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公開番号2024131225
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-09-30
出願番号2023041352
出願日2023-03-15
発明の名称光パルス試験器
出願人横河電機株式会社,横河計測株式会社
代理人個人,個人,個人
主分類G01M 11/00 20060101AFI20240920BHJP(測定;試験)
要約【課題】OTDR測定において光強度の大きい反射光を受光してもOTDR波形の劣化を低減する。
【解決手段】本開示に係る光パルス試験器10は、光ファイバ1の状態を測定可能なOTDR(Optical Time Domain Reflectometer)として機能する。光パルス試験器10は、光ファイバ1に入射する光パルスを生成するレーザ素子121と、光ファイバ1からの反射光を検出する受光器123と、光パルス及び反射光の光強度を調整可能な光強度調整部13と、光強度調整部13を制御する制御部16と、を備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
光ファイバの状態を測定可能なＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）として機能する光パルス試験器であって、
前記光ファイバに入射する光パルスを生成するレーザ素子と、
前記光ファイバからの反射光を検出する受光器と、
前記光パルス及び前記反射光の光強度を調整可能な光強度調整部と、
前記光強度調整部を制御する制御部と、
を備える、光パルス試験器。
続きを表示（約 890 文字）【請求項２】
請求項１に記載の光パルス試験器において、
前記光強度調整部は、前記光パルス及び前記反射光の光強度を調整可能な可変光減衰器を備える、光パルス試験器。
【請求項３】
請求項２に記載の光パルス試験器において、
前記制御部は、前記受光器が検出した前記反射光のＯＴＤＲ波形が閾値以上の光強度を含む場合、前記可変光減衰器の減衰量を所定量だけ増やし、前記反射光を再度測定する、光パルス試験器。
【請求項４】
請求項３に記載の光パルス試験器において、
前記制御部は、前記可変光減衰器の減衰量を所定量だけ増やした場合、複数の異なる減衰量で測定した前記反射光の複数のＯＴＤＲ波形を合成して、合成ＯＴＤＲ波形を生成する、光パルス試験器。
【請求項５】
請求項４に記載の光パルス試験器において、
表示部をさらに備え、
前記制御部は、前記合成ＯＴＤＲ波形を前記表示部に表示させる、光パルス試験器。
【請求項６】
請求項１に記載の光パルス試験器において、
前記光強度調整部は、前記光パルス及び前記反射光の光強度を調整可能な可変光増幅器を備える、光パルス試験器。
【請求項７】
請求項６に記載の光パルス試験器において、
前記制御部は、前記受光器が検出した前記反射光のＯＴＤＲ波形が閾値以上の光強度を含む場合、前記可変光増幅器の増幅量を所定量だけ減らし、前記反射光を再度測定する、光パルス試験器。
【請求項８】
請求項７に記載の光パルス試験器において、
前記制御部は、前記可変光増幅器の増幅量を所定量だけ減らした場合、複数の異なる増幅量で測定した前記反射光の複数のＯＴＤＲ波形を合成して、合成ＯＴＤＲ波形を生成する、光パルス試験器。
【請求項９】
請求項８に記載の光パルス試験器において、
表示部をさらに備え、
前記制御部は、前記合成ＯＴＤＲ波形を前記表示部に表示させる、光パルス試験器。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、光パルス試験器に関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
従来、光ファイバの状態を測定可能な装置として、ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）が知られている。例えば、特許文献１は、光ファイバの終端近傍における破断などを検出可能なＯＴＤＲ測定装置を開示している。
【０００３】
ＯＴＤＲは、測定対象の光ファイバに光パルスを繰り返し入射し、光ファイバからの反射光の光強度と、光ファイバから反射光を受光する時間とに基づいて、光ファイバの破断及び損失などのような光ファイバの状態を測定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
特開２００８－２０２２６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
測定対象の光ファイバに破断点がある場合、破断点において反射された反射光は、光ファイバのレイリー散乱光によって反射された反射光よりも光強度が大きい。光強度が所定のレベルより大きいと、反射光を検出する受光器の後段の増幅器に過大な光電流が供給され、増幅器の出力が飽和してしまう場合がある。
【０００６】
増幅器の出力が飽和すると、増幅器の応答速度が低下し、ＯＴＤＲで測定したＯＴＤＲ波形が理想波形から劣化してしまう。なお、本明細書において、「ＯＴＤＲ波形」とは、ＯＴＤＲ測定をすることによって得られる、横軸が距離、縦軸が光強度の波形を意味することとする。「距離」は、光パルスを入射してから反射光が戻ってくるまでの時間に対応する。「光強度」は、反射光の光強度に対応する。
【０００７】
図５に、従来のＯＴＤＲで測定したＯＴＤＲ波形の一例を示す。図５を参照すると、反射光の光強度が大きい部分において、実際に測定したＯＴＤＲ波形５０１は、増幅器の出力が飽和したことによって、理想のＯＴＤＲ波形５０２から劣化している。
【０００８】
そこで、本開示は、ＯＴＤＲ測定において光強度の大きい反射光を受光してもＯＴＤＲ波形の劣化を低減することが可能な光パルス試験器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
幾つかの実施形態に係る光パルス試験器は、光ファイバの状態を測定可能なＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）として機能する光パルス試験器であって、前記光ファイバに入射する光パルスを生成するレーザ素子と、前記光ファイバからの反射光を検出する受光器と、前記光パルス及び前記反射光の光強度を調整可能な光強度調整部と、前記光強度調整部を制御する制御部と、を備える。このような光パルス試験器によれば、ＯＴＤＲ測定において光強度の大きい反射光を受光してもＯＴＤＲ波形の劣化を低減することが可能である。
【００１０】
一実施形態に係る光パルス試験器において、前記光強度調整部は、前記光パルス及び前記反射光の光強度を調整可能な可変光減衰器を備えていてもよい。これにより、光パルス及び反射光の光強度を調整することができる。
（【００１１】以降は省略されています）

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