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公開番号2025167197
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-11-07
出願番号2024071590
出願日2024-04-25
発明の名称樹脂組成物および複合材料セット
出願人デンカ株式会社
代理人個人
主分類C08L 23/00 20060101AFI20251030BHJP(有機高分子化合物;その製造または化学的加工;それに基づく組成物)
要約【課題】樹脂組成物における低誘電正接、および分散性に優れた樹脂組成物を提供する。
【解決手段】本発明の樹脂組成物は、オレフィン-芳香族ビニル化合物-芳香族ポリエン共重合体と、
所定手順に従って測定される炭素含有量をC(質量%)とし、窒素ガス吸着によるBET1点法により測定される比表面積をS(m²/g)としたとき、CおよびSが、0.004≦C/S≦0.085を満たすように構成される表面処理シリカ粉末と、を含むものである。
【選択図】なし
特許請求の範囲【請求項１】
オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体と、
下記手順に従って測定される炭素含有量をＣ（質量％）とし、窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積をＳ（ｍ
２
／ｇ）としたとき、ＣおよびＳが、０．００４≦Ｃ／Ｓ≦０．０８５を満たすように構成される表面処理シリカ粉末と、を含む、
樹脂組成物。
（手順）
前記表面処理シリカ粉末３ｇをアセトン３７ｇに添加し３０分間撹拌する。その後、スラリー液を遠心分離器３５００ｒｐｍで１０分間運転し、前記表面処理シリカ粉末とアセトンを分離し、アセトンの上澄み溶液を廃棄する。このアセトンによる洗浄操作を２回行い、１２０℃で２時間乾燥させる。
洗浄した前記表面処理シリカ粉末０．３ｇ中の炭素含有量（質量％）を、炭素／硫黄同時分析計により測定し、検量線法にて定量する。
続きを表示（約 980 文字）【請求項２】
請求項１に記載の樹脂組成物であって、
前記表面処理シリカ粉末の窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積が、０．１ｍ
２
／ｇ以上１２．０ｍ
２
／ｇ以下である、樹脂組成物。
【請求項３】
請求項１または２に記載の樹脂組成物であって、
レーザー回折散乱法で測定される表面処理シリカ粉末の体積頻度粒度分布において、小粒子径側からの累積値が５０％となる粒子径をＤ５０としたとき
前記表面処理シリカ粉末のＤ５０が、０．１μｍ以上１０μｍ以下である、樹脂組成物。
【請求項４】
請求項１または２に記載の樹脂組成物であって、
前記オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体の数平均分子量Ｍｎが、５００以上１０００００以下である、樹脂組成物。
【請求項５】
請求項１または２に記載の樹脂組成物であって、
前記オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体の吸水率が１．０％以下である、樹脂組成物。
【請求項６】
オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体およびシリカ粉末を含む樹脂組成物を製造するために用いる原料成分の組み合わせ、を含む複合材料セットであって、
オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体および溶剤を含む樹脂ワニスと、
下記手順に従って測定される炭素含有量をＣ（質量％）とし、窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積をＳ（ｍ
２
／ｇ）としたとき、ＣおよびＳが、０．００４≦Ｃ／Ｓ≦０．０８５を満たすように構成される表面処理シリカ粉末と、を含む、
複合材料セット。
（手順）
前記表面処理シリカ粉末３ｇをアセトン３７ｇに添加し３０分間撹拌する。その後、スラリー液を遠心分離器３５００ｒｐｍで１０分間運転し、前記表面処理シリカ粉末とアセトンを分離し、アセトンの上澄み溶液を廃棄する。このアセトンによる洗浄操作を２回行い、１２０℃で２時間乾燥させる。
洗浄した前記表面処理シリカ粉末０．３ｇ中の炭素含有量（質量％）を、炭素／硫黄同時分析計により測定し、検量線法にて定量する。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、樹脂組成物および複合材料セットに関する。
続きを表示（約 2,700 文字）【背景技術】
【０００２】
これまでオレフィン－ポリエン共重合体を含む樹脂組成物について様々な開発がなされてきた。この種の技術として、例えば、特許文献１に記載の技術が知られている。特許文献１には、エチレン－オレフィン－ポリエン共重合体および無機充填材を含む後硬化性樹脂組成物が記載されている（特許文献１の段落００３２等）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１０－２８０７７１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、本発明者が検討した結果、上記特許文献１に記載のような、エチレン－オレフィン－ポリエン共重合体および無機充填材を含む樹脂組成物において、樹脂組成物における低誘電正接、および分散性の点で改善の余地があることが判明した。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明者はさらに検討したところ、オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体および表面処理シリカ粉末を含む樹脂組成物において、表面シリカ粉末における単位面積当たりの炭素含有量を指標とすることにより、樹脂組成物の誘電正接および分散性を安定的に評価できること、そして、かかる指標の上限を所定値以下とすることにより誘電正接を低くでき、指標の下限を所定値以上とすることにより分散性を高められることを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００６】
