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公開番号2024047236
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-04-05
出願番号2022152756
出願日2022-09-26
発明の名称プログラム、情報処理方法、及び情報処理装置
出願人TDK株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類G01R 29/08 20060101AFI20240329BHJP(測定;試験)
要約【課題】より広い周波数帯に含まれる周波数を有する放射妨害波についての放射妨害波試験に要する時間が増大してしまうことを抑制しつつ、供試体を囲む仮想的な面上における放射妨害波の電磁界強度の分布を精度よく推定することができるプログラムを提供する。
【解決手段】コンピュータに、放射妨害波を放射する供試体に応じた複数の電磁波源の位置と、前記放射妨害波を測定するアンテナと前記供試体との相対的な位置関係とに基づいて、前記アンテナによる前記放射妨害波の測定間隔の上限値を算出させる第1算出ステップ、を実行させるためのプログラム。
【選択図】図12
特許請求の範囲【請求項１】
コンピュータに、
放射妨害波を放射する供試体に応じた複数の電磁波源の位置と、前記放射妨害波を測定するアンテナと前記供試体との相対的な位置関係とに基づいて、前記アンテナによる前記放射妨害波の測定間隔の上限値を算出させる第１算出ステップ、
を実行させるためのプログラム。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記測定間隔は、前記アンテナによって前記放射妨害波を測定する複数の測定位置のうちの隣り合う測定位置同士の間隔のことである、
請求項１に記載のプログラム。
【請求項３】
前記複数の電磁波源の位置と、前記位置関係と、前記放射妨害波の波長と、サンプリング定理とに基づいて、前記測定間隔を算出させる第２算出ステップを実行させる、
請求項１に記載のプログラム。
【請求項４】
前記第２算出ステップにより算出された前記測定間隔の最大値が、前記第１算出ステップにより算出された前記上限値を超えている場合、前記放射妨害波を測定する放射妨害波試験に用いる前記測定間隔として前記上限値を選択させ、前記第２算出ステップにより算出された前記測定間隔の最大値が、前記第１算出ステップにより算出された前記上限値以下である場合、前記放射妨害波試験に用いる前記測定間隔として前記第２算出ステップにより算出された前記測定間隔を選択させる選択ステップを実行させる、
請求項３に記載のプログラム。
【請求項５】
前記第１算出ステップは、統計解析に基づいて前記上限値を算出させる、
請求項１に記載のプログラム。
【請求項６】
前記第１算出ステップにより算出された前記上限値に基づいて、前記放射妨害波の電界強度の分布と前記放射妨害波の磁界強度の分布との少なくとも一方の分布を算出する第３算出ステップを実行させる、
請求項１に記載のプログラム。
【請求項７】
前記少なくとも一方の分布をシミュレーション又は実測により取得する取得ステップと、
ローパスフィルタによって前記少なくとも一方の分布を補間する補間ステップと、
を実行させる請求項６に記載のプログラム。
【請求項８】
放射妨害波を放射する供試体に応じた複数の電磁波源の位置と、前記放射妨害波を測定するアンテナと前記供試体との相対的な位置関係とに基づいて、前記アンテナによる前記放射妨害波の測定間隔の上限値を算出する第１算出ステップ、
を有する情報処理方法。
【請求項９】
前記測定間隔は、前記アンテナによって前記放射妨害波を測定する複数の測定位置のうちの隣り合う測定位置同士の間隔のことである、
請求項８に記載の情報処理方法。
【請求項１０】
前記複数の電磁波源の位置と、前記位置関係と、前記放射妨害波の波長と、サンプリング定理とに基づいて、前記測定間隔を算出させる第２算出ステップを有する、
請求項８に記載の情報処理方法。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、プログラム、情報処理方法、及び情報処理装置に関する。
続きを表示（約 2,200 文字）【背景技術】
【０００２】
放射妨害波試験を行うために用いる技術についての研究、開発が行われている。ここで、放射妨害波試験は、供試体から放射妨害波として放射される電磁波の電界強度を測定対象電界強度とし、測定対象電界強度が、国際的に定められた規格の許容値以下であるか否かを確認する試験のことである。供試体は、放射妨害波試験を行う対象となる物体のことである。また、供試体は、放射妨害波を放射する電磁波源を含む物体のことである。例えば、供試体は、電子機器である。供試体が電子機器である場合、放射妨害波試験は、電子機器が市場へ出荷される前に行われることが多い。これは、電子機器から放射される放射妨害波が周囲の他の電子機器に影響を及ぼし、例えば、当該他の電子機器の誤動作を誘引することがあるためである。
