特許ウォッチ

公開番号2024117398
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-08-29
出願番号2023023475
出願日2023-02-17
発明の名称電子制御装置
出願人株式会社デンソー
代理人名古屋国際弁理士法人
主分類B60R 16/02 20060101AFI20240822BHJP(車両一般)
要約【課題】使用環境に応じた電子制御装置の寿命を高精度に予測可能な電子制御装置を提供する。
【解決手段】車両に搭載された電子制御装置10は、基板15と、電子部品51と、第1温度測定部品31と、記憶部53bと、判定部53aと、を備える。第1温度測定部品は、基板上において、電子部品の部品周辺温度を測定する。判定部は、基板の外部又は内部からの信号に基づいて、車両の状態を判定する。判定部は、判定された車両の状態に基づいて、部品周辺温度に対応する温度係数を決定する。また、判定部は、測定された部品周辺温度と、決定された温度係数とに基づいて、電子制御装置及び/又は電子部品の現時点までの劣化度し、記憶部に保存する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
車両に搭載された電子制御装置（１０，１１）であって、
基板（１５）と、
前記基板上に配置される電子部品（５１，５２，５３）と、
前記基板上において、前記電子部品の近傍に配置され、前記電子部品の部品周辺温度を測定するように構成された第１温度測定部品（３１，３２，３３）と、
前記基板上に配置された記憶部（５３ｂ）と、
前記基板の外部又は内部からの信号に基づいて、前記車両の状態を判定するように構成された判定部（５３ａ）と、を備え、
前記判定部は、
判定された前記車両の状態に基づいて、前記部品周辺温度に対応する温度係数を決定し、
測定された前記部品周辺温度と、前記温度係数とに基づいて、前記電子制御装置及び／又は前記電子部品の現時点までの劣化度を算出し、
算出された現時点までの劣化度を前記記憶部に保存する、ように構成されている、
電子制御装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記電子部品（５１，５２，５３）は、複数の電子部品を含み、
前記第１温度測定部品（３１，３２，３３）は、複数の第１温度測定部品を含み、
前記複数の第１温度測定部品（３１，３２，３３）は、前記複数の電子部品の各々の部品周辺温度を測定するように構成されており、
前記判定部は、
判定された前記車両の状態に基づいて、測定された複数の部品周辺温度の各々に対応する温度係数を決定し、
前記複数の部品周辺温度と、決定された複数の温度係数とに基づいて、前記劣化度を算出する、ように構成されている、
請求項１に記載の電子制御装置。
【請求項３】
前記判定部（５３ａ）は、前記複数の温度係数を加重平均の重み係数として用いて、測定された複数の部品周辺温度の平均値を算出し、算出された前記平均値に基づいて、前記電子制御装置の現時点までの劣化度を算出するように構成されている、
請求項２に記載の電子制御装置。
【請求項４】
前記判定部は、前記複数の第１温度測定部品により測定された前記複数の部品周辺温度を所定周期で取得するように構成されている、
請求項３に記載の電子制御装置。
【請求項５】
前記判定部（５３ａ）は、判定された前記車両の状態に基づいて、前記所定周期を決定するように構成されている、
請求項４に記載の電子制御装置。
【請求項６】
前記車両の状態は、前記車両の停止を含む、
請求項１～３のいずれか１項に記載の電子制御装置。
【請求項７】
前記判定部は、
前記基板の周辺における基板周辺温度を更に取得し、
判定された前記車両の状態に基づいて、前記複数の部品周辺温度及び前記基板周辺温度の各々に対応する温度係数を決定し、
前記複数の部品周辺温度及び前記基板周辺温度と、決定された複数の温度係数とに基づいて、前記劣化度を算出するように構成されている、
請求項２に記載の電子制御装置。
【請求項８】
前記判定部（５３ａ）は、前記基板（１５）の外部に配置された第２温度測定部品（４００）から、前記第２温度測定部品により測定された前記基板周辺温度を取得するように構成されている、
請求項７に記載の電子制御装置。
【請求項９】
前記基板（１５）上において前記複数の電子部品（５２，５３）の遠方に配置され、前記基板周辺温度を測定するように構成された第２温度測定部品（３４）を更に備え、
前記判定部（５３ａ）は、前記第２温度測定部品から前記基板周辺温度を取得するように構成されている、
請求項７に記載の電子制御装置。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、車両に搭載される電子制御装置に関する。
