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公開番号2025179817
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-12-10
出願番号2025084430
出願日2025-05-20
発明の名称仮想欠陥イメージ生成システムおよびその方法
出願人ドゥサンエナービリティーカンパニーリミテッド
代理人弁理士法人RYUKA国際特許事務所
主分類H04N 1/387 20060101AFI20251203BHJP(電気通信技術)
要約【課題】本発明は、仮想欠陥イメージ生成システムおよびその方法に関する。
【解決手段】本発明によれば、仮想欠陥イメージ生成システムにおいて、正常イメージまたは少なくとも1つの欠陥を含む不良イメージが入力される入力部と、入力された前記不良イメージから欠陥を分離して抽出する抽出部と、抽出された前記欠陥に対して予め設定された変換方法を適用して前記欠陥を変換させる前処理部と、前記正常イメージに変換された前記欠陥を合成し補正する合成部とを含むことができる。このような本発明によれば、従来のクロップされた欠陥イメージを合成することにより発生するクロップされた欠陥イメージの境界線浮き出しを緩和させることができる。また、欠陥自体を抽出し、抽出された欠陥を多様な方法により変換することにより、比較的大きいサイズの欠陥を合成することができる。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
正常イメージまたは少なくとも１つの欠陥を含む不良イメージが入力される入力部と、
入力された前記不良イメージから欠陥を分離して抽出する抽出部と、
抽出された前記欠陥に対して予め設定された変換方法を適用して前記欠陥を変換させる前処理部と、
前記正常イメージに変換された前記欠陥を合成し補正する合成部とを含む仮想欠陥イメージ生成システム。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記合成部は、
抽出された欠陥に対して欠陥の種類を識別し、前記欠陥の種類に応じて当該種類の欠陥が発生可能な事前設定された領域内の一地点に抽出された前記欠陥を合成する、請求項１に記載の仮想欠陥イメージ生成システム。
【請求項３】
前記前処理部は、
抽出された欠陥の発生位置に応じて欠陥に識別子をマッチングさせる、請求項１に記載の仮想欠陥イメージ生成システム。
【請求項４】
前記識別子は、
欠陥の種類と事前設定された当該種類の欠陥が発生可能な領域とを含む、請求項３に記載の仮想欠陥イメージ生成システム。
【請求項５】
前記合成部は、
前記入力された正常イメージに変換された前記欠陥をコピーして合成し、欠陥の境界線上のピクセルを補正対象に選定する、請求項１に記載の仮想欠陥イメージ生成システム。
【請求項６】
前記合成部は、
欠陥が合成された正常イメージから前記欠陥の勾配を算出し、前記正常イメージの勾配を算出し、前記欠陥の境界線を抽出する、請求項１から５のいずれか一項に記載の仮想欠陥イメージ生成システム。
【請求項７】
前記合成部は、
算出された前記欠陥の勾配と前記正常イメージの勾配からｘ、ｙ方向の大きさをそれぞれ抽出し、抽出された前記ｘ、ｙ方向の大きさのうち大きい値を用いて勾配を演算する、請求項６に記載の仮想欠陥イメージ生成システム。
【請求項８】
前記合成部は、
抽出された前記境界線と前記ｘ、ｙ方向の大きさのうち大きい値を用いて演算された前記勾配に対する微分方程式を用いて、前記正常イメージと前記欠陥との間の関数を算出し、前記正常イメージに算出された前記関数を乗じて前記境界線を補正する、請求項７に記載の仮想欠陥イメージ生成システム。
【請求項９】
入力部が、正常イメージまたは少なくとも１つの欠陥を含む不良イメージが入力されるステップと、
抽出部が、入力された前記不良イメージから欠陥を分離して抽出するステップと、
前処理部が、抽出された前記欠陥に対して予め設定された変換方法を適用して前記欠陥を変換させるステップと、
合成部が、前記正常イメージに変換された前記欠陥を合成し補正するステップとを含む仮想欠陥イメージ生成方法。
【請求項１０】
前記補正するステップは、
抽出された欠陥に対して欠陥の種類を識別し、前記欠陥の種類に応じて当該種類の欠陥が発生可能な事前設定された領域内の一地点に抽出された前記欠陥を合成する、請求項９に記載の仮想欠陥イメージ生成方法。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、仮想欠陥イメージ生成システムおよびその方法に関し、より詳しくは、欠陥を含むイメージから欠陥を分割し、正常イメージに合成し、イメージブレンディングを用いて仮想欠陥イメージを生成する仮想欠陥イメージ生成システムおよびその方法に関する。
続きを表示（約 1,000 文字）【背景技術】
【０００２】
製造業において製造される商品に対して欠陥の探知を行うことは重要である。特に、仮想欠陥イメージを生成し、人工知能モデルを学習させることにより、多様な欠陥を探知するための技術が活発に研究されている。
【０００３】
しかし、従来の仮想欠陥イメージを生成する技術の場合、欠陥のある不良イメージから一部分をクロップ（Ｃｒｏｐ）して正常イメージに合成する方式で、クロップされた不良イメージの境界線が現れて人工知能モデルの学習能力を低下させるという限界がある。
【０００４】
したがって、より自然に仮想欠陥イメージを生成する技術が必要なのが現状である。
本発明の背景技術は、大韓民国公開特許第１０－２０２４－００４４７５７号（２０２４．０４．０５．公開）に記載されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このような本発明によれば、欠陥を含むイメージから欠陥を分割し、正常イメージに合成し、イメージブレンディングを用いて仮想欠陥イメージを生成する仮想欠陥イメージ生成システムおよびその方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
このような技術的課題を解決するための、本発明の実施形態によれば、仮想欠陥イメージ生成システムにおいて、正常イメージまたは少なくとも１つの欠陥を含む不良イメージが入力される入力部と、入力された前記不良イメージから欠陥を分離して抽出する抽出部と、抽出された前記欠陥に対して予め設定された変換方法を適用して前記欠陥を変換させる前処理部と、前記正常イメージに変換された前記欠陥を合成し補正する合成部とを含むことができる。
【０００７】
前記合成部は、抽出された欠陥に対して欠陥の種類を識別し、前記欠陥の種類に応じて当該種類の欠陥が発生可能な事前設定された領域内の一地点に抽出された前記欠陥を合成することができる。
【０００８】
前記前処理部は、抽出された欠陥の発生位置に応じて欠陥に識別子をマッチングさせることができる。
【０００９】
前記識別子は、欠陥の種類と事前設定された当該種類の欠陥が発生可能な領域とを含むことができる。
【００１０】
前記合成部は、入力された前記正常イメージに変換された前記欠陥をコピーして合成し、欠陥の境界線上のピクセルを補正対象に選定することができる。
（【００１１】以降は省略されています）

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