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公開番号2025139908
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-29
出願番号2024038993
出願日2024-03-13
発明の名称電子部品の検査方法および電子部品の製造方法
出願人太陽誘電株式会社
代理人個人,個人
主分類G01N 21/88 20060101AFI20250919BHJP(測定;試験)
要約【課題】撮影画像による検査の精度を向上させる。
【解決手段】一態様に係る電子部品の検査方法は、電子部品および上記電子部品の中途生成品の少なくとも一方である検査対象を有色の背景で撮影する撮影ステップと、上記検査対象の撮影画像において上記検査対象の部分と上記背景の部分とを色味で判別する判別ステップと、上記撮影画像で判別された上記検査対象の部分で上記検査対象の検査を行う検査ステップと、を有する。
【選択図】図9
特許請求の範囲【請求項１】
電子部品と、電子部品の製造過程の中途生成品とのいずれかの検査対象を有色の背景部の上で撮影し、前記検査対象および前記背景部の撮影画像を得る撮影ステップと、
前記検査対象と前記背景部との色味の相違により前記撮影画像から前記検査対象の検査対象データを求める判別ステップと、
前記検査対象データを検査基準に照らし合わせて検査を行う照合ステップと、
を有する電子部品の検査方法。
続きを表示（約 590 文字）【請求項２】
前記撮影ステップは、前記検査対象が有色の背景部に載置され、前記背景部の色味とは異なる色味に偏った光源によって前記検査対象と前記背景部が照明されて撮影が行われる請求項１に記載の電子部品の検査方法。
【請求項３】
前記背景部は、前記検査対象よりも彩度が高い請求項２に記載の電子部品の検査方法。
【請求項４】
前記背景部が赤色で、前記光源の光が青色の波長領域にピークを有する請求項２に記載の電子部品の検査方法。
【請求項５】
前記判別ステップは、彩度と色相との双方に基づく判別によって前記検査対象データを求める請求項２に記載の電子部品の検査方法。
【請求項６】
前記撮影ステップは、１つの前記検査対象について、前記検査対象上でのピント位置が異なる複数の撮影画像を得、
前記判別ステップは、複数の前記撮影画像により複数の前記検査対象データを求め、
前記照合ステップは、複数の前記検査対象データそれぞれを検査基準に照らし合わせて立体的な検査を行う請求項１に記載の電子部品の検査方法。
【請求項７】
複数の工程を有する前記製造過程と、
前記検査対象を複数の前記工程に設けて請求項１に記載の検査方法により前記検査対象を検査する検査工程と、
を有する電子部品の製造方法。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品の検査方法および電子部品の製造方法に関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
電子部品は、用途が多様化しており、これまでの小型化の要求以外の要求にも対応することが求められている。代表的な要求の例としては、通信インフラ、産業機器、自動車などの用途の電子部品において、高温、高湿などの厳しい環境に対応できて不具合を発生させないことが求められる。
【０００３】
厳しい環境における電子部品の不具合は、例えば電子部品の製造工程で、成形精度や組み立て精度が不安定化することが一因と考えられる。このため、電子部品の製造工程における精度向上や安定化が求められ、そのために寸法測定などの改善が求められる。
しかし、近年の電子部品の製造工程においては、工程ごとに電子部品としての状態が変化し、また搬送などを行うための台も変更され、部品サイズが１ｍｍ以下の場合もあるなどの理由で外観検査や寸法測定が難しくなっている。
【０００４】
例えば特許文献１には、コイルの最外周面上の複数の位置座標を、エンコーダよる角度検出値と測定機器による距離測定値とから演算する技術が開示されている。
また、例えば特許文献２には、撮影画像を画像処理することにより所定の検査を行う外観検査装置において、検査時に、検査対象物に全天方向から白色照明光を照射するとともに検査項目に応じた特定方向から有色照明光を照射する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
特開２０２１－１１８１９５号公報
特開２００２－７１５７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
撮影画像による検査は、検査対象の範囲が広く、検査装置の設置条件も緩いため、電子部品の製造工程における外観検査や寸法測定検査などにも導入が期待されている。
しかし、電子部品の小型化などに伴い、電子部品を搬送するプレートなどの傷や汚れが、電子部品と背景との境界を決める際のノイズとなり、境界を正確に捉える事が困難となっている。このため、電子部品の実際の製造工程においては、撮影画像による寸法測定検査などの導入が難しく、寸法仕様の保証も難しいという事情がある。
【０００７】
上記事情に鑑み、本発明は、撮影画像による検査の精度を向上させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の一態様に係る電子部品の検査方法は、電子部品と、電子部品の製造過程の中途生成品とのいずれかの検査対象を有色の背景部の上で撮影し、上記検査対象および上記背景部の撮影画像を得る撮影ステップと、上記検査対象と上記背景部との色味の相違により上記撮影画像から上記検査対象の検査対象データを求める判別ステップと、上記検査対象データを検査基準に照らし合わせて検査を行う照合ステップと、を有する。
【０００９】
本発明の一態様に係る電子部品の検査方法によれば、上記撮影ステップは、上記検査対象が有色の背景部に載置され、上記背景部の色味とは異なる色味に偏った光源によって上記検査対象と上記背景部が照明されて撮影が行われる。
本発明の一態様に係る電子部品の検査方法によれば、上記背景部は、上記検査対象よりも彩度が高い。
【００１０】
本発明の一態様に係る電子部品の検査方法によれば、上記背景部が赤色で、上記光源の光が青色の波長領域にピークを有する。
本発明の一態様に係る電子部品の検査方法によれば、上記判別ステップは、彩度と色相との双方に基づく判別によって前記検査対象データを求める。
（【００１１】以降は省略されています）

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