続きを表示（約 1,900 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１に記載の電子制御装置は、マイクロコンピュータ内の温度検出部により検出した温度の変化量に基づいて、マイクロコンピュータの寿命、及びマイクロコンピュータと基板との間の接続部の寿命を予測している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開２０１６－１５９７６６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
電子制御装置は、マイクロコンピュータ以外にも複数の電子部品を備えている。複数の電子部品は、均等に使用されるわけではなく、電子制御装置の使用環境に応じて、複数の電子部品の使用度合は異なる。したがって、マイクロコンピュータと接続部の寿命を予測するだけでは、使用環境に応じた電子制御装置の寿命を高精度に予測することができない。
【０００５】
本開示は、使用環境に応じた電子制御装置の寿命を高精度に予測可能な電子制御装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示は、車両に搭載された電子制御装置（１０，１１）であって、基板（１５）と、電子部品（５１，５２，５３）と、第１温度測定部品（３１，３２，３３）と、記憶部（５３ｂ）と、判定部（５３ａ）と、を備える。電子部品は、基板上に配置されている。第１温度測定部品は、基板上おいて、電子部品の近傍に配置され、電子部品の部品周辺温度を測定する。記憶部は、基板上に配置される。判定部は、基板の外部又は内部からの信号に基づいて、車両の状態を判定する。また、判定部は、判定された車両の状態に基づいて、部品周辺温度に対応する温度係数を決定する。また、判定部は、測定された部品周辺温度と、決定された温度係数とに基づいて、電子制御装置及び／又は電子部品の現時点までの劣化度を算出する。また、判定部は、算出された現時点までの劣化度を記憶部に保存する。
【０００７】
本開示の電子制御装置では、車両の状態が判定され、判定された車両の状態に基づいて、部品周辺温度に対する温度係数が決定される。車両の状態によって、電子制御装置の劣化度に対する部品周辺温度の影響度合いが異なる。判定された車両の状態に基づいて、部品周辺温度に対する温度係数が決定されることにより、電子制御装置及び電子部品の少なくとも一方の現時点までの劣化度を高精度に算出することができる。ひいては、使用環境に応じた電子制御装置の寿命を高精度に予測することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
第１実施形態に係る電子制御装置の電子部品の配置を示す図である。
第１実施形態に係る電子制御装置の機能構成を示すブロック図である。
第１実施形態に係るマイコンが実行する劣化度算出処理を示すフローチャートである。
第１実施形態に係るＥＣＵ駆動中における電子部品の温度変化を示すタイムチャートである。
第１実施形態に係るＥＣＵ非駆動中における電子部品の温度変化を示すタイムチャートである。
第１実施形態に係る車両状態に応じた温度係数及びサンプリング周期を示す表である。
第１実施形態に係る車両状態とサンプリング周期と温度係数のタイムチャートである。
第２実施形態に係る電子制御装置の電子部品の配置を示す図である。
第２実施形態に係る電子制御装置の機能構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
（第１実施形態）
＜１－１．構成＞
図１及び図２を参照して、第１実施形態に係る第１電子制御装置（以下、第１ＥＣＵ）１０の構成について説明する。第１ＥＣＵ１０は、車両に搭載されている複数のＥＣＵのうちの１つであり、車両の特定の制御を実行する。例えば、第１ＥＣＵ１０は、エンジン自動車やＨＶ自動車に搭載されたエンジンＥＣＵでもよいし、ＥＶ自動車に搭載されたＥＶＥＣＵでもよい。また、第１ＥＣＵ１０は、自動運転車両に搭載された自動運転ＥＣＵでもよいし、エアコンを制御するエアコンＥＣＵでもよい。本実施形態では、第１ＥＣＵ１０が、プラグインハイブリッド自動車に搭載されるエンジンＥＣＵである例を示す。
【００１０】
第１ＥＣＵ１０は、プリント基板１５と、第１電子部品５１と、第２電子部品５２と、第３電子部品５３と、第４電子部品５４と、第１サーミスタ３１と、第２サーミスタ３２と、第３サーミスタ３３と、第４サーミスタ３４と、コネクタ２０と、を備える。
（【００１１】以降は省略されています）

関連特許