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公開番号
2025170996
公報種別
公開特許公報(A)
公開日
2025-11-20
出願番号
2024075925
出願日
2024-05-08
発明の名称
テスト支援装置及びテスト支援方法
出願人
株式会社日立製作所
代理人
弁理士法人信友国際特許事務所
主分類
G06F
11/36 20060101AFI20251113BHJP(計算;計数)
要約
【課題】常時変化しうるマイクロサービスの状態に合致した障害を設計することができるテスト支援装置を提供する。
【解決手段】テスト支援装置100のプロセッサは、マイクロサービス情報200に基づいて、テスト対象システムに構成され、障害のテスト対象とするマイクロサービス及び信頼性機能を選択し、障害条件220に基づいて、テストでマイクロサービスに発生させる障害の障害種別を選択するテスト実行部340と、マイクロサービス状態情報210に基づいて、障害を発生させるマイクロサービスを選定し、マイクロサービス、障害種別に対する障害設定項目の設定値を決定して障害設定情報230を作成する障害設定情報作成部330と、を備える。
【選択図】図1
特許請求の範囲
【請求項1】
記憶部と、プロセッサと、を有し、
前記記憶部は、マイクロサービスに設定されている信頼性機能、及び前記信頼性機能に設定される設定項目の値に関する情報を含むマイクロサービス情報と、前記マイクロサービスの状態に関する情報を含むマイクロサービス状態情報と、テスト対象システムに構成される前記マイクロサービスに発生させる障害に関する情報を含む障害条件と、を有し、
前記プロセッサは、
前記マイクロサービス情報に基づいて、前記テスト対象システムに構成され、障害のテスト対象とする前記マイクロサービス及び前記信頼性機能を選択し、前記障害条件に基づいて、前記テストで前記マイクロサービスに発生させる障害の障害種別を選択するテスト実行部と、
前記マイクロサービス状態情報に基づいて、障害を発生させる前記マイクロサービスを選定し、前記マイクロサービス、前記障害種別に対する障害設定項目の設定値を決定して障害設定情報を作成する障害設定情報作成部と、を備える
テスト支援装置。
続きを表示(約 1,700 文字)
【請求項2】
前記テスト実行部は、前記マイクロサービス状態情報に基づき、前記マイクロサービスの状態が前記障害条件を満たすか否かを判定し、前記マイクロサービスの状態が前記障害条件を満たさないと判定した場合には、前記マイクロサービスの状態が前記障害条件を満たすまで待機する
請求項1に記載のテスト支援装置。
【請求項3】
前記テスト実行部は、前記マイクロサービスの状態が前記障害条件を満たすと判定した場合には、前記マイクロサービス状態情報に基づき、前記マイクロサービスの障害発生状況が前記障害条件を満たすか否かを判定し、
前記マイクロサービスの障害発生状況が前記障害条件を満たさないと判定した場合には、前記障害設定情報作成部により、前記マイクロサービス情報と、前記マイクロサービス状態情報と、前記障害条件とを用いて決定された前記障害設定情報の値を基に、前記マイクロサービスに障害を発生させ、前記テスト実行部が再び前記マイクロサービスの状態が前記障害条件を満たすか否かを判定する
請求項2に記載のテスト支援装置。
【請求項4】
前記テスト実行部は、全ての前記マイクロサービスの全ての前記信頼性機能に対する全ての前記障害種別を網羅したテストを実行し、又は、予め選択された特定の前記マイクロサービスの特定の前記信頼性機能に対する特定の前記障害種別を網羅したテストを実行する
請求項3に記載のテスト支援装置。
【請求項5】
前記マイクロサービス情報には、マイクロサービスごとに設定されている信頼性機能と、信頼性機能を実現するために設定される設定項目と、前記設定項目に設定される設定値とが含まれ、
前記マイクロサービス状態情報には、マイクロサービスとしてデプロイされる計算機リソースの識別子と、前記計算機リソースごとの稼働率と、前記計算機リソースで使用されるプロセッサの利用率とが含まれ、
前記障害条件には、前記信頼性機能ごとに前記マイクロサービスに発生させる障害を示す障害種別と、障害に関する障害設定項目と、前記障害設定項目に設定される設定値とが含まれる
請求項4に記載のテスト支援装置。
【請求項6】
前記障害設定情報は、前記信頼性機能、前記障害種別、及び前記障害設定項目が紐づけられ、前記障害設定項目の設定値には、前記障害を発生させる前記マイクロサービスの前記計算機リソースの識別子が設定される
請求項5に記載のテスト支援装置。
【請求項7】
前記障害設定情報の前記信頼性機能がオートスケールである場合に、前記障害種別に計算機リソースkill、又はプロセッサ負荷が紐づけられ、前記信頼性機能がタイムアウトである場合に、前記障害種別にHTTPステータスが紐づけられる
請求項5に記載のテスト支援装置。
【請求項8】
マイクロサービスに設定されている信頼性機能、及び前記信頼性機能に設定される設定項目の値に関する情報を含むマイクロサービス情報と、前記マイクロサービスの状態に関する情報を含むマイクロサービス状態情報と、テスト対象システムに構成される前記マイクロサービスに発生させる障害に関する情報を含む障害条件と、を有する記憶部と、プロセッサとで構成されるテスト支援装置で行われるテスト支援方法であって、
