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公開番号2025011485
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-01-24
出願番号2023113627
出願日2023-07-11
発明の名称検査用プローブ
出願人株式会社村田製作所
代理人弁理士法人楓国際特許事務所
主分類G01R 1/067 20060101AFI20250117BHJP(測定;試験)
要約【課題】本発明の目的は、予測できない共振による検査精度の低下を抑制することができる検査用プローブを提供することである。
【解決手段】検査用プローブは、グランド電位に接続されるプランジャと、コネクタ信号端子に接続される信号ピンと、コネクタグランド端子に接続されるグランドピンと、を備えている。プランジャは、主面を有している。主面には、上方向に向かって窪む凹部が設けられている。グランドピンは、凹部内に位置するピン本体と、ピン本体から下方向に向かって延びているピン先端部と、凹部内に位置するリング部と、を含んでいる。ピン先端部は、主面から下方向に向かって突出している。リング部は、上方向に視て、ピン本体の外径より大きい外径を有しており、かつ、凹部の側面に支持されている。ピン本体の上端部は、凹部の側面に接触していない。
【選択図】図6
特許請求の範囲【請求項１】
コネクタグランド端子及びコネクタ信号端子を備えるコネクタに接続される検査用プローブであって、
グランド電位に接続されるプランジャと、
前記コネクタ信号端子に接続される信号ピンと、
前記コネクタグランド端子に接続されるグランドピンと、
を備えており、
前記プランジャは、主面を有しており、
前記主面には、上方向に向かって窪む凹部が設けられており、
前記グランドピンは、
前記凹部内に位置するピン本体と、
前記ピン本体から下方向に向かって延びているピン先端部と、
前記凹部内に位置するリング部と、
を含んでおり、
前記ピン先端部は、前記主面から前記下方向に向かって突出しており、
前記リング部は、前記上方向に視て、前記ピン本体の外径より大きい外径を有しており、かつ、前記凹部の側面に支持されており、
前記ピン本体の上端部は、前記凹部の側面に接触していない、
検査用プローブ。
続きを表示（約 720 文字）【請求項２】
前記ピン本体の外径は、前記凹部の内径より小さく、
前記ピン本体の上端は、前記凹部の上端より下に位置している、
請求項１に記載の検査用プローブ。
【請求項３】
前記リング部の上端から前記主面までの上下方向に沿った第１距離は、前記リング部の上端から前記凹部の上端までの前記上下方向に沿った第２距離より短い、
請求項１又は請求項２に記載の検査用プローブ。
【請求項４】
前記第１距離は、０より長く、３．７５ｍｍ未満である、
請求項３に記載の検査用プローブ。
【請求項５】
前記凹部の下端の内径は、前記凹部の上端の内径より大きい、
請求項１又は請求項２に記載の検査用プローブ。
【請求項６】
前記ピン本体は、
筒部と、
スプリングと、
を有しており、
前記スプリングは、前記筒部内に設けられている、
請求項１又は請求項２に記載の検査用プローブ。
【請求項７】
前記筒部の下端部は、絞られた形状を有しており、前記ピン先端部を加締めている、
請求項６に記載の検査用プローブ。
【請求項８】
前記ピン先端部の下端には、面取りが施されている、
請求項１又は請求項２に記載の検査用プローブ。
【請求項９】
複数の前記グランドピンを備えている、
請求項１又は請求項２に記載の検査用プローブ。
【請求項１０】
前記信号ピンには、高周波信号が印加される、
請求項１又は請求項２に記載の検査用プローブ。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、コネクタに接続して、コネクタを備える電子機器を検査する検査用プローブに関する。
続きを表示（約 2,300 文字）【背景技術】
【０００２】
従来の検査用プローブに関する発明としては、例えば、特許文献１に記載のコネクタ測定用プローブが知られている。特許文献１に記載のコネクタ測定用プローブは、被測定コネクタに接続される。被測定コネクタは、高周波信号が入出力する信号端子と、グランド端子と、を備えている。特許文献１に記載のコネクタ測定用プローブは、複数のプローブ部と、導電性のプランジャと、グランド導体部と、を備えている。複数のプローブ部のそれぞれは、被測定コネクタの信号端子に接する中心導体を有している。プランジャは、複数のプローブ部のそれぞれを挿入するための挿入孔を有している。中心導体の先端は、プランジャの主面から被測定コネクタに向かって、突出可能に構成されていることにより、被測定コネクタの信号端子に接することができる。グランド導体部は、プランジャと電気的に接続されている。グランド導体部は、隣接する中心導体の間において、プランジャの主面から被測定コネクタに向かって突出する突出部を有していることにより、被測定コネクタのグランド端子に接する。