【０００３】
放射妨害波試験では、予め決められた測定面上における測定対象電界強度の分布が、測定対象電界強度分布として推定される。測定面は、供試体を囲む仮想的な面のことである。測定対象電界強度分布が推定された後、放射妨害波試験では、推定された測定対象電界強度分布に基づいて、測定対象電界強度が最大となる位置が、最大電界強度位置として特定される。最大電界強度位置が特定された後、放射妨害波試験では、特定された最大電界強度位置において、測定対象電界強度が所定時間測定される。そして、最大電界強度位置において測定対象電界強度が所定時間測定された後、放射妨害波試験では、最大電界強度位置において所定時間測定された測定対象電界強度の尖頭値、積分値、平均値等が、国際的に定められた規格の許容値以下であるか否かが確認される。
【０００４】
ここで、放射妨害波試験では、測定対象電界強度分布を推定する際、測定面上に複数の測定点が設定される。そして、放射妨害波試験では、測定面上に設定された複数の測定点それぞれの位置を測定位置とし、各測定位置において、測定対象電界強度が測定される。そして、放射妨害波試験では、測定対象電界強度分布は、各測定位置において測定された測定対象電界強度に基づいて推定される。放射妨害波試験によって推定される測定対象電界強度分布の推定精度は、推定された測定対象電界強度分布における最大電界強度位置と、実際の測定対象電界強度分布における測定対象電界強度が最大となる実最大電界強度位置との一致度合いによって表される。このため、測定対象電界強度分布の推定精度の高さは、すなわち、最大電界強度位置の特定精度の高さを示す。
【０００５】
このように、放射妨害波試験では、測定対象電界強度は、各測定位置において測定される。このため、放射妨害波試験では、測定対象電界強度分布の推定精度は、測定面上に設定される複数の測定点の数が多いほど、高くなる。しかしながら、測定対象電界強度分布の推定に要する時間は、測定面上に設定される測定点の数が多いほど、長くなる。
【０００６】
例えば、情報通信機器の周波数帯域（すなわち、３０ＭＨｚ～４０ＧＨｚ）の放射妨害波についての放射妨害波試験では、測定面の形状は、円筒形状である。そして、当該放射妨害波試験では、測定面上に設定される複数の測定点は、基準となる平面からの高さが１ｍ～４ｍの範囲において、円筒形状の測定面上の上下方向に１ｃｍ間隔で並ぶように設定される。また、当該放射妨害波試験では、測定面上に設定される複数の測定点は、円筒形状の測定面の中心軸周りの方位角が０度～３６０度の範囲において、円筒形状の測定面上の周方向に１°間隔で並ぶように設定される。このため、当該放射妨害波試験では、測定面上に設定される測定点の数は、約１４万点にも及ぶ。その結果、当該放射妨害波試験には、例えば、１点の測定点毎に１分間の測定を行った場合であっても、１４万分（約９７日間）以上もの時間を要してしまう。
【０００７】
また、放射妨害波試験では、測定対象電界強度分布の推定精度を高くするため、放射妨害波として測定する電磁波の周波数帯域を広くすることが求められる。このため、放射妨害波試験では、例えば、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザ、ＦＦＴ（Fast Fourier Transform）方式のスペクトルアナライザ等のスペクトルアナライザを用いることにより、当該電磁波のスペクトルの測定を行う。しかしながら、放射妨害波試験に要する時間は、当該電磁波の周波数帯域が広いほど、長くなることも知られている。
【０００８】
このように、放射妨害波試験では、測定対象電界強度分布の推定精度を高くしようとする場合、放射妨害波試験に要する時間は、長くなってしまうことがある。
【０００９】
ここで、このような放射妨害波試験に要する時間の増大の抑制を目的として、測定面上における複数の測定位置をサンプリング定理に基づいて算出する電磁波測定点算出装置を有し、電磁波測定点算出装置により算出された複数の測定位置に基づいて、放射妨害波試験を行う放射妨害波測定装置が知られている（特許文献１、２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
特開２０１７－１８１１０４号公報
特開２０２０－１５９９０５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
（【００１１】以降は省略されています）

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