装置において、
前記所定の第1範囲は、前記代表値よりも大きい上限値と前記代表値よりも小さい下限値とによって規定され、
前記代表値と前記下限値との幅は、前記上限値と前記代表値との幅よりも大きい処理装置。
【請求項4】
請求項1に記載の処理装置において、
前記判別器は、前記第2判別において、前記第2期間中の前記測定値の経時変化の近似直線を求め、前記近似直線を基準とする第2範囲から外れる前記測定値を前記第2異常値と判別する処理装置。
【請求項5】
請求項1に記載の処理装置において、
前記判別器は、前記測定値群の中から前記第2判別の対象の測定値を変更しつつ、前記対象の測定値に対して前記第2判別を繰り返し、
前記対象の測定値は、前記第1異常値と既に判別された測定値を含まず、前記第2異常値と既に判別された測定値を含む処理装置。
【請求項6】
請求項1乃至5の何れか1つに記載の処理装置において、
前記第1異常値及び前記第2異常値が除去された前記測定値群の前記測定値の変化率を算出する算出器をさらに備える処理装置。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
ここに開示された技術は、処理装置に関する。
続きを表示(約 1,400 文字)
【背景技術】
【0002】
従来より、測定値に含まれる異常値を判別する技術が知られている。例えば、特許文献1に開示された装置は、測定データの母集団の中から測定データ間の差異に基づいて、測定データ群における測定データのばらつきが母集団における測定データのばらつきよりも小さくなるように、母集団の中から特定の測定データを除去する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2022-28252号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
ところで、パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定においては、測定が長期に亘って実行される。このような長期に亘って収集される測定値に対しては異常値の適切な判別が難しい。
【0005】
ここに開示された技術は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定値の中から異常値を適切に判別することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
ここに開示された処理装置は、パルス渦流探傷によって測定された対象物の厚さの測定値を継続的に収集する収集器と、前記収集器によって収集された前記測定値の集合である測定値群の中から異常値を判別する判別器とを備え、前記判別器は、前記測定値群のうちの所定の第1期間中の前記測定値に基づいて前記測定値群の中から第1異常値を判別する第1判別と、前記測定値群のうちの前記第1期間よりも長い第2期間中の前記測定値から前記第1異常値を除去して、前記第1異常値が除去された前記第2期間中の前記測定値の経時変化に基づいて前記測定値群の中から第2異常値を判別する第2判別とを実行する。
【発明の効果】
【0007】
本開示の処理装置によれば、パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定値の中から異常値を適切に判別することができる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
図1は、測定システムの構成を示す説明図である。
図2は、制御装置による渦電流測定のフローチャートである。
図3は、処理装置の制御器の制御系統の構成を示すブロック図である。
図4は、第1検出器によって検出された電圧信号V(t)の時間変化、即ち、渦電流の時間変化を示すグラフである。
図5は、第1判別を行う前の測定値群の一例を表すグラフである。
図6は、第2判別を行う前の測定値群の一例を表すグラフである。
図7は、測定値の変化率を求める際の測定値群の一例を表すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下、例示的な実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。図1は、測定システム100の構成を示す説明図である。
【0010】
-測定システムの概略-
測定システム100は、プローブ1と、プローブ1を制御する制御装置3と、プローブ1の検出結果から測定値を求め、測定値を処理する処理装置5とを備えている。測定システム100は、パルス渦電流探傷(PEC:Pulsed Eddy Current)によって対象物の厚さを測定する。プローブ1は、対象物9に渦電流を発生させ且つ発生した渦電流を検出する。この例では、対象物9は、配管である。配管は、流体が流通する金属製の配管である。
(【0011】以降は省略されています)
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