【０００３】
特許文献１に記載のコネクタ測定用プローブにおいて、グランド導体部をプローブピンにする場合がある（図２１参照）。グランド導体部は、プランジャに圧入されている。グランド導体部は、グランド導体部内部のコイルスプリングにより、プランジャの主面から被測定コネクタに向かう方向に弾性的に突出している。グランド導体部は、被測定コネクタのグランド端子の天面又はテーパー部に接する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
国際公開第２０２１／６０１８９号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
グランド導体部とプランジャとの間に空隙が生じると、グランド導体部とプランジャとの接触箇所を特定できなくなる。また、グランド導体部とプランジャとの間に空隙が生じると、グランド導体部とプランジャとの間に予測できない浮遊容量が発生する。特許文献１に記載のコネクタ測定用プローブの測定対象は、高周波信号が入出力するコネクタであるため、予測できない浮遊容量が発生すると、予測できない共振により、検査精度が低下するおそれがある。
【０００６】
そこで、本発明の目的は、予測できない共振による検査精度の低下を抑制することができる検査用プローブを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一形態に係る検査用プローブは、
コネクタグランド端子及びコネクタ信号端子を備えるコネクタに接続される検査用プローブであって、
グランド電位に接続されるプランジャと、
前記コネクタ信号端子に接続される信号ピンと、
前記コネクタグランド端子に接続されるグランドピンと、
を備えており、
前記プランジャは、主面を有しており、
前記主面には、上方向に向かって窪む凹部が設けられており、
前記グランドピンは、
前記凹部内に位置するピン本体と、
前記ピン本体から下方向に向かって延びているピン先端部と、
前記凹部内に位置するリング部と、
を含んでおり、
前記ピン先端部は、前記主面から前記下方向に向かって突出しており、
前記リング部は、前記上方向に視て、前記ピン本体の外径より大きい外径を有しており、かつ、前記凹部の側面に支持されており、
前記ピン本体の上端部は、前記凹部の側面に接触していない。
【０００８】
リング部は、上方向に視て、ピン本体の外径より大きい外径を有している。そのため、リング部の機械的強度は、ピン本体の機械的強度より高い。従って、リング部は、ピン本体と比較して、変形しにくい。変形しにくいリング部が、凹部の側面に支持されているため、リング部と凹部の側面との間には、空隙が生じにくい。その結果、予測できない浮遊容量の発生を抑制する。従って、本実施形態は、予測できない共振が発生することを抑制し、検査精度の低下を抑制することができる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明に係る検査用プローブによれば、予測できない共振による検査精度の低下を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
図１は、検査用ユニット１００の正面図である。
図２は、同軸ケーブル３ａの下端部の斜視図である。
図３は、検査用プローブ１の内部を示した断面図である。
図４は、プランジャ８の内部、同軸ケーブル３ａ、同軸ケーブル３ｂ、同軸ケーブル３ｃ、グランドピン１０ａ、グランドピン１０ｂ、グランドピン１０ｃ及びグランドピン１０ｄを示した断面図である。
図５は、主面Ｓ１を上方向に視た平面図である。
図６は、プランジャ８の内部及びグランドピン１０ａを示した断面図である。
図７は、コネクタ２００の斜視図である。
図８は、検査用プローブ１がコネクタ２００に接続されたときの検査用プローブ１の下部及びコネクタ２００の断面図である。
図９は、検査用プローブ１がコネクタ２００に接続されたときのグランドピン１０ｃ及び信号プローブ９ｃを流れる電流経路を示す断面図である。
図１０は、複数のリング部１０ａ４を含むグランドピン１０ａの一例を示した断面図である。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

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