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公開番号2025155915
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-10-14
出願番号2025024440
出願日2025-02-18
発明の名称放射線撮影装置、及び放射線撮影装置の制御方法
出願人富士フイルム株式会社
代理人弁理士法人太陽国際特許事務所
主分類A61B 6/42 20240101AFI20251002BHJP(医学または獣医学;衛生学)
要約【課題】光子計数回路を含む複数の回路素子の温度差を抑制することを可能とする放射線撮影装置、及び放射線撮影装置の制御方法を提供する。
【解決手段】放射線撮影装置は、放射線源から放射された放射線を検出し、放射線の光子数に対応する電気信号に基づいて放射線画像を生成する放射線撮影装置であって、光子を計数する光子計数回路を有する複数の回路素子と、複数の回路素子が配置された領域の温度を計測する温度計測装置と、光子計数回路が光子を計数しない期間である待機期間に、温度計測装置が計測した温度の計測値に基づいて、複数の回路素子の駆動制御を行うことにより複数の回路素子の温度を調整するプロセッサと、を備える。
【選択図】図4
特許請求の範囲【請求項１】
放射線源から放射された放射線を検出し、放射線の光子数に対応する電気信号に基づいて放射線画像を生成する放射線撮影装置であって、
光子を計数する光子計数回路を有する複数の回路素子と、
複数の前記回路素子が配置された領域の温度を計測する温度計測装置と、
前記光子計数回路が光子を計数しない期間である待機期間に、前記温度計測装置が計測した温度の計測値に基づいて、複数の前記回路素子の駆動制御を行うことにより複数の前記回路素子の温度を調整するプロセッサと、
を備える放射線撮影装置。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
前記温度計測装置は、複数の温度センサにより構成されている
請求項１に記載の放射線撮影装置。
【請求項３】
複数の前記温度センサの各々は、複数の前記回路素子の各々の内部に設けられている
請求項２に記載の放射線撮影装置。
【請求項４】
前記プロセッサは、
キャリブレーション時に前記温度計測装置が計測した複数の前記回路素子の各々の温度の計測値を目標値として記憶し、
前記待機期間に前記計測値が前記目標値に近づくように前記駆動制御を行う
請求項１に記載の放射線撮影装置。
【請求項５】
前記プロセッサは、
前記待機期間における複数の前記回路素子の温度変化を予測し、
予測した前記温度変化に基づいて前記駆動制御を行う
請求項１に記載の放射線撮影装置。
【請求項６】
前記プロセッサは、
撮影計画情報を取得し、
取得した前記撮影計画情報に基づいて、１つの撮影が終了してから次の撮影が行われるまでの期間を前記待機期間として特定する
請求項５に記載の放射線撮影装置。
【請求項７】
前記プロセッサは、
前記待機期間の終了時に複数の前記回路素子の各々の温度が目標値となるように前記駆動制御を行う
請求項５又は請求項６に記載の放射線撮影装置。
【請求項８】
前記プロセッサは、
複数の前記回路素子の各々について、前記駆動制御を行わない場合に前記待機期間の終了時に到達すると推定される推定温度を求め、
複数の前記推定温度のうちのいずれかが前記目標値よりも高い場合には、複数の前記推定温度のうち最も高い温度を前記目標値として前記駆動制御を行う
請求項７に記載の放射線撮影装置。
【請求項９】
複数の前記回路素子を冷却するための少なくとも１つの冷却ファンを備える
請求項１に記載の放射線撮影装置。
【請求項１０】
前記プロセッサは、
前記温度計測装置により計測される複数の前記計測値のうちのいずれかが目標値より高い場合には、少なくとも１つの前記冷却ファンを駆動する
請求項９に記載の放射線撮影装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本開示の技術は、放射線撮影装置、及び放射線撮影装置の制御方法に関する。
続きを表示（約 1,400 文字）【背景技術】
【０００２】
近年、光子計数型検出器を搭載した放射線撮影装置であるＰＣＣＴ（Photon Counting Computed Tomography）装置が知られている。光子計数型検出器は、従来のＣＴ（Computed Tomography）装置で採用されている電荷積分型の検出器と異なり、入射した放射線の光子を計数可能である。ＰＣＣＴ装置は、光子ごとにエネルギーを計測できるので、従来のＣＴ装置に比べてより多くの情報が得られる。
【０００３】
ＰＣＣＴ装置では、入射した光子を半導体層で電荷に変換し、変換された電荷を光子計数回路が計数することにより光子の計数が行われる。このような光子計数型検出器は、光子の計数によって発熱し、発熱量は計数率に応じて変化することが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
温度変化によって光子計数回路の特性が変化するため、特許文献１では、計数率に応じて光子計数回路の発熱量を制御する発熱量補償回路を設けることにより、温度変化を抑制することが提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
特開２０１８-１４３５７５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に記載の技術は、撮影を行わず、光子計数回路が光子を計数しない待機期間については考慮されていない。光子計数型検出器には、光子計数回路を含む回路素子が複数配列されており、撮影時の計数率は光子計数回路ごとに異なるので、撮影終了時の温度は回路素子ごとに異なる。例えば、被写体の放射線吸収率が低く、放射線の透過量が多い領域に配置された回路素子では、光子計数回路による計数率が多くなる。
【０００７】
このため、待機期間には、回路素子ごとに温度が大きく異なる場合がある。このように回路素子ごとに温度が大きく異なった状態で撮影が行われると、特許文献１に記載の技術では、計数率に応じて発熱量の制御を行うため、回路素子ごとの温度差を抑制することはできない。回路素子ごとの温度差は、暗電流ノイズ等の差となって断層画像にムラ等の劣化を生じさせてしまう。
【０００８】
そこで、本開示に係る技術は、光子計数回路を含む複数の回路素子の温度差を抑制することを可能とする放射線撮影装置、及び放射線撮影装置の制御方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本開示の技術に係る放射線撮影装置は、放射線源から放射された放射線を検出し、放射線の光子数に対応する電気信号に基づいて放射線画像を生成する放射線撮影装置であって、光子を計数する光子計数回路を有する複数の回路素子と、複数の回路素子が配置された領域の温度を計測する温度計測装置と、光子計数回路が光子を計数しない期間である待機期間に、温度計測装置が計測した温度の計測値に基づいて、複数の回路素子の駆動制御を行うことにより複数の回路素子の温度を調整するプロセッサと、を備える。
【００１０】
温度計測装置は、複数の温度センサにより構成されていることが好ましい。
（【００１１】以降は省略されています）

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