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公開番号2025127709
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-02
出願番号2024024573
出願日2024-02-21
発明の名称高温検査方法、検査システム、及び電子機器
出願人株式会社デンソーテン
代理人弁理士法人酒井国際特許事務所
主分類G01R 31/00 20060101AFI20250826BHJP(測定;試験)
要約【課題】電子機器の高温検査を効率良く行うこと。
【解決手段】高温検査方法は、検査対象となる電子機器を、無通電状態で、高温環境下において、電子機器の内部温度が、規定の温度よりも高い温度となるまで加熱する。高温検査方法は、加熱された電子機器を、通電状態で、室温環境下において、電子機器の内部温度が、規定の温度よりも低い第1温度以下、かつ、該第1温度よりも低い第2温度以上であるときに、電子機器の動作確認を行う。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
検査対象となる電子機器を、無通電状態で、高温環境下において、前記電子機器の内部温度が、規定の温度よりも高い温度となるまで加熱し、
加熱された前記電子機器を、通電状態で、室温環境下において、前記電子機器の内部温度が、前記規定の温度よりも低い第１温度以下、かつ、該第１温度よりも低い第２温度以上であるときに、前記電子機器の動作確認を行う
高温検査方法。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記動作確認を行う際に、前記電子機器のコントローラに、前記動作確認のためのプログラムに加え、前記コントローラに処理負荷を与える他のプログラムを同時に実行させる
請求項１に記載の高温検査方法。
【請求項３】
前記動作確認を行う際に、前記電子機器のコントローラに、前記電子機器の内部の熱を外部に放出するための冷却用ファンの動作を停止させる
請求項１又は２に記載の高温検査方法。
【請求項４】
検査対象となる電子機器を、無通電状態で、高温環境下において、前記電子機器の内部温度が、規定の温度よりも高い温度となるまで加熱する恒温槽と、
加熱された前記電子機器を、通電状態で、室温環境下において、前記電子機器の内部温度が、前記規定の温度よりも低い第１温度以下、かつ、該第１温度よりも低い第２温度以上であるときに、前記電子機器の動作確認を行う検査装置と、を有する検査システム。
【請求項５】
電子機器であって、
前記電子機器の内部の温度を測定する温度センサと、
前記電子機器の動作確認のためのプログラムを実行可能なコントローラと、
を備え、
前記コントローラは、前記電子機器の内部温度が、第１温度以下、かつ、該第１温度よりも低い第２温度以上であるときに、前記動作確認のためのプログラムを実行する
電子機器。
【請求項６】
前記コントローラは、前記動作確認のためのプログラムに加え、前記コントローラに処理負荷を与える他のプログラムを同時に実行する
請求項５に記載の電子機器。
【請求項７】
前記電子機器の内部の熱を外部に放出するための冷却用ファンをさらに備え、
前記コントローラは、前記動作確認のためのプログラムを実行するときに、前記冷却用ファンの動作を停止させる
請求項５又は６に記載の電子機器。
【請求項８】
表示装置をさらに備え、
前記コントローラは、前記動作確認のためのプログラムを実行しているときに、前記温度センサによって測定された温度を前記表示装置に表示させる
請求項５に記載の電子機器。
【請求項９】
前記コントローラは、前記動作確認のためのプログラムを実行しているときに、前記温度センサによって測定された温度が、前記第１温度を超え、または、前記第２温度を下回ったとき、前記動作確認を中止する旨のメッセージを、前記表示装置に表示させる
請求項８に記載の電子機器。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、高温検査方法、検査システム、及び電子機器に関する。
続きを表示（約 1,000 文字）【背景技術】
【０００２】
電子機器の製造工程においては、製品である電子機器を高温状態（例えば６５℃）で動作させ、異常が無いかを検査するバーンイン検査が行われる。バーンイン検査は、高温検査の一例である。
【０００３】
また、電子機器自身の発熱を利用して高温検査を行う技術が知られている（例えば、特許文献１を参照）。また、高温検査を行う際に、電子機器の冷却ファンを停止させる技術が知られている（例えば、特許文献２を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２００２－４００９３号公報
特開平５－１０８３９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来の技術では、電子機器の高温検査を効率良く行うことができない場合がある。
【０００６】
例えば、バーンイン検査は広いペースを有する恒温室で行われるため、検査設備の導入に多大な費用が必要になり、また、検査設備の設置場所が制限される。
【０００７】
また、例えば、特許文献１及び特許文献２に記載の技術には、電子機器自身の発熱だけでは温度の上昇に時間がかかり、場合によっては必要な温度まで上昇しない恐れがあるという問題がある。
【０００８】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、電子機器の高温検査を効率良く行うことができる検査方法、検査システム、及び車載電子機器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る検査方法は、検査方法は、検査対象となる電子機器を、無通電状態で、高温環境下において、電子機器の内部温度が、規定の温度よりも高い温度となるまで加熱する。検査方法は、加熱された電子機器を、通電状態で、室温環境下において、電子機器の内部温度が、規定の温度よりも低い第１温度以下、かつ、該第１温度よりも低い第２温度以上であるときに、電子機器の動作確認を行う。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、高温検査の規定の温度よりも高い温度に電子機器を加熱した上で、通常の使用状態よりも発熱が大きい動作状態として電子機器の動作確認を行うので、電子機器の高温検査を効率良く行うことができる。
【図面の簡単な説明】
（【００１１】以降は省略されています）

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