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公開番号
2025151941
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-10-09
出願番号
2024053582
出願日
2024-03-28
発明の名称
回転体検査装置、回転体検査方法及びプログラム
出願人
ニデック株式会社
代理人
弁理士法人酒井国際特許事務所
主分類
G01M
99/00 20110101AFI20251002BHJP(測定;試験)
要約
【課題】モータ等の回転体における比較的小さい振幅の異音を検出する技術を提供する。
【解決手段】本開示の一態様による回転体検査装置は、周波数スペクトラム生成部と、ケプストラム生成部と、次数ケプストラム生成部と、異音検出部とを備える。周波数スペクトラム生成部は、回転体の回転速度毎の振動のデータである振動データから時系列の計測区間毎の周波数スペクトラムを生成する。ケプストラム生成部は、上記計測区間毎に上記周波数スペクトラムからケプストラムを生成する。次数ケプストラム生成部は、上記計測区間毎に上記ケプストラムのケフレンシを次数に変換したデータである次数ケプストラムを生成する。異音検出部は、上記計測区間毎の上記次数ケプストラムに基づいて上記回転体の異音を検出する。
【選択図】図2
特許請求の範囲
【請求項1】
回転体の回転速度毎の振動のデータである振動データから時系列の計測区間毎の周波数スペクトラムを生成する周波数スペクトラム生成部と、
前記計測区間毎に前記周波数スペクトラムからケプストラムを生成するケプストラム生成部と、
前記計測区間毎に前記ケプストラムのケフレンシを次数に変換したデータである次数ケプストラムを生成する次数ケプストラム生成部と、
前記計測区間毎の前記次数ケプストラムに基づいて前記回転体の異音を検出する異音検出部と
を備える回転体検査装置。
続きを表示(約 700 文字)
【請求項2】
前記周波数スペクトラム生成部は、隣接する前記計測区間同士において一部が重なる前記計測区間毎に前記周波数スペクトラムを生成する請求項1に記載の回転体検査装置。
【請求項3】
前記異音検出部は、所定の閾値に基づいて前記異音を検出する請求項1に記載の回転体検査装置。
【請求項4】
前記所定の閾値は、上限及び下限の閾値を含む請求項3に記載の回転体検査装置。
【請求項5】
回転体の回転速度毎の振動のデータである振動データから時系列の計測区間毎の周波数スペクトラムを生成することと、
前記計測区間毎に前記周波数スペクトラムからケプストラムを生成することと、
前記計測区間毎に前記ケプストラムのケフレンシを次数に変換したデータである次数ケプストラムを生成することと、
前記計測区間毎の前記次数ケプストラムに基づいて前記回転体の異音を検出することと
を含む回転体検査方法。
【請求項6】
回転体の回転速度毎の振動のデータである振動データから時系列の計測区間毎の周波数スペクトラムを生成する周波数スペクトラム生成手順と、
前記計測区間毎に前記周波数スペクトラムからケプストラムを生成するケプストラム生成手順と、
前記計測区間毎に前記ケプストラムのケフレンシを次数に変換したデータである次数ケプストラムを生成する次数ケプストラム生成手順と、
前記計測区間毎の前記次数ケプストラムに基づいて前記回転体の異音を検出する異音検出手順と
をコンピュータに実行させるプログラム。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本開示は、回転体検査装置、回転体検査方法及びプログラムに関する。
続きを表示(約 1,600 文字)
【背景技術】
【0002】
従来、モータ等の回転体の異音を検出するシステムが使用されていた。例えば、測定音に離散フーリエ変換(Discrete Fourier Transform:DFT)を施して周波数領域の回転数信号を生成し、この回転数信号に対して周波数をモータの1回転の倍数である次数に変換した回転次数データに基づいて異音を検出するシステムが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特開2020-064286号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
上記の従来技術では、比較的小さい振幅ながら耳障りな異音、例えば、周期的に振幅が増減する異音の検出が困難になるという問題がある。
【0005】
本開示は、モータ等の回転体における比較的小さい振幅の異音を検出する技術を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示の一態様による回転体検査装置は、周波数スペクトラム生成部と、ケプストラム生成部と、次数ケプストラム生成部と、異音検出部とを備える。周波数スペクトラム生成部は、回転体の回転速度毎の振動のデータである振動データから時系列の計測区間毎の周波数スペクトラムを生成する。ケプストラム生成部は、上記計測区間毎に上記周波数スペクトラムからケプストラムを生成する。次数ケプストラム生成部は、上記計測区間毎に上記ケプストラムのケフレンシを次数に変換したデータである次数ケプストラムを生成する。異音検出部は、上記計測区間毎の上記次数ケプストラムに基づいて上記回転体の異音を検出する。
【発明の効果】
【0007】
本開示によれば、モータ等の回転体における比較的小さい振幅の異音を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
図1は、本開示の実施形態に係る異音の一例を示す図である。
図2は、本開示の実施形態に係る回転体検査システムの構成例を示す図である。
図3は、本開示の実施形態に係る異音検出処理の処理手順の一例を示す図である。
図4は、本開示の実施形態に係るデータの一例を示す図である。
図5は、本開示の実施形態に係る計測区間毎の振動データの取得の一例を示す図である。
図6は、本開示の実施形態に係る周波数スペクトラムの一例を示す図である。
図7は、本開示の実施形態に係る離散フーリエ変換の設定の一例を示す図である。
図8は、本開示の実施形態に係るケプストラムの一例を示す図である。
図9は、本開示の実施形態に係る計測区間毎の回転速度データの一例を示す図である。
図10は、本開示の実施形態に係る次数テーブルの一例を示す図である。
図11は、本開示の実施形態に係る次数のテーブルの設定の一例を示す図である。
図12は、本開示の実施形態に係る次数ケプストラムの一例を示す図である。
図13は、本開示の実施形態に係る異音の検出の一例を示す図である。
図14は、本開示の実施形態に係る異音検出の設定の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下に、本開示の実施形態について図面に基づいて詳細に説明する。説明は、以下の順に行う。なお、以下の各実施形態において、同一の部位には同一の符号を付することにより重複する説明を省略する。
1.異音
2.実施形態
【0010】
(1.異音)
本開示の回転体検査装置の検出対象である異音について、図1を用いて説明する。
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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