TOP特許意匠商標
特許ウォッチ Twitter
10個以上の画像は省略されています。
公開番号2024155704
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-10-31
出願番号2023209354
出願日2023-12-12
発明の名称異常診断装置、異常診断方法及びプログラム
出願人富士電機株式会社
代理人個人,個人
主分類G05B 23/02 20060101AFI20241024BHJP(制御;調整)
要約【課題】複数の異常診断モデルを用いる異常診断の効率化を実現すること。
【解決手段】本開示の一態様による異常診断装置は、対象の状態を表すデータを取得する取得部と、前記対象の複数の正常状態をそれぞれモデル化した複数の異常診断モデルの中から1つ以上の異常診断モデルを選択する選択部と、前記選択部によって選択された1以上の異常診断モデルと、前記取得部によって取得されたデータとに基づいて、前記対象の異常度を算出する算出部と、前記算出部によって算出された異常度に基づいて、前記対象が異常か否かを診断する診断部と、を有する。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
対象の状態を表すデータを取得する取得部と、
前記対象の複数の正常状態をそれぞれモデル化した複数の異常診断モデルの中から1つ以上の異常診断モデルを選択する選択部と、
前記選択部によって選択された1以上の異常診断モデルと、前記取得部によって取得されたデータとに基づいて、前記対象の異常度を算出する算出部と、
前記算出部によって算出された異常度に基づいて、前記対象が異常か否かを診断する診断部と、
を有する異常診断装置。
続きを表示(約 1,500 文字)【請求項2】
前記選択部は、
前記複数の異常診断モデルの各々の代表点と前記データとの距離をそれぞれ算出し、前記距離が最も小さい1つの異常診断モデルを選択する、請求項1に記載の異常診断装置。
【請求項3】
前記選択部は、
前記複数の異常診断モデルの各々の代表点と前記データとの距離をそれぞれ算出し、前記距離が予め決められた距離以内である1つ以上の異常診断モデルを選択する、請求項1に記載の異常診断装置。
【請求項4】
前記選択部は、
前記複数の異常診断モデルの各々の代表点と前記データとの距離をそれぞれ算出し、前記距離が小さい順に予め決められた1以上の個数の異常診断モデルを選択する、請求項1に記載の異常診断装置。
【請求項5】
前記選択部は、
前記複数の異常診断モデルをM
(k)
(ただし、Kを異常診断モデルの総数として、k=1,・・・,K)、異常診断モデルM
(k)
の代表点をr
(k)
、前記データをxとして、k=1,・・・,Kに対して、前記代表点r
(k)
と前記データxとの距離d(x,r
(k)
)をそれぞれ算出し、
前記異常診断モデルM
(k)
の作成に用いられた学習用データのデータ数を|D
(k)
|として、前記距離d(x,r
(k)
)と、前記データ数|D
(k)
|の逆数との積に基づいて、前記1つ以上の異常診断モデルを選択する、請求項1に記載の異常診断装置。
【請求項6】
前記選択部は、
前記距離d(x,r
(k)
)と、前記データ数|D
(k)
|の逆数と、前記異常診断モデルM
(k)
の作成に用いられた学習用データの散らばり具合を表すスコアとの積に基づいて、前記1つ以上の異常診断モデルを選択する、請求項5に記載の異常診断装置。
【請求項7】
前記選択部は、
前記積が最も小さい1つの異常診断モデル、又は、前記積が予め決められた閾値以内である1つ以上の異常診断モデル、又は、前記積が小さい順に予め決められた1以上の個数の異常診断モデル、を選択する、請求項5又は6に記載の異常診断装置。
【請求項8】
前記選択部は、
前記複数の異常診断モデルの各々の代表点をノードとするkd木を用いて、前記kd木によって分割された複数の領域のうち、前記データが属する領域の境界上にある1以上の代表点にそれぞれ対応する1以上の異常診断モデルを選択する、請求項1に記載の異常診断装置。
【請求項9】
前記選択部は、
前記データが属する領域の境界上にある1以上の代表点のうち、前記データとの距離が最も小さい代表点に対応する異常診断モデルを選択する、請求項8に記載の異常診断装置。
【請求項10】
対象の状態を表すデータを取得する取得手順と、
前記対象の複数の正常状態をそれぞれモデル化した複数の異常診断モデルの中から1つ以上の異常診断モデルを選択する選択手順と、
前記選択手順によって選択された1以上の異常診断モデルと、前記取得手順によって取得されたデータとに基づいて、前記対象の異常度を算出する算出手順と、
前記算出手順によって算出された異常度に基づいて、前記対象が異常か否かを診断する診断手順と、
をコンピュータが実行する異常診断方法。
(【請求項11】以降は省略されています)

