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公開番号2025141563
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-29
出願番号2024041569
出願日2024-03-15
発明の名称測量データ処理装置、測量データ処理方法および測量データ処理用プログラム
出願人株式会社トプコン
代理人弁理士法人前川知的財産事務所,個人
主分類G01C 15/00 20060101AFI20250919BHJP(測定;試験)
要約【課題】測量におけるターゲット以外の光反射体をターゲットとして誤険出する問題が抑制する。
【解決手段】反射プリズム21,22を含む範囲に対するレーザースキャンのデータの中から閾値を超える反射光の強度の輝点を高輝点として検出し、前記高輝点が反射プリズム21,22からの直接反射光の輝点であるか否かを判定し、前記判定において、反射プリズム21,22からの直接反射光でないと判定された高輝点の反射体の位置情報(標識31,カーブミラー32、高い反射率を示すガラス面33の位置情報)を記憶する。この反射体の位置情報を利用することで、他の測量における測量用ターゲットの誤検出を抑制する。
【選択図】図1

特許請求の範囲【請求項１】
測量用ターゲットを含む範囲に対するレーザースキャンのデータの中から閾値を超える反射光の強度の輝点を高輝点として検出する高輝点検出部と、
前記高輝点が前記測量用ターゲットからの直接反射光の輝点であるか否かを判定する判定部と、
前記判定において、前記測量用ターゲットからの直接反射光でないと判定された前記高輝点の反射体の位置情報を記憶する記憶部と
を備える測量データ処理装置。
続きを表示（約 1,100 文字）【請求項２】
前記高輝点は、複数が集まった集団を複数形成し、
予め取得してある前記測量用ターゲットの形状および寸法と前記集団を構成する点群から求めた前記高輝点の反射体の形状および寸法の比較に基づき、前記判定が行われる請求項１に記載の測量データ処理装置。
【請求項３】
前記測量用ターゲットからの直接反射光でないと判定された前記高輝点は前記反射体に映った前記測量用ターゲットの鏡像であり、
前記測量用ターゲットからの直接反射光でないと判定された前記高輝点の測距値Ｌ１と、
前記測量用ターゲットからの直接反射光であると判定された前記高輝点の測距値Ｌ２と、
前記Ｌ１に係るベクトルと前記Ｌ２に係るベクトルとのなす角度と、
前記測量用ターゲットからの直接反射光でないと判定された前記高輝点の方向と
に基づき、前記鏡像が映った前記反射体の位置が求められ、
前記鏡像は、測量用ターゲットから反射されたレーザースキャン光の輝点の分布と同じまたは同じものと見なせる輝点の集合を探索することで得る請求項１に記載の測量データ処理装置。
【請求項４】
測量用ターゲットを含む範囲に対するレーザースキャンのデータの中から閾値を超える反射光の強度の輝点を高輝点として検出し、
前記高輝点が前記測量用ターゲットからの直接反射光の輝点であるか否かを判定し、
前記判定において、前記測量用ターゲットからの直接反射光でないと判定された前記高輝点の反射体の位置情報を記憶し、
前記レーザースキャンが行われた範囲と重複する範囲における前記測量用ターゲットまたは別の測量用ターゲットに対する光学スキャンを行い、
該光学スキャンのデータの中から閾値を超える反射光の強度の輝点を高輝点として検出し、
該高輝点の方向と前記反射体の方向とを照合することで該高輝点が前記測量用ターゲットまたは前記別の測量用ターゲットからの反射光であるのか否か、の判定が行われる測量データ処理方法。
【請求項５】
コンピュータに読み取らせて実行させるプログラムであって、
コンピュータを
測量用ターゲットを含む範囲に対するレーザースキャンのデータの中から閾値を超える反射光の強度の輝点を高輝点として検出する高輝点検出部と、
前記高輝点が前記測量用ターゲットからの直接反射光の輝点であるか否かを判定する判定部と、
前記判定において、前記測量用ターゲットからの直接反射光でないと判定された前記高輝点の反射体の位置情報を記憶する記憶部と
して機能させる測量データ処理用プログラム。

発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、測量の技術に関する。
続きを表示（約 1,600 文字）【背景技術】
【０００２】
レーザースキャナやレーザー測距光を用いたトータルステーションを用いた測量が知られている。レーザー光を用いた測量では、高効率に測量光を反射する光反射体（反射ミラーや反射プリズム）がターゲットとして利用される。
【０００３】
ところで、測量の現場では、ターゲットとして利用される反射体以外に、標識、安全確認用の光反射体（ガードレール等に配置されている光反射体や車両の光反射体）、高い光反射率を示すガラス面や壁、カーブミラー、水面等が測量用レーザー光の反射体として機能する場合がある。
【０００４】
レーザー光を用いた測量において、上記のターゲット以外の光反射体を対象に測量が行われる虞がある。この問題については、例えば特許文献１～３に記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
特開２０２２－１５２５４３号公報
特開２０２３－１１９５４６号公報
特開２０２４－１１１６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は、測量において、ターゲット以外の光反射体をターゲットとして誤険出する問題を抑制する技術の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、測量用ターゲットを含む範囲に対するレーザースキャンのデータの中から閾値を超える反射光の強度の輝点を高輝点として検出する高輝点検出部と、前記高輝点が前記測量用ターゲットからの直接反射光の輝点であるか否かを判定する判定部と、前記判定において、前記測量用ターゲットからの直接反射光でないと判定された前記高輝点の反射体の位置情報を記憶する記憶部とを備える測量データ処理装置である。
【０００８】
本発明において、前記高輝点は、複数が集まった集団を複数形成し、予め取得してある前記測量用ターゲットの形状および寸法と前記集団を構成する点群から求めた前記高輝点の反射体の形状および寸法の比較に基づき、前記判定が行われる態様が挙げられる。
【０００９】
本発明において、前記測量用ターゲットからの直接反射光でないと判定された前記高輝点は前記反射体に映った前記測量用ターゲットの鏡像であり、前記測量用ターゲットからの直接反射光でないと判定された前記高輝点の測距値Ｌ１と、前記測量用ターゲットからの直接反射光であると判定された前記高輝点の測距値Ｌ２と、前記Ｌ１に係るベクトルと前記Ｌ２に係るベクトルとのなす角度と、前記測量用ターゲットからの直接反射光でないと判定された前記高輝点の方向とに基づき、前記鏡像が映った前記反射体の位置が求められ、前記鏡像は、測量用ターゲットから反射されたレーザースキャン光の輝点の分布と同じまたは同じものと見なせる輝点の集合を探索することで得る態様が挙げられる。
【００１０】
本発明は、測量用ターゲットを含む範囲に対するレーザースキャンのデータの中から閾値を超える反射光の強度の輝点を高輝点として検出し、前記高輝点が前記測量用ターゲットからの直接反射光の輝点であるか否かを判定し、前記判定において、前記測量用ターゲットからの直接反射光でないと判定された前記高輝点の反射体の位置情報を記憶し、前記レーザースキャンが行われた範囲と重複する範囲における前記測量用ターゲットまたは別の測量用ターゲットに対する光学スキャンを行い、該光学スキャンのデータの中から閾値を超える反射光の強度の輝点を高輝点として検出し、該高輝点の方向と前記反射体の方向とを照合することで該高輝点が前記測量用ターゲットまたは前記別の測量用ターゲットからの直接反射光であるのか否か、の判定が行われる測量データ処理方法である。
（【００１１】以降は省略されています）

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