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公開番号2024048705
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-04-09
出願番号2022154773
出願日2022-09-28
発明の名称測定装置
出願人株式会社トプコン
代理人個人
主分類G01C 15/00 20060101AFI20240402BHJP(測定;試験)
要約【課題】外光の受光を抑制し、測定精度の向上を図る測定装置を提供する。
【解決手段】測定対象物に測距光32を射出する測距光射出部23と、前記測定対象物からの反射測距光39を受光する受光素子34を有する測距光受光部24と、前記測距光射出部を制御し、前記受光素子に対する前記反射測距光の受光結果に基づき前記測定対象物迄の距離を演算する演算制御部とを具備し、前記測距光受光部は、前記反射測距光の光軸上に設けられた波長選択部35を有し、該波長選択部は、前記波長選択部に対する前記反射測距光の入射角の増加に対応して膜厚を増加させる波長選択膜を有する様構成された。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
測定対象物に測距光を射出する測距光射出部と、前記測定対象物からの反射測距光を受光する受光素子を有する測距光受光部と、前記測距光射出部を制御し、前記受光素子に対する前記反射測距光の受光結果に基づき前記測定対象物迄の距離を演算する演算制御部とを具備し、前記測距光受光部は、前記反射測距光の光軸上に設けられた波長選択部を有し、該波長選択部は、前記波長選択部に対する前記反射測距光の入射角の増加に対応して膜厚を増加させる波長選択膜を有する様構成された測定装置。
続きを表示(約 560 文字)【請求項2】
前記波長選択膜の膜厚は、該波長選択膜に対する前記反射測距光の入射角に拘らず透過波長が一定又は略一定となる様に設定された請求項1に記載の測定装置。
【請求項3】
前記波長選択部は、前記反射測距光の光軸と直交する様に配置され、前記波長選択膜は前記波長選択部の入射面又は射出面に形成され、前記反射測距光は入射角が回転対称となった状態で前記波長選択膜に入射する様に構成された請求項1又は請求項2に記載の測定装置。
【請求項4】
前記波長選択部は、前記反射測距光が回転対称となった状態で入射する面に形成された波長選択膜である請求項1又は請求項2に記載の測定装置。
【請求項5】
前記波長選択膜の勾配は、前記反射測距光の入射角が15°以下の時に1次の多項式で近似可能に構成された請求項1又は請求項2に記載の測定装置。
【請求項6】
前記波長選択膜の勾配は、前記反射測距光の入射角が30°以下の時に2次以下の多項式で近似可能に構成された請求項1又は請求項2に記載の測定装置。
【請求項7】
前記波長選択膜の勾配は、前記反射測距光の入射角が75°以下の時に3次以下の多項式で近似可能に構成された請求項1又は請求項2に記載の測定装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は、測定対象物の3次元座標を取得可能な測定装置に関するものである。
続きを表示(約 1,000 文字)【背景技術】
【0002】
レーザスキャナやトータルステーション等の測定装置は、測定対象物として再帰反射性を有するプリズムを用いたプリズム測距、反射プリズムを用いないノンプリズム測距により測定対象物迄の距離を検出する光波距離測定装置を有している。
【0003】
測定装置では、測定対象物に測距光を射出し、測定対象物で反射された反射測距光に基づき測定対象物までの距離を測定している。然し乍ら、従来の測定装置では、反射測距光と共に外光が受光される場合があり、測定精度の低下の原因となっていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
特開2021-25993号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
本発明は、外光の受光を抑制し、測定精度の向上を図る測定装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明は、測定対象物に測距光を射出する測距光射出部と、前記測定対象物からの反射測距光を受光する受光素子を有する測距光受光部と、前記測距光射出部を制御し、前記受光素子に対する前記反射測距光の受光結果に基づき前記測定対象物迄の距離を演算する演算制御部とを具備し、前記測距光受光部は、前記反射測距光の光軸上に設けられた波長選択部を有し、該波長選択部は、前記波長選択部に対する前記反射測距光の入射角の増加に対応して膜厚を増加させる波長選択膜を有する様構成された測定装置に係るものである。
【0007】
又本発明は、前記波長選択膜の膜厚は、該波長選択膜に対する前記反射測距光の入射角に拘らず透過波長が一定又は略一定となる様に設定された測定装置に係るものである。
【0008】
又本発明は、前記波長選択部は、前記反射測距光の光軸と直交する様に配置され、前記波長選択膜は前記波長選択部の入射面又は射出面に形成され、前記反射測距光は入射角が回転対称となった状態で前記波長選択膜に入射する様に構成された測定装置に係るものである。
【0009】
又本発明は、前記波長選択部は、前記反射測距光が回転対称となった状態で入射する面に形成された波長選択膜である測定装置に係るものである。
【0010】
又本発明は、前記波長選択膜の勾配は、前記反射測距光の入射角が15°以下の時に1次の多項式で近似可能に構成された測定装置に係るものである。
(【0011】以降は省略されています)

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