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公開番号2024055075
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-04-18
出願番号2022161684
出願日2022-10-06
発明の名称プローブ
出願人I-PEX株式会社
代理人個人,個人,個人,個人
主分類G01R 1/067 20060101AFI20240411BHJP(測定;試験)
要約【課題】コネクタの検査精度を向上させるプローブを提供する。
【解決手段】プローブ1は、複数の列に沿って配置された複数のコンタクト101を備えるコネクタ100の検査に用いられる。プローブ1は、複数のコンタクト101に対応して、複数の列に沿って配置された複数のプローブピン3と、複数のプローブピン3を内包する導電性のプランジャ5と、複数のプローブピン3が並ぶ複数の列の間において、複数のプローブピン3の延伸方向に沿って、複数のプローブピン3の先端よりも突出する突起522cと、プランジャ5を摺動可能に収容し、プランジャ5の摺動に応じて複数のプローブピン3の先端及び突起522cを露出させる導電性のハウジング7と、を備える。
【選択図】図5
特許請求の範囲【請求項１】
複数の列に沿って配置された複数のコンタクトを備えるコネクタの検査に用いられるプローブであって、
前記複数のコンタクトに対応して、複数の列に沿って配置された複数のプローブピンと、
前記複数のプローブピンを内包する導電性のプランジャと、
前記複数のプローブピンが並ぶ複数の列の間において、前記複数のプローブピンの延伸方向に沿って、前記複数のプローブピンの先端よりも突出する突起と、
前記プランジャを摺動可能に収容し、前記プランジャの摺動に応じて前記複数のプローブピンの先端及び前記突起を露出させる導電性のハウジングと、
を備えるプローブ。
続きを表示（約 600 文字）【請求項２】
前記突起は、導電性の部材を介してグランドに接続されている、請求項１に記載のプローブ。
【請求項３】
前記プランジャは、前記複数のプローブピンが並ぶ複数の列を挟む端部から、前記複数のプローブピンの延伸方向に沿って、前記複数のプローブピンの先端よりも突出するグランド突起を有する、請求項１に記載のプローブ。
【請求項４】
前記グランド突起は、前記複数のプローブピンが並ぶ複数の列に沿う方向において、前記複数の列を挟む第１グランド突起と、前記複数のプローブピンが並ぶ複数の列に沿う方向と交差する方向において、前記複数のプローブピンが並ぶ複数の列を挟む第２グランド突起とを有する、請求項３に記載のプローブ。
【請求項５】
前記プランジャの側面には、前記ハウジングの内面から離間するように段状に窪む第１段差部が設けられており、
前記ハウジングの先端部には、前記ハウジングの内面から前記ハウジングの内方に向けて段状に張り出す第２段差部が設けられており、
前記第１段差部は、前記プランジャの摺動に伴って前記第２段差部に当接する、
請求項１に記載のプローブ。
【請求項６】
前記突起には、前記複数の列に沿うと共に、前記突起の先端に向けて先細りになる傾斜面が設けられている、請求項１に記載のプローブ。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、コネクタの検査に用いられるプローブに関する。
続きを表示（約 1,900 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、プランジャと、プランジャの先端面から突出したプローブピン及びプローブピンを挟む複数の突起部とを備えるプローブが開示されている。このプローブでは、コネクタの検査時において、複数の突起部がコネクタの窪みに挿入される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
国際公開第２０２０／１１０９６０号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
検査対象のコネクタにおいて、複数のコンタクトが並ぶ複数の列の間にはクリアランス（隙間）が存在し得る。このクリアランスは、相手コネクタとの嵌合時において、相手コネクタの絶縁ハウジングの進入等により減少する。一方、従来のプローブでは、コネクタの検査時において、クリアランスの減少が相手コネクタとの嵌合時よりも少ない。よって従来のプローブでは、複数のコンタクトが並ぶ複数の列の間における電磁的絶縁性を確保することができない。すなわち、コネクタの検査時の特性インピーダンスと、コネクタ同士の嵌合時の特性インピーダンスとが整合しない。その結果、従来のプローブでは、コネクタの高精度な検査が阻害される。
【０００５】
本開示は、コネクタの検査精度を向上させるプローブを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示の一態様に係るプローブは、複数の列に沿って配置された複数のコンタクトを備えるコネクタの検査に用いられる。プローブは、複数のコンタクトに対応して、複数の列に沿って配置された複数のプローブピンと、複数のプローブピンを内包する導電性のプランジャと、複数のプローブピンが並ぶ複数の列の間において、複数のプローブピンの延伸方向に沿って、複数のプローブピンの先端よりも突出する突起と、プランジャを摺動可能に収容し、プランジャの摺動に応じて複数のプローブピンの先端及び突起を露出させる導電性のハウジングと、を備える。
【０００７】
本開示の一態様に係るプローブでは、複数のプローブピンが並ぶ複数の列の間において、複数のプローブピンの先端よりも突起が突出している。このような構成によれば、コネクタの検査時において、複数のプローブピンが複数のコンタクトにそれぞれ接触すると共に、複数のコンタクトが並ぶ複数の列の間に突起が進入する。すなわち、複数のコンタクトが並ぶ複数の列の間におけるクリアランスが減少する。この場合、複数のコンタクトが並ぶ複数の列の間において、電磁的絶縁性が確保される。これにより、コネクタの検査時の特性インピーダンスと、コネクタ同士の嵌合時の特性インピーダンスとを整合させることができる。その結果、コネクタの検査精度を向上させることができる。
【０００８】
突起は、導電性の部材を介してグランドに接続されていてもよい。突起がグランド電位を有することによって、特性インピーダンスの整合を向上させることができる。
【０００９】
プランジャは、複数のプローブピンが並ぶ複数の列を挟む端部から、複数のプローブピンの延伸方向に沿って、複数のプローブピンの先端よりも突出するグランド突起を有していてもよい。検査対象のコネクタにおいて、複数のコンタクトが並ぶ複数の列を挟む位置にはクリアランスが存在し得る。このクリアランスは、コネクタ同士の嵌合時において、相手コネクタの絶縁ハウジングの進入等により減少する。同様に、コネクタの検査時において、複数のプローブピンを挟み、且つ複数のプローブピンの先端よりも突出したグランド突起が、複数のコンタクトが並ぶ複数の列を挟む位置に進入する。複数のコンタクトを挟む位置におけるクリアランスが減少することにより、外部からのノイズの影響を抑制することができる。その結果、特性インピーダンスの整合を向上させることができる。
【００１０】
グランド突起は、複数のプローブピンが並ぶ複数の列に沿う方向において、複数の列を挟む第１グランド突起と、複数のプローブピンが並ぶ複数の列に沿う方向と交差する方向において、複数のプローブピンが並ぶ複数の列を挟む第２グランド突起とを有していてもよい。コネクタの検査時において、第１グランド突起及び第２グランド突起が、複数のコンタクトが並ぶ複数の列を二方向から挟む位置に進入する。これにより、特性インピーダンスの整合を向上させることができる。
（【００１１】以降は省略されています）

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