特許ウォッチ

公開番号2024059188
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-05-01
出願番号2022166709
出願日2022-10-18
発明の名称プローブおよびプローブ装置
出願人ヒロセ電機株式会社
代理人個人
主分類G01R 1/06 20060101AFI20240423BHJP(測定;試験)
要約【課題】回路基板に対して簡単に着脱でき、回路基板あるいは電子部品の試験を効率良く行うことが可能なプローブおよびプローブ装置を提供する。
【解決手段】第一挟持片20は、回路基板P側に位置する一端部に、回路基板Pの一方の面に接触する第一挟持部25を有し、第二挟持片30は、回路基板P側に位置する一端部に、回路基板の他方の面に接触する第二挟持部31を有し、第一挟持片20および第二挟持片30は、回路基板Pから離間する側に位置する他端部に、付勢部材40の付勢力に反する操作力を受けるための操作部26,32を有している。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
回路基板の電気的特性あるいは前記回路基板に実装された電子部品の電気的特性を測定する測定装置と前記回路基板とを、ケーブルを介して中継するプローブ装置に設けられ、前記ケーブルの端部に取り付けられて前記回路基板に接続されるプローブにおいて、
前記回路基板の一方の側の面に形成された信号回路部に電気的に導通可能な信号伝送体と、
前記回路基板をその板厚方向で挟持可能な基板挟持体と、
前記基板挟持体を、前記回路基板を挟持した状態に維持する付勢部材とを有しており、
前記基板挟持体は、前記回路基板に対して一方の側に位置し前記信号伝送体を保持する第一挟持片と、前記回路基板に対して他方の側に位置する第二挟持片とを有し、
前記付勢部材は、前記第一挟持片と前記第二挟持片とに架け渡されて弾性変形可能に設けられ、前記第一挟持片および前記第二挟持片を、前記回路基板を挟持する位置へ向けて付勢しており、
前記第一挟持片は、前記回路基板側に位置する一端部に、前記回路基板の一方の面に接触する第一挟持部を有し、
前記第二挟持片は、前記回路基板側に位置する一端部に、前記回路基板の他方の面に接触する第二挟持部を有し、
前記第一挟持片および前記第二挟持片の少なくとも一方の挟持片は、前記回路基板から離間する側に位置する他端部に、前記付勢部材の付勢力に反する操作力を受けるための操作部を有していることを特徴とするプローブ。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
前記第一挟持部および前記第二挟持部のうち一方の挟持部は、前記回路基板に前記板厚方向に貫通して形成された貫通空間に挿通される突部を有し、
他方の挟持部は、前記貫通空間に対して他方の側で前記貫通空間から突出する前記突部の先端部を受け入れる受入部を有していることとする請求項１に記載のプローブ。
【請求項３】
前記突部は、前記回路基板の端縁を切り欠いて形成された前記貫通空間へ挿通可能となっていることとする請求項２に記載のプローブ。
【請求項４】
前記信号伝送体は、前記第一挟持片に保持される誘電体と、前記誘電体によって保持され前記回路基板の信号回路部に接触可能な中心導体とを有していることとする請求項１ないし請求項３のいずれかに記載のプローブ。
【請求項５】
前記第一挟持片は、金属製であり、前記ケーブルの外部導体に電気的に導通可能となっているとともに、前記回路基板の一方の側の面に形成されたグランド回路部に接触可能となっていることとする請求項４に記載のプローブ。
【請求項６】
前記第一挟持片は、前記ケーブルの端部に設けられた取付部材が取り付けられることにより、前記ケーブルの端部に接続可能となっていることとする請求項４に記載のプローブ。
【請求項７】
前記第一挟持片は、前記ケーブルの端部に設けられたプローブ接続用コネクタが嵌合されることにより、前記ケーブルの端部に接続可能となっていることとする請求項４に記載のプローブ。
【請求項８】
前記信号伝送体は、電気絶縁材製の板状の基材と、前記基材の板面に沿って前記基材に設けられ回路基板の信号回路部に接触可能な金属製の信号伝送路とを有している請求項１ないし請求項３のいずれかに記載のプローブ。
【請求項９】
前記信号伝送体は、前記基材の板面に沿って前記基材に設けられた金属製のグランド伝送路を有し、
前記グランド伝送路は、前記回路基板の一方の側の面に形成されたグランド回路部に接触可能となっていることとする請求項８に記載のプローブ。
【請求項１０】
請求項１に記載のプローブと、
前記測定装置側に設けられた相手コネクタに接続される測定装置接続用コネクタと、
前記プローブと前記測定装置接続用コネクタとを中継するケーブルとを有していることを特徴とするプローブ装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路基板に接続されるプローブおよび該プローブを有するプローブ装置に関する。
