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公開番号2024074767
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-05-31
出願番号2023132093
出願日2023-08-14
発明の名称放射線撮像装置
出願人キヤノン株式会社
代理人個人
主分類A61B 6/42 20240101AFI20240524BHJP(医学または獣医学;衛生学)
要約【課題】シンチレータの焼き付きの有無を推定できるようにする。
【解決手段】放射線撮像装置は、放射線を光に変換するシンチレータと光を電荷に変換する光電変換素子を含み、画像を生成する放射線検出部と、放射線照射状態で前記放射線検出部により生成された第1の画像を取得し、その後、放射線非照射状態で前記放射線検出部により生成された第2の画像を取得する取得部と、前記第2の画像を基に、前記シンチレータの焼き付きの有無を推定する推定部とを有する。
【選択図】図3
特許請求の範囲【請求項１】
放射線を光に変換するシンチレータと光を電荷に変換する光電変換素子を含み、画像を生成する放射線検出部と、
放射線照射状態で前記放射線検出部により生成された第１の画像を取得し、その後、放射線非照射状態で前記放射線検出部により生成された第２の画像を取得する取得部と、
前記第２の画像を基に、前記シンチレータの焼き付きの有無を推定する推定部と
を有することを特徴とする放射線撮像装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記放射線検出部のリセット動作は、前記第１の画像の取得と前記第２の画像の取得との間には行われず、前記第２の画像の取得の後に行われることを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
【請求項３】
前記推定部は、前記第２の画像の中の画素値の差が閾値以上である場合には、前記シンチレータの焼き付きがあると推定し、前記第２の画像の中の画素値の差が閾値以上でない場合には、前記シンチレータの焼き付きがないと推定することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
【請求項４】
前記第１の画像に対して、第１の補正データを用いて補正する第１の補正部をさらに有し、
前記第１の補正部は、前記推定部により前記シンチレータの焼き付きがあると推定された場合には、前記第１の補正データを更新することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
【請求項５】
前記取得部は、前記推定部により前記シンチレータの焼き付きがあると推定された場合には、被写体がない状態かつ放射線照射状態で前記放射線検出部により生成された第３の画像を取得し、
前記第１の補正部は、前記推定部により前記シンチレータの焼き付きがあると推定された場合には、前記第３の画像を基に前記第１の補正データを更新することを特徴とする請求項４に記載の放射線撮像装置。
【請求項６】
前記取得部は、複数枚の第３の画像を取得し、
前記第１の補正部は、前記複数枚の第３の画像を基に前記第１の補正データを更新することを特徴とする請求項５に記載の放射線撮像装置。
【請求項７】
前記放射線検出部の前記第２の画像の生成のための動作条件は、前記放射線検出部の前記第１の画像の生成のための動作条件と同じであることを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
【請求項８】
前記放射線検出部の前記第２の画像の生成のためのフレームレートは、前記放射線検出部の前記第１の画像の生成のためのフレームレートより速いことを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
【請求項９】
前記推定部は、前記第２の画像の画像処理後の画像を基に、前記シンチレータの焼き付きの有無を推定することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
【請求項１０】
前記推定部により前記シンチレータの焼き付きがあると推定された場合には、通知を行う通知部をさらに有することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラムに関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
Ｘ線による医療画像診断や非破壊検査に用いる撮像装置として、Ｘ線を光に変換するシンチレータ及び半導体材料によって形成された平面検出器（ＦｌａｔＰａｎｅｌＤｅｔｅｃｔｏｒ、以下ＦＰＤと略す）を用いた放射線撮像装置が普及している。このような放射線撮像装置は、例えば、非破壊検査においては、プリント基板や配管などのモノを壊さずに、内部の傷や表面の傷あるいは劣化状況を検査するために用いることができる。
【０００３】
しなしながら、配管などの厚みのある被写体では、シンチレータに多量のＸ線を照射させる必要がある。シンチレータには、放射線が照射されたことに応じて感度特性が変動する場合があり、このような現象を「焼き付き（ブライトバーン）」とも称される。この現象により、ＦＰＤの画像にアーチファクト又は被写体の残像が生じるが、元に戻るまで時間がかかるため、焼き付きを除去する補正方法が知られている。
【０００４】
焼き付きを除去する補正方法として、被写体を外して白撮影（以下ゲインキャリブレーション）を実施し、ゲイン補正データを更新した後、撮影時には、更新したゲイン補正データでゲイン補正をする技術がある。
【０００５】
一方、残像現象として、Ｘ線の照射を止めてもシンチレータの発光が収まらないことが原因で発生する残光や、撮像素子の転送残りなどの原因により発生するものも存在する。これらは、ＦＰＮ（ＦｉｘｅｄＰａｔｔｅｒｎＮｏｉｓｅ）残像と呼ばれ、このＦＰＮ残像対策としても、前述のゲインキャリブレーションが有効な対策となる。
【０００６】
しかし、このゲインキャリブレーション自体は、時間を要する作業であるため、実施するのは必要最低限に抑えたいという要望がある。
【０００７】
特許文献１には、ＦＰＮ残像対策として、事前にゲインキャリブレーションを実施した際に取得したＸ線非照射下画像（以下ＦＰＮ画像）と、被写体撮影直前に取得したＦＰＮ画像から、ＦＰＮ残像の発生を判断し、対策を取る技術が開示されている。
【０００８】
特許文献２には、撮影した今回の焼き付き画像と１つ前の焼き付き補正画像とその焼き付き情報画像からパラメータを計算した画像を使って補正する方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
特許第４４６８０８３号公報
特開２００３－１８５７５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
Ｘ線照射下画像から焼き付きの有無を判断しようとすると、例えば、一通りの撮像処理が終わった後、被写体を移動させ、もう一度Ｘ線を照射して画像を取得し、その画像から焼き付きの有無を判定するという手間が発生する。これは、検査スループットの低下につながり、また配管検査等の場合は被写体を移動させる作業は、人手になり得るため、作業者に余計な手間を強いることになる。
（【００１１】以降は省略されています）

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