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公開番号2025015421
公報種別公開特許公報(A)
公開日2025-01-30
出願番号2024074789
出願日2024-05-02
発明の名称半導体装置
出願人三星電子株式会社,Samsung Electronics Co.,Ltd.
代理人個人,個人
主分類H10D 84/85 20250101AFI20250123BHJP()
要約【課題】裏面電源供給網(Backside Power Delivery Network;BSPDN)を含む半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、互いに反対側になる第1面および第2面を含む基板、基板の第1面上の第1活性パターン、第1活性パターンと交差する第1ゲート構造体、および基板の第2面上に、互いに同一レベルに配置される第1裏面配線パターンおよび第2裏面配線パターンを含み、第1裏面配線パターンは、第1方向にそれぞれ延びる第1延長部および第2延長部と、第1方向と交差する第2方向に延びて第1延長部と第2延長部を連結する連結部を含み、第2裏面配線パターンは、第2方向で第1延長部から離隔し、第1方向で連結部から離隔する。
【選択図】図2
特許請求の範囲【請求項1】
互いに反対側になる第1面および第2面を含む基板;
前記基板の前記第1面上の第1活性パターン;
前記第1活性パターンと交差する第1ゲート構造体;および
前記基板の前記第2面上に、互いに同一レベルに配置される第1裏面配線パターンおよび第2裏面配線パターンを含み、
前記第1裏面配線パターンは、第1方向にそれぞれ延びる第1延長部および第2延長部と、前記第1方向と交差する第2方向に延びて前記第1延長部と前記第2延長部を連結する連結部を含み、
前記第2裏面配線パターンは、前記第2方向で前記第1延長部から離隔し、前記第1方向で前記連結部から離隔する、半導体装置。
続きを表示(約 1,300 文字)【請求項2】
前記基板を貫通して、前記第1活性パターンの第1ソース/ドレイン領域と前記第1延長部を連結する第1裏面ソース/ドレインコンタクトをさらに含む、請求項1に記載の半導体装置。
【請求項3】
前記基板の前記第1面上に、前記第1活性パターンと並んで延び、前記第1ゲート構造体と交差する第2活性パターン;および
前記基板を貫通して、前記第2活性パターンの第2ソース/ドレイン領域と前記第2裏面配線パターンを連結する第2裏面ソース/ドレインコンタクトをさらに含む、請求項2に記載の半導体装置。
【請求項4】
前記基板の前記第1面上に、前記第1活性パターンと並んで延びる第2活性パターン;
前記第2活性パターンと交差する第2ゲート構造体;および
前記基板を貫通して、前記第2活性パターンの第2ソース/ドレイン領域と前記第2延長部を連結する第2裏面ソース/ドレインコンタクトをさらに含む、請求項2に記載の半導体装置。
【請求項5】
前記基板の前記第1面上に、互いに同一レベルに配置される第1前面配線パターンおよび第2前面配線パターンをさらに含み、
前記第1前面配線パターンは前記第1方向に延び、
前記第2前面配線パターンは前記第2方向で前記第1前面配線パターンから離隔する、請求項1に記載の半導体装置。
【請求項6】
前記第1ゲート構造体と並んで延び、前記第1活性パターンと交差する第2ゲート構造体;
前記第1ゲート構造体と前記第2ゲート構造体の間に、前記第1活性パターンと連結される第1ソース/ドレインコンタクト;および
前記第1ソース/ドレインコンタクトとの間に前記第2ゲート構造体が配置され、前記第1活性パターンと連結される第2ソース/ドレインコンタクトをさらに含み、
前記第2ゲート構造体は前記第2前面配線パターンと連結され、
前記第2ソース/ドレインコンタクトは前記第1前面配線パターンと連結される、請求項5に記載の半導体装置。
【請求項7】
前記第2裏面配線パターンは、前記第2方向で前記第1延長部と前記第2延長部の間に介在する、請求項1に記載の半導体装置。
【請求項8】
前記第2延長部は前記第2方向で前記第2裏面配線パターンと非重畳する、請求項1に記載の半導体装置。
【請求項9】
前記基板の前記第2面上に、前記第1裏面配線パターンおよび前記第2裏面配線パターンと同一レベルに配置される第3裏面配線パターンをさらに含み、
前記第3裏面配線パターンは、前記第2方向で前記第2延長部から離隔し、前記第1方向で前記連結部から離隔し、
前記連結部は前記第2裏面配線パターンと前記第3裏面配線パターンの間に介在する、請求項1に記載の半導体装置。
【請求項10】
前記基板の前記第2面上に、前記基板から前記第1裏面配線パターンおよび前記第2裏面配線パターンより離隔する第3裏面配線パターン;および
前記第2裏面配線パターンと前記第3裏面配線パターンを連結する裏面ビアパターンをさらに含む、請求項1に記載の半導体装置。
(【請求項11】以降は省略されています)

発明の詳細な説明【技術分野】
【0001】
本発明は半導体装置に関する。より具体的には、裏面電源供給網(Backside Power Delivery Network;BSPDN)を含む半導体装置に関する。
続きを表示(約 2,800 文字)【背景技術】
【0002】
電子産業における半導体装置は、小型化、多機能化および/または低い製造単価などの特性により、重要な要素として脚光を浴びている。半導体装置は、論理データを保存する半導体記憶装置、論理データを演算処理する半導体論理装置、および記憶要素と論理要素を含むハイブリッド(hybrid)半導体装置などに区分することができる。
【0003】
