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公開番号2025095461
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-06-26
出願番号2023211480
出願日2023-12-14
発明の名称位相差フィルムの検査装置、位相差フィルムの製造装置、位相差フィルムの検査方法、及び位相差フィルムの製造方法
出願人大日本印刷株式会社
代理人個人,個人
主分類G02B 5/30 20060101AFI20250619BHJP(光学)
要約【課題】位相差フィルムの光学特性を精度良く検査することを目的とする。
【解決手段】検査装置は、第1面から前記第1面に対向する第2面へ向けた順で、液晶層及び基材を含む位相差フィルムを検査する。検査装置は、直線偏光の単色の光を放出して、当該光を前記第1面に投射する光源と、前記位相差フィルムで反射した前記光を受光して前記位相差フィルムを撮像する撮像装置と、を含む。
【選択図】図3
特許請求の範囲【請求項１】
第１面から前記第１面に対向する第２面へ向けた順で、液晶層及び基材を含む位相差フィルムを検査する検査装置であって、
直線偏光の単色の光を放出して、当該光を前記第１面に投射する光源と、
前記位相差フィルムで反射した前記光を受光して前記位相差フィルムを撮像する撮像装置と、を備える、検査装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
第１面から前記第１面に対向する第２面へ向けた順で、液晶層及び基材を含む位相差フィルムを検査する検査装置であって、
単色の光を放出して、当該光を前記第１面に投射する光源と、
前記位相差フィルムで反射した前記光を受光して前記位相差フィルムを撮像する撮像装置と、
前記光源から前記撮像装置までの前記光の光路上に位置する偏光子と、を備える、検査装置。
【請求項３】
第１面から前記第１面に対向する第２面へ向けた順で、液晶層及び基材を含む位相差フィルムを検査する検査装置であって、
直線偏光の光を放出して、当該光を前記第１面に投射する光源と、
前記位相差フィルムで反射した前記光を受光して前記位相差フィルムを撮像する撮像装置と、
前記光源から前記撮像装置までの前記光の光路上に位置するバンドパスフィルタと、を備える、検査装置。
【請求項４】
第１面から前記第１面に対向する第２面へ向けた順で、液晶層及び基材を含む位相差フィルムを検査する検査装置であって、
光を前記第１面に投射する光源と、
前記位相差フィルムで反射した前記光を受光して前記位相差フィルムを撮像する撮像装置と、
前記光源から前記撮像装置までの前記光の光路上に位置するバンドパスフィルタと、
前記光源から前記撮像装置までの前記光の光路上に位置する偏光子と、を備える、検査装置。
【請求項５】
前記第１面への投影において、前記第１面に投射される前記直線偏光の振動方向と、前記液晶層の光学軸と、の角度は、０°以上１０°以下である、請求項１又は３に記載の検査装置。
【請求項６】
前記第１面への投影において、前記第１面に投射される前記直線偏光の振動方向と、前記液晶層の遅相軸と、の角度は、０°以上１０°以下である、請求項１又は３に記載の検査装置。
【請求項７】
前記第１面への投影において、前記偏光子の透過軸と前記液晶層の光学軸との角度は、０°以上１０°以下である、請求項２又は４に記載の検査装置。
【請求項８】
前記第１面への投影において、前記偏光子の透過軸と前記液晶層の遅相軸との角度は、０°以上１０°以下である、請求項２又は４に記載の検査装置。
【請求項９】
前記偏光子は、前記位相差フィルムで反射した前記光の前記撮像装置までの光路上に位置する、請求項２又は４に記載の検査装置。
【請求項１０】
前記バンドパスフィルタは、前記位相差フィルムで反射した前記光の前記撮像装置までの光路上に位置する、請求項３又は４に記載の検査装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、位相差フィルムの検査装置、位相差フィルムの製造装置、位相差フィルムの検査方法、及び位相差フィルムの製造方法に関する。
続きを表示（約 1,500 文字）【背景技術】
【０００２】
例えば特許文献１や特許文献２に記載されているように、位相差フィルムが知られている。特許文献１に開示された位相差フィルムは、複屈折を有した液晶層を含む。位相差フィルムは、光学補償層や円偏光板に適用され得る。
【０００３】
液晶層の厚みは、液晶層の光学特性に影響を及ぼす。特許文献１では、液晶層の局所的な厚み変動を抑制することを提案している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
ＷＯ２０１９／９８２１５Ａ１
ＪＰ２０１４－１７００７２Ａ
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来技術では、位相差フィルムの光学特性を検査する検査装置や検査方法について十分に検討されていない。本開示は、位相差フィルムの光学特性を精度良く検査することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示の一実施の形態による第１の検査装置は、
第１面から前記第１面に対向する第２面へ向けた順で、液晶層及び基材を含む位相差フィルムを検査する検査装置であって、
直線偏光の単色の光を放出して、当該光を前記第１面に投射する光源と、
前記位相差フィルムで反射した前記光を受光して前記位相差フィルムを撮像する撮像装置と、を備える。
【０００７】
本開示の一実施の形態による第２の検査装置は、
第１面から前記第１面に対向する第２面へ向けた順で、液晶層及び基材を含む位相差フィルムを検査する検査装置であって、
単色の光を放出して、当該光を前記第１面に投射する光源と、
前記位相差フィルムで反射した前記光を受光して前記位相差フィルムを撮像する撮像装置と、
前記光源から前記撮像装置までの前記光の光路上に位置する偏光子と、を備える。
【０００８】
本開示の一実施の形態による第３の検査装置は、
第１面から前記第１面に対向する第２面へ向けた順で、液晶層及び基材を含む位相差フィルムを検査する検査装置であって、
直線偏光の光を放出して、当該光を前記第１面に投射する光源と、
前記位相差フィルムで反射した前記光を受光して前記位相差フィルムを撮像する撮像装置と、
前記光源から前記撮像装置までの前記光の光路上に位置するバンドパスフィルタと、を備える。
【０００９】
本開示の一実施の形態による第４の検査装置は、
第１面から前記第１面に対向する第２面へ向けた順で、液晶層及び基材を含む位相差フィルムを検査する検査装置であって、
光を前記第１面に投射する光源と、
前記位相差フィルムで反射した前記光を受光して前記位相差フィルムを撮像する撮像装置と、
前記光源から前記撮像装置までの前記光の光路上に位置するバンドパスフィルタと、
前記光源から前記撮像装置までの前記光の光路上に位置する偏光子と、を備える。
【００１０】
本開示の一実施の形態による検査方法は、
第１面から前記第１面に対向する第２面へ向けた順で、液晶層及び基材を含む位相差フィルムを検査する検査方法であって、
前記第１面に光を投射する工程と、
前記位相差フィルムでの反射光を受光して異常の有無を判断する工程と、を備え、
前記異常の有無は、直線偏光の単色の光の受光結果に基づいて判断される。
【発明の効果】
（【００１１】以降は省略されています）

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