本発明の一態様によれば、以下の樹脂組成物および複合材料セットが提供される。
１．オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体と、
下記手順に従って測定される炭素含有量をＣ（質量％）とし、窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積をＳ（ｍ
２
／ｇ）としたとき、ＣおよびＳが、０．００４≦Ｃ／Ｓ≦０．０８５を満たすように構成される表面処理シリカ粉末と、を含む、
樹脂組成物。
（手順）
前記表面処理シリカ粉末３ｇをアセトン３７ｇに添加し３０分間撹拌する。その後、スラリー液を遠心分離器３５００ｒｐｍで１０分間運転し、前記表面処理シリカ粉末とアセトンを分離し、アセトンの上澄み溶液を廃棄する。このアセトンによる洗浄操作を２回行い、１２０℃で２時間乾燥させる。
洗浄した前記表面処理シリカ粉末０．３ｇ中の炭素含有量（質量％）を、炭素／硫黄同時分析計により測定し、検量線法にて定量する。
２．１．に記載の樹脂組成物であって、
前記表面処理シリカ粉末の窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積が、０．１ｍ
２
／ｇ以上１２．０ｍ
２
／ｇ以下である、樹脂組成物。
３．１．または２．に記載の樹脂組成物であって、
レーザー回折散乱法で測定される表面処理シリカ粉末の体積頻度粒度分布において、小粒子径側からの累積値が５０％となる粒子径をＤ５０としたとき、
前記表面処理シリカ粉末のＤ５０が、０．１μｍ以上１０μｍ以下である、樹脂組成物。
４．１．～３．のいずれか一つに記載の樹脂組成物であって、
前記オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体の数平均分子量Ｍｎが、５００以上１０００００以下である、樹脂組成物。
５．１．～４．のいずれか一つに記載の樹脂組成物であって、
前記オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体の吸水率が１．０％以下である、樹脂組成物。
６．オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体およびシリカ粉末を含む樹脂組成物を製造するために用いる原料成分の組み合わせ、を含む複合材料セットであって、
オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体および溶剤を含む樹脂ワニスと、
下記手順に従って測定される炭素含有量をＣ（質量％）とし、窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積をＳ（ｍ
２
／ｇ）としたとき、ＣおよびＳが、０．００４≦Ｃ／Ｓ≦０．０８５を満たすように構成される表面処理シリカ粉末と、を含む、
複合材料セット。
（手順）
前記表面処理シリカ粉末３ｇをアセトン３７ｇに添加し３０分間撹拌する。その後、スラリー液を遠心分離器３５００ｒｐｍで１０分間運転し、前記表面処理シリカ粉末とアセトンを分離し、アセトンの上澄み溶液を廃棄する。このアセトンによる洗浄操作を２回行い、１２０℃で２時間乾燥させる。
洗浄した前記表面処理シリカ粉末０．３ｇ中の炭素含有量（質量％）を、炭素／硫黄同時分析計により測定し、検量線法にて定量する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、樹脂組成物における低誘電正接、および分散性に優れた樹脂組成物および複合材料セットが提供される。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。なお、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。また、図は概略図であり、実際の寸法比率とは一致していない。
【０００９】
本実施形態の樹脂組成物の概要を説明する。
【００１０】
本実施形態の樹脂組成物は、オレフィン－芳香族ビニル化合物－芳香族ポリエン共重合体と、表面処理シリカ粉末と、を含む。
表面処理シリカ粉末は、下記手順に従って測定される炭素含有量をＣ（質量％）とし、窒素ガス吸着によるＢＥＴ１点法により測定される比表面積をＳ（ｍ
２
／ｇ）としたとき、ＣおよびＳが、０．００４≦Ｃ／Ｓ≦０．０８５を満たすように構成される。
（手順）
前記表面処理シリカ粉末３ｇをアセトン３７ｇに添加し３０分間撹拌する。その後、スラリー液を遠心分離器３５００ｒｐｍで１０分間運転し、前記表面処理シリカ粉末とアセトンを分離し、アセトンの上澄み溶液を廃棄する。このアセトンによる洗浄操作を２回行い、１２０℃で２時間乾燥させる。
洗浄した前記表面処理シリカ粉末０．３ｇ中の炭素含有量（質量％）を、炭素／硫黄同時分析計により測定し、検量線法にて定量する。
（【００１１】以降は省略されています）

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