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公開番号2024132647
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-10-01
出願番号2023043501
出願日2023-03-17
発明の名称情報処理装置、情報処理方法および情報処理プログラム
出願人横河電機株式会社
代理人弁理士法人酒井国際特許事務所
主分類G01R 31/00 20060101AFI20240920BHJP(測定;試験)
要約【課題】外部環境による電子機器の故障を予測すること。
【解決手段】情報処理装置10は、プリント基板Pに搭載された発振回路であって、導電性を有する金属により形成された電子素子である腐食センサを含む発振回路から出力される信号の周波数を取得し、周波数の変動に基づき、プリント基板Pの異常を検知する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
基板に搭載された発振回路であって、導電性を有する金属により形成された電子素子を含む前記発振回路から出力される信号の周波数を取得する取得部と、
前記周波数の変動に基づき、前記基板の異常を検知する検知部と、
を備える情報処理装置。
続きを表示（約 690 文字）【請求項２】
前記発振回路は、
前記金属により生成された少なくとも２枚の金属箔を対向させて形成することで所定のキャパシタンス値を示す前記電子素子を含む、
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記発振回路を形成するインダクタは、
前記金属により生成された金属箔を螺旋状または渦巻き状に形成することで所定のインダクタンス値を示す前記電子素子を含む、
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記金属は、銅である、
請求項１から３のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記検知部は、
前記発振回路から出力される信号の周波数の変動値を算出し、算出した前記変動値が閾値以上となった場合に、前記基板に異常が発生したと検知する、
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項６】
コンピュータが、
基板に搭載された発振回路であって、導電性を有する金属により形成された電子素子を含む前記発振回路から出力される信号の周波数を取得し、
前記周波数の変動に基づき、前記基板の異常を検知する、
処理を実行する情報処理方法。
【請求項７】
コンピュータに、
基板に搭載された発振回路であって、導電性を有する金属により形成された電子素子を含む前記発振回路から出力される信号の周波数を取得し、
前記周波数の変動に基づき、前記基板の異常を検知する、
処理を実行させる情報処理プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報処理装置、情報処理方法および情報処理プログラムに関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
近年、プラント制御システムを構成するセンサ機器、通信機器、制御機器等の電子機器は、より高精度な測定、より高度な通信や制御、かつより安定性の高い稼働が求められている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開平１０－０６２４７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、上記電子機器には、様々な電子部品が取り付けられて電子回路を構成するプリント基板が搭載される。このプリント基板の電子部品は、例えば大気中の腐食ガス、粉塵等の外部環境により劣化することがあり、このような劣化が電子機器の故障の原因となり、プラント制御システムの停止、さらにはプラントの停止等を誘発させることがある。しかしながら、電子機器の内部に搭載されるプリント基板の電子部品が外部環境により劣化することを検知することが難しい。
【０００５】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、大気中の腐食ガス、粉塵等の外部環境による電子機器の故障を予測することができる。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、基板に搭載された発振回路であって、導電性を有する金属により形成された電子素子を含む前記発振回路から出力される信号の周波数を取得する取得部と、前記周波数の変動に基づき、前記基板の異常を検知する検知部と、を備える情報処理装置を提供する。
【０００７】
また、本発明は、コンピュータが、基板に搭載された発振回路であって、導電性を有する金属により形成された電子素子を含む前記発振回路から出力される信号の周波数を取得し、前記周波数の変動に基づき、前記基板の異常を検知する、処理を実行する情報処理方法を提供する。
【０００８】
また、本発明は、コンピュータに、基板に搭載された発振回路であって、導電性を有する金属により形成された電子素子を含む前記発振回路から出力される信号の周波数を取得し、前記周波数の変動に基づき、前記基板の異常を検知する、処理を実行させる情報処理プログラムを提供する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、外部環境による電子機器の故障を予測することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
実施形態に係る情報処理システムの構成例および処理例を示す図である。
実施形態に係る腐食センサの具体例１－１を示す図である。
実施形態に係る腐食センサの具体例１－２を示す図である。
実施形態に係る腐食センサの具体例１－３を示す図である。
実施形態に係る腐食センサの具体例２を示す図である。
実施形態に係る情報処理システムの情報処理装置の構成例を示すブロック図である。
実施形態に係る腐食検出回路の構成例を示す回路図である。
実施形態に係る情報処理全体の流れの一例を示すフローチャートである。
実施形態に係るハードウェア構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
（【００１１】以降は省略されています）

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