続きを表示（約 2,100 文字）【背景技術】
【０００２】
一般的に、回路基板あるいは回路基板上に実装される電子部品について電気的特性に関する試験を行う際には、回路基板に試験用の信号を伝送させたときの電気的特性を測定装置により測定する。このとき、測定装置はケーブル等を介して回路基板に接続される。
【０００３】
特許文献１には、回路基板の端部に接続される同軸電気コネクタが開示されている。この同軸電気コネクタは、回路基板の面に対して平行な軸線をもち、軸線方向に延びる中心導体と、絶縁体を介して中心導体を保持する筒状の外部導体とを有している。外部導体には、回路基板への取付けのための一対の固定部が回路基板の面に対して平行に延びて設けられている。各固定部には、ねじ孔である挿通孔が上下方向（回路基板の面に対して直角な方向）に貫通して形成されている。この同軸電気コネクタは、固定部を回路基板の端部にねじ止めすることで該端部に取り付けられる。具体的には、回路基板の端部の上面に固定部を配置し、回路基板に形成された孔部に挿通孔を位置合わせた状態で、挿通孔および孔部にねじを螺着する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２０１８－０８１７４５号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
一般的に、数多くの回路基板や電子部品について試験を実施するためには、回路基板と測定装置とを接続する作業を各回路基板に対して順次繰り返して行う必要がある。したがって、仮に特許文献１の同軸電気コネクタを回路基板や電子部品の試験に用いる場合、回路基板に対する同軸電気コネクタの着脱作業、すなわち、ねじを締め付ける作業および緩める作業を順次行わなければならない。その結果、着脱作業が煩雑となり、複数の回路基板や電子部品について試験を短時間で効率良く行うことが困難となる。
【０００６】
本発明は、かかる事情に鑑み、回路基板に対して簡単に着脱でき、回路基板あるいは電子部品の試験を効率良く行うことが可能なプローブおよびプローブ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
（１）本発明に係るプローブは、回路基板の電気的特性あるいは前記回路基板に実装された電子部品の電気的特性を測定する測定装置と前記回路基板とを、ケーブルを介して中継するプローブ装置に設けられ、前記ケーブルの端部に取り付けられて前記回路基板に接続される。
【０００８】
かかるプローブにおいて、本発明では、前記回路基板の一方の側の面に形成された信号回路部に電気的に導通可能な信号伝送体と、前記回路基板をその板厚方向で挟持可能な基板挟持体と、前記基板挟持体を、前記回路基板を挟持した状態に維持する付勢部材とを有しており、前記基板挟持体は、前記回路基板に対して一方の側に位置し前記信号伝送体を保持する第一挟持片と、前記回路基板に対して他方の側に位置する第二挟持片とを有し、前記付勢部材は、前記第一挟持片と前記第二挟持片とに架け渡されて弾性変形可能に設けられ、前記第一挟持片および前記第二挟持片を、前記回路基板を挟持する位置へ向けて付勢しており、前記第一挟持片は、前記回路基板側に位置する一端部に、前記回路基板の一方の面に接触する第一挟持部を有し、前記第二挟持片は、前記回路基板側に位置する一端部に、前記回路基板の他方の面に接触する第二挟持部を有し、前記第一挟持片および前記第二挟持片の少なくとも一方の挟持片は、前記回路基板から離間する側に位置する他端部に、前記付勢部材の付勢力に反する操作力を受けるための操作部を有していることを特徴としている。
【０００９】
本発明では、プローブを回路基板に取り付ける際には、まず、付勢部材の付勢力に反する操作力をプローブの操作部に加えて、第一挟持部と第二挟持部とを大きく離間させ、その状態を維持したまま、第一挟持部と第二挟持部との間に回路基板が位置するようにプローブを配置する。ここで、第一挟持部は回路基板に対して一方の側に位置し、第二挟持部は回路基板に対して他方の側に位置する。次に、上記操作力を解除し、付勢部材の付勢力により第一挟持部と第二挟持部とを近接させて、回路基板を挟持する。このようにして、付勢部材の付勢力を受けた第一挟持部および第二挟持部によって回路基板が挟持される結果、第一挟持片に保持される信号伝送体が回路基板の回路部に接触した状態が維持される。また、プローブを回路基板から取り外す際には、プローブの操作部に上記操作力を加えて、第一挟持部と第二挟持部とを大きく離間させることにより、回路基板を挟持した状態を解除する。
【００１０】
このように、本発明では、プローブの操作部に対して操作力を加えたり解除したりするだけで、回路基板に対してプローブを簡単に着脱できるので、回路基板あるいは回路基板に実装された電子部品の試験を効率良く行うことができる。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許