前記プロセッサが備えるテスト実行部が、前記マイクロサービス情報に基づいて、前記テスト対象システムに構成され、障害のテスト対象とする前記マイクロサービス及び前記信頼性機能を選択し、前記障害条件に基づいて、前記テストで前記マイクロサービスに発生させる障害の障害種別を選択するステップと、
前記プロセッサが備える障害設定情報作成部が、前記マイクロサービス状態情報に基づいて、障害を発生させる前記マイクロサービスを選定し、前記マイクロサービス、前記障害種別に対する障害設定項目の設定値を決定して障害設定情報を作成するステップと、を含む
テスト支援方法。
発明の詳細な説明
【技術分野】
【0001】
本発明は、テスト支援装置及びテスト支援方法に関する。
続きを表示(約 1,900 文字)
【背景技術】
【0002】
近年、企業競争力強化のため、モノリシックなレガシーシステムからDX(デジタルトランスフォーメーション)を推進するクラウドネイティブなシステムへの移行が進められている。特に、クラウドネイティブなシステムへの移行において、マイクロサービスアーキテクチャへのニーズが高まっている。
【0003】
マイクロサービスアーキテクチャでは、マイクロサービスと呼ばれる多数の小さな機能が疎に連携して処理が実行される。このため、マイクロサービス毎の機能改修やスケーリングが可能となり、柔軟で迅速なシステム構築又はシステム改変が可能となっている。一方、従来と比べてシステムが小さな機能に分割されて依存関係が増加することにより、障害点が増加するといった問題がある。
【0004】
例えば、マイクロサービス間はAPI(Application Programming Interface)を通じて通信が行われる。しかし、通信先のマイクロサービスのCPU負荷又はメモリ負荷が高くなって処理に時間がかかれば、通信元のマイクロサービスの処理にも時間がかかる。このように、一つのマイクロサービスの遅延が多くのマイクロサービスの遅延を招く可能性がある。モノリシックなレガシーシステムと比べ、マイクロサービスアーキテクチャでは、多数のマイクロサービスにおける計算機リソースやそれらをつなぐネットワーク等、障害点が多い。
【0005】
従来、ユーザが意図的に障害を発生させてシステムの信頼性を確認する障害テストが用いられている。障害テストでは、障害時でもシステムが正常に動作すること、及びシステムが復旧することを、システムエンジニア等のユーザが確認する。そして、ユーザは、障害時にシステムに起こる異常な動作を基に、システム改善を繰り返すことでシステムの信頼性を高める。しかし、障害テストでは、ユーザが、個別にどのような障害を発生させるかを設計し、設計した障害を手動で発生させる必要があり、テストを設計するための工数が大きい。
【0006】
特許文献1には、「故障注入方法は、少なくとも1つの対象サービス標識及びそれに対応する故障シーンを含む故障注入タスクを取得する。また、各対象サービス標識に基づいて対象サービスを特定し、対象サービスの状態を取得する。対象サービスの状態が正常状態である場合に、対象サービス標識に対応する故障シーンを対象サービスに注入する。」と記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0007】
特開2021-190089号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
特許文献1に記載のテストの故障一部を自動化する技術は、プログラムの内容のうちの高リスクコマンド及び高リスクコードセグメントに対して故障シーンの注入リスクを提示するための標識を付け、各標識に対応する故障シーンを対象サービスに注入する。しかし、特許文献1に記載された、予め定めた標識に対して予め定めた故障シーンを注入する処理では、常時変化しうるマイクロサービスの状態に合致した柔軟かつ適切な障害を発生させることができない。この理由は、常時変化しうるマイクロサービスの状態に対する適切な障害を設計できていないためである。
【0009】
本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、常時変化しうるマイクロサービスの状態に合致した障害を設計することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0010】
本発明に係るテスト支援装置は、記憶部と、プロセッサと、を有し、記憶部は、マイクロサービスに設定されている信頼性機能、及び信頼性機能に設定される設定項目の値に関する情報を含むマイクロサービス情報と、マイクロサービスの状態に関する情報を含むマイクロサービス状態情報と、テスト対象システムに構成されるマイクロサービスに発生させる障害に関する情報を含む障害条件と、を有し、マイクロサービス情報に基づいて、テスト対象システムに構成され、障害のテスト対象とするマイクロサービス及び信頼性機能を選択し、障害条件に基づいて、テストでマイクロサービスに発生させる障害の障害種別を選択するテスト実行部と、マイクロサービス状態情報に基づいて、障害を発生させるマイクロサービスを選定し、マイクロサービス、障害種別に対する障害設定項目の設定値を決定して障害設定情報を作成する障害設定情報作成部と、を備える。
【発明の効果】
(【0011】以降は省略されています)
この特許をJ-PlatPat(特許庁公式サイト)で参照する
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