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本開示は、異常診断装置、異常診断方法及びプログラムに関する。
続きを表示(約 2,000 文字)【背景技術】
【0002】
各種プラント(例えば、石油化学プラント、発電プラント、鉄鋼プラント、食品プラント等)や各種設備、機器、装置等を対象として、複数の異常診断モデルを用いる異常診断技術が従来から知られている。例えば、特許文献1には、複数の動作モードが存在するプラントを対象として、動作モード毎に異常診断モデルを作成した上で、各異常診断モデルによる異常診断の結果を総合する技術が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
特許第7052914号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、例えば、特許文献1等に記載されている従来技術では、複数の異常診断モデルをすべて用いて異常診断の結果を得ている。このため、異常診断モデル数が多い場合には、異常診断のための計算量が膨大となることがある。
【0005】
本開示は、上記の点に鑑みてなされたもので、複数の異常診断モデルを用いる異常診断の効率化を実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本開示の一態様による異常診断装置は、対象の状態を表すデータを取得する取得部と、前記対象の複数の正常状態をそれぞれモデル化した複数の異常診断モデルの中から1つ以上の異常診断モデルを選択する選択部と、前記選択部によって選択された1以上の異常診断モデルと、前記取得部によって取得されたデータとに基づいて、前記対象の異常度を算出する算出部と、前記算出部によって算出された異常度に基づいて、前記対象が異常か否かを診断する診断部と、を有する。
【発明の効果】
【0007】
複数の異常診断モデルを用いる異常診断の効率化を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
第一の実施形態に係る異常診断装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
第一の実施形態に係る異常診断装置の機能構成の一例を示す図である。
第一の実施形態に係るモデル学習処理の一例を示すフローチャートである。
第一の実施形態に係る異常診断処理の一例を示すフローチャートである。
異常診断モデルの選択方法の一例を示す図(その1)である。
異常診断モデルの選択方法の一例を示す図(その2)である。
第二の実施形態に係る異常診断装置の機能構成の一例を示す図である。
第二の実施形態に係るモデル学習処理の一例を示すフローチャートである。
kd木による領域分割の一例を示す図である。
kd木の構造の一例を示す図である。
第二の実施形態に係る異常診断処理の一例を示すフローチャートである。
代表点の選択方法の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下、本発明の一実施形態として、第一及び第二の実施形態について説明する。以下の各実施形態では、各種プラント(例えば、石油化学プラント、発電プラント、鉄鋼プラント、食品プラント等)や各種設備、機器、装置等を対象として、複数の異常診断モデルを用いる異常診断を効率的に行うことができる異常診断装置10について説明する。また、以下では、一例として、これら複数の異常診断モデルとして、多変量統計的プロセス管理(MSPC:Multivariate Statistical Process Control)の手法(参考文献1)によって作成される正常モデルを想定する。ただし、これは一例であって、異常診断モデルはMSPCの手法によって作成される正常モデルに限られるものではなく、任意の異常診断手法によって作成されるモデルであってもよい。例えば、異常診断モデルとして、Isolation Forestや1-class SVM等といった機械学習手法によって作成される機械学習モデルを用いることも可能である。
【0010】
以下の各実施形態に係る異常診断装置10には、正常状態における対象の運転データから複数の異常診断モデルを作成する「モデル学習処理」と、対象の現在の運転データと異常診断モデルから対象の異常有無を診断する「異常診断処理」とを実行する。一般に、モデル学習処理はオフライン、異常診断処理はオンラインで実行されるが、これに限られるものではなく、例えば、モデル学習処理がオンライン中に異常診断処理のバックグラウンドで実行されてもよい。特に、異常診断モデルの追加等を行う場合等に、モデル学習処理がオンライン中に異常診断処理のバックグラウンドで実行されてもよい。
(【0011】以降は省略されています)

この特許をJ-PlatPatで参照する
Flag Counter

関連特許

富士電機株式会社
保冷庫
28日前
富士電機株式会社
開閉装置
18日前
富士電機株式会社
電源装置
11日前
富士電機株式会社
冷却装置
11日前
富士電機株式会社
半導体装置
28日前
富士電機株式会社
半導体装置
17日前
富士電機株式会社
漏電遮断器
25日前
富士電機株式会社
半導体装置
28日前
富士電機株式会社
半導体装置
28日前
富士電機株式会社
半導体装置
3日前
富士電機株式会社
半導体装置
11日前
富士電機株式会社
静止誘導機器
25日前
富士電機株式会社
電力変換装置
11日前
富士電機株式会社
電力変換装置
18日前
富士電機株式会社
半導体スイッチ
28日前
富士電機株式会社
圧力センサ装置
24日前
富士電機株式会社
半導体モジュール
24日前
富士電機株式会社
燃料電池発電装置
24日前
富士電機株式会社
半導体モジュール
今日
富士電機株式会社
制御装置、制御方法
3日前
富士電機株式会社
半導体装置、及び車両
18日前
富士電機株式会社
集積回路および電源回路
18日前
富士電機株式会社
回路装置および電力変換回路
18日前
富士電機株式会社
基準電圧回路、及び電子回路
4日前
富士電機株式会社
回路装置および電力変換回路
24日前
富士電機株式会社
電力変換装置及びその制御方法
11日前
富士電機株式会社
電熱変換装置及び蓄熱システム
18日前
富士電機株式会社
半導体装置及び半導体モジュール
18日前
富士電機株式会社
分析装置、分析方法及びプログラム
28日前
富士電機株式会社
電流センサ、及び半導体モジュール
3日前
富士電機株式会社
危険検知システムおよび危険検知方法
28日前
富士電機株式会社
半導体モジュールおよびその製造方法
24日前
富士電機株式会社
成分分離回収装置、成分分離回収方法
17日前
富士電機株式会社
炭化珪素半導体装置及びその製造方法
4日前
富士電機株式会社
半導体装置および半導体装置の製造方法
3日前
富士電機株式会社
端子、端子の製造方法、及び、半導体装置
11日前
続きを見る