電子産業が高度に発展するにつれ、半導体装置の特性に対する要求がますます増加している。例えば、半導体装置に対する高信頼性、高速化および/または多機能化などに対する要求がますます増加している。このような求められる特性を満たすために半導体装置内の構造はますます複雑になり、かつ高集積化されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明が解決しようとする技術的課題は、設計自由度および集積度が向上した半導体装置を提供することにある。
【0005】
本発明の技術的課題は以上で言及した技術的課題に制限されず、言及されていないまた他の技術的課題は以下の記載から当業者に明確に理解されるものである。
【課題を解決するための手段】
【0006】
前記技術的課題を達成するためのいくつかの実施形態による半導体装置は、互いに反対側になる第1面および第2面を含む基板、基板の第1面上の第1活性パターン、第1活性パターンと交差する第1ゲート構造体、および基板の第2面上に、互いに同一レベルに配置される第1裏面配線パターンおよび第2裏面配線パターンを含み、第1裏面配線パターンは、第1方向にそれぞれ延びる第1延長部および第2延長部と、第1方向と交差する第2方向に延びて第1延長部と第2延長部を連結する連結部を含み、第2裏面配線パターンは、第2方向で第1延長部から離隔し、第1方向で連結部から離隔する。
【0007】
前記技術的課題を達成するためのいくつかの実施形態による半導体装置は、互いに反対側になる第1面および第2面を含む基板、基板の第1面上に、並んで延びる第1活性パターンおよび第2活性パターン、第1活性パターンおよび第2活性パターンと交差する第1ゲート構造体、基板の第2面上に、互いに同一レベルに配置され、互いに離隔する第1ないし第3裏面配線パターン、第1活性パターンの第1ソース/ドレイン領域と第1裏面配線パターンを連結する第1裏面ソース/ドレインコンタクト、第2活性パターンの第2ソース/ドレイン領域と第2裏面配線パターンを連結する第2裏面ソース/ドレインコンタクト、基板の第2面上に、基板から第1ないし第3裏面配線パターンより離隔する第4裏面配線パターン、および第2裏面配線パターンと第4裏面配線パターンを連結する第1裏面ビアパターンを含み、第1裏面配線パターンは、第1方向にそれぞれ延びる第1延長部および第2延長部と、第1方向と交差する第2方向に延びて第1延長部と第2延長部を連結する連結部を含み、連結部は、第1方向で第2裏面配線パターンと第3裏面配線パターンの間に介在する。
【0008】
前記技術的課題を達成するためのいくつかの実施形態による半導体装置は、互いに反対側になる第1面および第2面を含む基板、基板の第1面上の第1活性パターン、互いに並んで延び、第1活性パターンとそれぞれ交差する第1ゲート構造体および第2ゲート構造体、第1ゲート構造体と第2ゲート構造体の間に、第1活性パターンと連結される第1ソース/ドレインコンタクト、基板の第2面上に、互いに同一レベルに配置され、互いに離隔する第1ないし第3裏面配線パターン、第1ソース/ドレインコンタクトとの間に第1ゲート構造体が配置され、第1活性パターンと第1裏面配線パターンを連結する第1裏面ソース/ドレインコンタクト、第1ソース/ドレインコンタクトとの間に第2ゲート構造体が配置され、第1活性パターンと第2裏面配線パターンを連結する第2裏面ソース/ドレインコンタクト、基板の第2面上に、基板から第1ないし第3裏面配線パターンより離隔する第4裏面配線パターン、および第2裏面配線パターンと第4裏面配線パターンを連結する第1裏面ビアパターンを含み、第1裏面配線パターンは、第1方向にそれぞれ延びる第1延長部および第2延長部と、第1方向と交差する第2方向に延びて第1延長部と第2延長部を連結する連結部を含み、連結部は、第1方向で第2裏面配線パターンと第3裏面配線パターンの間に介在する。
【0009】
前記技術的課題を達成するためのいくつかの実施形態による半導体装置は、互いに反対側になる第1面および第2面を含む基板、基板の第1面上に、互いに並んで延びる第1ないし第4活性パターン、第1活性パターンおよび第2活性パターンと交差する第1ゲート構造体、第1ゲート構造体と並んで延び、第1活性パターンと交差する第2ゲート構造体、第1ゲート構造体から離隔し、第4活性パターンと交差する第3ゲート構造体、第3ゲート構造体と並んで延び、第3活性パターンおよび第4活性パターンと交差する第4ゲート構造体、第1ゲート構造体と第2ゲート構造体の間に、第1活性パターンと第2活性パターンを連結する第1ソース/ドレインコンタクト、第3ゲート構造体と第4ゲート構造体の間に、第3活性パターンと第4活性パターンを連結する第2ソース/ドレインコンタクト、第1ゲート構造体と第2ソース/ドレインコンタクトを連結する第1共有コンタクト、第4ゲート構造体と第1ソース/ドレインコンタクトを連結する第2共有コンタクト、第1ソース/ドレインコンタクトとの間に第1ゲート構造体が配置され、基板を貫通して第1活性パターンと連結される第1裏面ソース/ドレインコンタクト、第2ソース/ドレインコンタクトとの間に第4ゲート構造体が配置され、基板を貫通して第4活性パターンと連結される第2裏面ソース/ドレインコンタクト、および基板の第2面上に、互いに同一レベルに配置され、互いに離隔する第1ないし第3裏面配線パターンを含み、第1裏面配線パターンは、第1方向にそれぞれ延びる第1延長部および第2延長部と、第1方向と交差する第2方向に延びて第1延長部と第2延長部を連結する連結部を含み、連結部は、第1方向で第2裏面配線パターンと第3裏面配線パターンの間に介在し、第1裏面ソース/ドレインコンタクトおよび第2裏面ソース/ドレインコンタクトは第1裏面配線パターンと連結される。
【0010】
その他実施形態の具体的な内容は詳細な説明および図面に含まれている。
【図面の簡単な説明】
(【0011】以降は省略されています)

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