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公開番号2024059040
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-04-30
出願番号2022166544
出願日2022-10-17
発明の名称情報処理装置、情報処理方法、及び情報処理プログラム
出願人トヨタ自動車株式会社
代理人弁理士法人太陽国際特許事務所
主分類G01D 21/00 20060101AFI20240422BHJP(測定;試験)
要約【課題】材料に対する計測処理を実行しながら、材料に対する計測処理の計測時間又は計測回数を簡易に決定することができる情報処理装置、情報処理方法、及び情報処理プログラムを提供する。
【解決手段】サーバ14は、材料に対して所定の計測処理を実行することにより得られる計測データを取得する。サーバ14は、時刻nまでに計測された計測データのばらつきを表す第1統計量と、時刻n+1までに計測された計測データのばらつきを表す第2統計量とに基づいて、時刻nまでに計測された計測データと時刻n+1までに計測された計測データとの間における計測データの改善を表す改善率を計算する。サーバ14は、改善率が所定閾値以下となるような、計測データの計測回数又は計測時刻を決定する。サーバ14は、決定された計測データの計測回数又は計測時刻を出力する。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
材料に対して所定の計測処理を実行することにより得られる計測データを取得する取得部と、
前記取得部によって取得された、回数又は時刻ｎまでに計測された前記計測データのばらつきを表す第１統計量と、回数又は時刻ｎ＋１までに計測された前記計測データのばらつきを表す第２統計量とに基づいて、回数又は時刻ｎまでに計測された前記計測データと回数又は時刻ｎ＋１までに計測された前記計測データとの間における前記計測データの改善を表す改善率を計算する計算部と、
前記計算部によって計算された前記改善率が所定閾値以下となるような、前記計測データの計測回数又は計測時刻を決定する決定部と、
前記決定部により決定された前記計測データの計測回数又は計測時刻を出力する出力部と、
を備えた情報処理装置。
続きを表示（約 960 文字）【請求項２】
前記計算部は、対象回数又は対象時刻が異なる複数個の前記改善率を計算し、
前記決定部は、複数個の前記改善率に基づいて、前記計測データの計測回数又は計測時刻と前記改善率との関係を表す回帰曲線を生成し、前記回帰曲線に基づいて、前記改善率が所定閾値以下となるような、前記計測データの計測回数又は計測時刻を予測する、
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記出力部は、前記改善率が所定閾値以下となるような前記計測データの計測回数又は計測時刻における、前記計測データの例を併せて出力する、
請求項１又は請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
材料に対して所定の計測処理を実行することにより得られる計測データを取得し、
回数又は時刻ｎまでに計測された前記計測データのばらつきを表す第１統計量と、回数又は時刻ｎ＋１までに計測された前記計測データのばらつきを表す第２統計量とに基づいて、回数又は時刻ｎまでに計測された前記計測データと回数又は時刻ｎ＋１までに計測された前記計測データとの間における前記計測データの改善を表す改善率を計算し、
計算された前記改善率が所定閾値以下となるような、前記計測データの計測回数又は計測時刻を決定し、
決定された前記計測データの計測回数又は計測時刻を出力する、
処理をコンピュータが実行する情報処理方法。
【請求項５】
材料に対して所定の計測処理を実行することにより得られる計測データを取得し、
回数又は時刻ｎまでに計測された前記計測データのばらつきを表す第１統計量と、回数又は時刻ｎ＋１までに計測された前記計測データのばらつきを表す第２統計量とに基づいて、回数又は時刻ｎまでに計測された前記計測データと回数又は時刻ｎ＋１までに計測された前記計測データとの間における前記計測データの改善を表す改善率を計算し、
計算された前記改善率が所定閾値以下となるような、前記計測データの計測回数又は計測時刻を決定し、
決定された前記計測データの計測回数又は計測時刻を出力する、
処理をコンピュータに実行させるための情報処理プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示は、情報処理装置、情報処理方法、及び情報処理プログラムに関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、短時間で微量元素の分析が可能な表面分析装置が開示されている。また、特許文献２には、目的ペプチドを同定するのに適したデータ積算回数を過不足なく自動的に設定可能とする方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
特開2020-85565号公報
特開2016-50866号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１，２に開示されているように、ある材料に対して複数回の計測処理が実行された際のデータを積算することにより、その材料の最終的なデータが得られる、という性質のデータが存在する。この場合、材料に対して計測処理を実行する際には、その計測時間又は計測回数をユーザが決定する必要がある。この場合、計測処理の計測時間又は計測回数が増加するほど、精度の良いデータが得られる。
【０００５】
特許文献１の技術は、スペクトルのノイズ成分の統計誤差を求め、その統計誤差に基づいてスペクトルの積算回数を求めるものである。また、特許文献２の技術は、同定が失敗したり同定が成功しても同定の信頼度を示すスコアや期待値が所定閾値に達したりしない場合には、データ積算回数を増やし、その増加分だけ標準ペプチドに対する分析を追加的に実行するものである。
【０００６】
上記特許文献１，２の技術は、ノイズの統計誤差又は信頼度を表すスコアを計測されたデータとは別個に計算しているものの、材料に対する計測処理の計測時間又は計測回数をより簡易に決定することができた方が好ましい。
【０００７】
本開示は、材料に対する計測処理を実行しながら、材料に対する計測処理の計測時間又は計測回数を簡易に決定することができる情報処理装置、情報処理方法、及び情報処理プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
第１態様に係る情報処理装置は、材料に対して所定の計測処理を実行することにより得られる計測データを取得する取得部と、前記取得部によって取得された、回数又は時刻ｎまでに計測された前記計測データのばらつきを表す第１統計量と、回数又は時刻ｎ＋１までに計測された前記計測データのばらつきを表す第２統計量とに基づいて、回数又は時刻ｎまでに計測された前記計測データと回数又は時刻ｎ＋１までに計測された前記計測データとの間における前記計測データの改善を表す改善率を計算する計算部と、前記計算部によって計算された前記改善率が所定閾値以下となるような、前記計測データの計測回数又は計測時刻を決定する決定部と、前記決定部により決定された前記計測データの計測回数又は計測時刻を出力する出力部と、を備えた情報処理装置である。第１態様に係る情報処理装置によれば、材料に対する計測処理を実行しながら、材料に対する計測処理の計測時間又は計測回数を簡易に決定することができる。
【０００９】
第２態様に係る情報処理装置の前記計算部は、対象回数又は対象時刻が異なる複数個の前記改善率を計算し、前記決定部は、複数個の前記改善率に基づいて、前記計測データの計測回数又は計測時刻と前記改善率との関係を表す回帰曲線を生成し、前記回帰曲線に基づいて、前記改善率が所定閾値以下となるような、前記計測データの計測回数又は計測時刻を予測する。第２態様に係る情報処理装置によれば、初期の計測処理によって得られた数個の計測データを用いて回帰曲線を生成することにより、材料に対する計測処理の計測時間又は計測回数を簡易に予測することができる。
【００１０】
第３態様に係る情報処理装置の前記出力部は、前記改善率が所定閾値以下となるような前記計測データの計測回数又は計測時刻における、前記計測データの例を併せて出力する。第３態様に係る情報処理装置によれば、最適であると予想される計測時間又は計測回数での計測データ例を例示することにより、ユーザによる計測時間又は計測回数の意思決定を支援することができる。
（【００１１】以降は省略されています）

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