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公開番号2025129558
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-09-05
出願番号2024026268
出願日2024-02-26
発明の名称寸法計測管理システム及び寸法計測管理方法
出願人株式会社日立製作所
代理人ポレール弁理士法人
主分類G01B 21/04 20060101AFI20250829BHJP(測定;試験)
要約【課題】本発明の目的は、寸法計測の経済性向上が可能な寸法計測管理システム及び寸法計測管理方法を提供することにある。
【解決手段】本発明の寸法計測管理システムは、対象部材の設計情報から寸法の計測対象となる形状情報を抽出する情報抽出部と、抽出された形状情報から計測座標を算出する計測座標算出部と、前記計測座標算出部で算出された前記計測座標と寸法計測機器の性能情報に基づき、模擬計測データを作成する模擬計測データ生成部と、前記模擬計測データ生成部で生成された模擬計測データを処理して計測誤差を算出する計測誤差算出部と、前記計測誤差と計測座標の公差とを比較する計測判断部とを有することを特徴とする。
【選択図】図1
特許請求の範囲【請求項１】
対象部材の設計情報から寸法の計測対象となる形状情報を抽出する情報抽出部と、
前記情報抽出部で抽出された前記形状情報から計測座標を算出する計測座標算出部と、
前記計測座標算出部で算出された前記計測座標と寸法計測機器の性能情報に基づき、模擬計測データを作成する模擬計測データ生成部と、
前記模擬計測データ生成部で生成された前記模擬計測データを処理して計測誤差を算出する計測誤差算出部と、前記計測誤差算出部で算出された前記計測誤差と前記計測座標算出部で算出された前記計測座標の公差とを比較する計測判断部とを有することを特徴とする寸法計測管理システム。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
請求項１に記載の寸法計測管理システムにおいて、
前記寸法計測機器の性能情報を格納し、前記模擬計測データ生成部に前記寸法計測機器の性能情報を送信可能な計測機器データベースを備えたことを特徴とする寸法計測管理システム。
【請求項３】
請求項１に記載の寸法計測管理システムにおいて、
前記寸法計測機器の性能情報は、計測不確かさ情報又は計測誤差情報を含むことを特徴とする寸法計測管理システム。
【請求項４】
請求項１に記載の寸法計測管理システムにおいて、
前記形状情報は、前記対象部材の計測対象となる輪郭又は表面であることを特徴とする寸法計測管理システム。
【請求項５】
請求項１に記載の寸法計測管理システムにおいて、
前記計測判断部は、前記計測誤差と前記計測座標の公差とを比較し、測定可否又は測定点数を判断することを特徴とする寸法計測管理システム。
【請求項６】
請求項１に記載の寸法計測管理システムにおいて、
前記模擬計測データ生成部での模擬計測データの生成を複数回行うことを特徴とする寸法計測管理システム。
【請求項７】
請求項１に記載の寸法計測管理システムにおいて、
前記計測誤差算出部では、計測機器の計測不確かさ又は前記計測誤差を所定範囲として
その範囲内に乱数を加え、模擬計測データを生成することを特徴とする寸法計測管理システム。
【請求項８】
対象部材の設計情報から寸法の計測対象となる形状情報を抽出し、
抽出された前記形状情報から計測座標を算出し、
算出された前記計測座標と寸法計測機器の性能情報に基づき、模擬計測データを作成し、
生成された前記模擬計測データを処理して計測誤差を算出し、前記計測誤差と前記計測座標の公差とを比較することを特徴とする寸法計測管理方法。
【請求項９】
請求項８に記載の寸法計測管理方法において、
前記計測誤差と前記計測座標の公差とを比較し、測定可否又は測定点数を判断することを特徴とする寸法計測管理方法。
【請求項１０】
請求項８に記載の寸法計測管理方法において、
前記模擬計測データの生成を複数回行うことを特徴とする寸法計測管理方法。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、寸法計測管理システム及び寸法計測管理方法に関する。
続きを表示（約 1,300 文字）【背景技術】
【０００２】
ものづくりでは幾何公差管理が一般化している。幾何形状の計測精度は、計測器の精度ではなく、取得したデータを処理した結果で決まるため、何点で計測するかが重要となる。また、計測器の普及で大量のデータを取得することが容易になった一方で、必要以上のデータ取得により計測時間、データ処理時間、データ保管容量が増加する傾向にある。
【０００３】
これは、結果として計測コストの増加につながる。そのため、要求精度に見合った手法、点数で合理的に計測することが重要となる。
【０００４】
特許文献１には、ワーク計測装置として、ワークの画像を表示する表示部と、ワークの画像に対する計測対象の指定を受け付け、指定された計測対象に対応する計測対象構造を検出する計測対象取得部と、ワークの画像に対する計測項目の指定を受け付ける計測項目設定部と、計測対象構造に対して、計測項目設定部によって指定された計測項目に対応する計測点及びアプローチ点と、計測点及びアプローチ点を含む計測経路とが設定された計測プログラムを生成する計測プログラム生成部とを備える技術が開示されている。
【０００５】
特許文献２には、シミュレーション装置として、形状計測対象を撮像するカメラと、前記カメラにより取得された画像から前記形状計測対象の特徴点を抽出する第１抽出部と、計算機上において、前記形状計測対象に対応する仮想対象と前記カメラに対応する仮想カメラとを生成する生成部と、前記仮想カメラにより取得された仮想画像から前記仮想対象の特徴点を抽出する第２抽出部と、前記第１抽出部が抽出した第１特徴点と前記第２抽出部が抽出した第２特徴点との差異に基づいて、前記生成部が前記仮想対象を生成するための数式パラメータを修正する修正部と、を備える技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
特開２０２０－０１７１１１号公報
特開２０１８－０７７１６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１は、映し出された画像で、計測対象を抽出、計測項目の提示、提示された項目の中から必要な項目を選択するという技術であり、計測可否については考慮されていない。
【０００８】
特許文献２は、予め計測対象の形状（仮想形状）を用意しておき、映し出された画像から対象の特徴点を抽出して、カメラの撮像方向を類推し、予め用意しておいた仮想形状を補正し、補正後の仮想形状と計測結果を比較して測定するという技術であり、計測可否については考慮されていない。
【０００９】
ものづくりの上流の設計段階で寸法の計測可否を判断し、計測困難な部位があれば、設計段階で再検討・対策し、下流の製造・品証段階での手戻り防止や追加検討などを回避し、工程遅延や計測コストの上振れを防止することが望まれる。
【００１０】
本発明の目的は、寸法計測の経済性向上が可能な寸法計測管理システム及び寸法計測管理方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
（【００１１】以降は省略されています）

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