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公開番号2024128810
公報種別公開特許公報(A)
公開日2024-09-24
出願番号2023038040
出願日2023-03-10
発明の名称検査装置及び対象物検知方法
出願人オムロン株式会社
代理人弁理士法人秀和特許事務所
主分類G01N 21/956 20060101AFI20240913BHJP(測定;試験)
要約【課題】搬送部に支持されて搬送される対象物を確実に検知する。
【解決手段】対象物の外観を検査する検査装置であって、前記対象物を支持し、前記検査装置内を搬送する対象物搬送部と、前記対象物搬送部に支持された前記対象物を検知する対象物検知部と、前記対象物が搬送される方向に沿って、搬送される該対象物が移動すべき領域の少なくとも一部を含む検知対象領域を撮像する撮像部と、前記撮像部を移動させる移動部と、を備え、前記対象物検知部は、前記撮像部によって撮像された画像を処理する画像処理部を含み、前記画像を処理して取得された情報に基づいて、前記対象物搬送部に支持された前記対象物を検知することを特徴とする。
【選択図】図3
特許請求の範囲【請求項１】
対象物の外観を検査する検査装置であって、
前記対象物を支持し、前記検査装置内を搬送する対象物搬送部と、
前記対象物搬送部に支持された前記対象物を検知する対象物検知部と、
前記対象物の搬送方向に沿って、搬送される該対象物が移動すべき領域の少なくとも一部を含む検知対象領域を撮像する撮像部と、
前記撮像部を移動させる移動部と、
を備え、
前記対象物検知部は、前記撮像部によって撮像された画像を処理する画像処理部を含み、前記画像を処理して取得された情報に基づいて、前記対象物搬送部に支持された前記対象物を検知することを特徴とする検査装置。
続きを表示（約 1,000 文字）【請求項２】
前記検知対象領域は、前記検査装置において実行される検査プログラムに関連付けられた前記対象物の前記搬送方向の長さに基づいて設定されることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記検知対象領域は、前記検査装置において検査可能な前記対象物のうち前記搬送方向の長さが最短である該対象物の該搬送方向の長さに基づいて設定されることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項４】
前記検知対象領域は、前記対象物の前記搬送方向の端部の形状に基づいて設定されることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項５】
前記情報は、前記画像に含まれる輝度に関する輝度情報であり、
前記対象物検知部は、前記輝度情報に基づいて、前記対象物搬送部に支持された前記対象物の有無を検知することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項６】
前記対象物搬送部に支持されて搬送される前記対象物によって反射又は遮断される電磁波又は音波に基づいて、前記対象物の位置を検出する位置検出部を備えたことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項７】
前記位置検出部は、前記対象物搬送部によって搬送される前記対象物の停止位置への到着を検出する到着位置検出部を含み、
前記撮像部は、前記停止位置を含む前記検知対象領域を撮像することを特徴とする請求項６に記載の検査装置。
【請求項８】
前記撮像部は、前記対象物の外観を検査するために該対象物を撮像する検査撮像部であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項９】
前記対象物検知部が前記対象物搬送部に支持された前記対象物を検知した場合に、該対象物の位置を算出する位置算出部と、
算出された前記位置に基づいて、前記対象物搬送部によって、前記対象物を所定位置まで搬送させる位置修正指示部と、
を備えたことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項１０】
前記対象物搬送部に支持されて搬送される前記対象物によって反射又は遮断される電磁波又は音波に基づいて、前記対象物の位置を検出する位置検出部を備えたことを特徴とする請求項９に記載の検査装置。
（【請求項１１】以降は省略されています）
発明の詳細な説明【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査装置及び対象物検知方法に関する。
続きを表示（約 1,700 文字）【背景技術】
【０００２】
製品又は部品などの物品の製造工程又は流通工程においては、物品の様々な検査や処理が行われる。例えば、電子回路基板の表面実装工程について考えると、プリント基板の表面にはんだペーストを印刷する工程、プリント基板上に電子部品をマウントする工程、リフロー炉によってはんだを溶融して電子部品を固着する工程などから構成される。そして、自動化が進んだラインでは、各々の工程のあいだに基板検査装置が配置され、プリント基板自体の不良、印刷不良、マウント不良、はんだ付け不良等の自動検査が行われる。中でも、プリント基板をカメラで撮影し、得られた画像を解析することで検査を行うタイプの基板外観検査装置（以下、単に「装置」ともいう。）は、非接触で高速かつ高精度な検査が行えることから、様々な種類の検査に広く利用されている。なお、以下の明細書においては電子回路基板、プリント基板をともに単に「基板」と称する場合がある。
【０００３】
ここでは、基板を支持するコンベアのベルトを回転させることにより、装置内に基板を搬入し、基板が所定位置に達したことを検出すると、コンベアを停止させる。基板が、装置内のコンベア上に在荷することを確認する方法としては、コンベアを一定時間回転し、コンベアの回転に合わせて搬送される基板が、コンベアと直角に交差して配置されたファイバセンサの光路を遮蔽することにより確認する方法が知られている（特許文献１参照）。
【０００４】
しかしながら、このような在荷検知方法では、基板が何らかの理由で、コンベアの回転に合わせて搬送されない場合（例えば、コンベアによる挟み込み、コンベアからの脱落、コンベア上での滑り等の原因が考えられる。）には、一定時間内にファイバセンサの光路を遮蔽しないため、基板が装置内で在荷状態にあるにも関わらず、基板が在荷状態にないと誤判断する。
【０００５】
また、コンベア上に、搬送に用いるベルトのひげ・ほつれと呼ばれるような異物が存在する場合には、この異物がファイバセンサの光路を遮蔽することで、装置内に基板が存在しないにも関わらず、基板が在荷状態にあると誤判断する。
【０００６】
また、基板の端部からコネクタが突出するような特徴的な部品実装がなされた基板では、基板の所定の停止位置への到着を検知するファイバセンサである到着センサが、基板端を基準としているため、突出するコネクタの先端部を基板の端部と誤検知することにより、基板が停止位置の手前で停止してしまう。
【０００７】
また、基板表面に平行なスリットが基板の端部に形成されていたり、基板の端部に幅方向の一部を切り欠いた切り欠きが形成されたりするように特徴的な形状の基板においても、到着センサの遮光が正しく動作せず、基板が停止位置を過ぎて停止してしまう。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
特許第６８８０６９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、上記のような問題に鑑みてなされたものであり、搬送部に支持されて搬送される対象物を確実に検知する技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記の課題を解決するための本発明は、
対象物の外観を検査する検査装置であって、
前記対象物を支持し、前記検査装置内を搬送する対象物搬送部と、
前記対象物搬送部に支持された前記対象物を検知する対象物検知部と、
前記対象物が搬送される方向に沿って、搬送される該対象物が移動すべき領域の少なくとも一部を含む検知対象領域を撮像する撮像部と、
前記撮像部を移動させる移動部と、
を備え、
前記対象物検知部は、前記撮像部によって撮像された画像を処理する画像処理部を含み、前記画像を処理して取得された情報に基づいて、前記対象物搬送部に支持された前記対象物を検知することを特徴とする。
（【００１１】以降は省略されています）

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